跨小芯片性能数据流式传输的制作方法

背景技术：

1、小芯片的性能通常由诊断程序来测量，该诊断程序收集并且分析在小芯片用于感兴趣的工作负载期间生成的性能数据。小芯片中的专用电路设计成检测性能相关事件并监控这些事件的发生率。因此，在监控阶段期间，小芯片的电路可以被配置为执行特定的工作负载。在这样的执行期间，性能相关事件的发生被记录并存储在存储器中。然后可以对这些存储的记录进行后处理，以提供队小芯片在工作负载下的行为的见解。由于收集诊断数据是与在小芯片上执行的其他操作同时执行的，因此它所消耗的资源应该受到限制。此外，对所收集的数据的记录需要访问存储器。在包含多个小芯片的封装布局中，并非所有小芯片都可以访问存储器，并且因此诊断数据的记录可仅限于小芯片中的一些小芯片。

技术实现思路

技术特征：

1.一种用于跨小芯片性能数据流式传输的方法，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述累加包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其中当所述计数的所述数量高于饱和阈值时，执行所述发送。

5.根据权利要求1所述的方法，其中根据基于所述小芯片总线上的可用带宽动态地确定的周期来周期性地执行所述发送。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述发送包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述接收包括：

8.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：

9.根据权利要求8所述的方法，其中根据基于所述小芯片总线上的可用带宽动态地确定的相应周期来周期性地执行所述从属小芯片通过所述小芯片总线的相应事件数据的所述发送和所述第二从属小芯片通过所述小芯片总线的相应事件数据的所述发送。

10.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：

11.根据权利要求10所述的方法，所述方法还包括：

12.一种用于跨小芯片性能数据流式传输的系统，所述系统包括：

13.根据权利要求12所述的系统，其中所述累加包括：

14.根据权利要求13所述的系统，其中当所述计数的所述数量高于饱和阈值时，执行所述发送。

15.根据权利要求12所述的系统，其中根据基于所述小芯片总线上的可用带宽动态地确定的周期来周期性地执行所述发送。

16.根据权利要求12所述的系统，其中所述指令还使所述系统：

17.根据权利要求16所述的系统，其中根据基于所述小芯片总线上的可用带宽动态地确定的相应周期来周期性地执行所述从属小芯片通过所述小芯片总线的相应事件数据的所述发送和所述第二从属小芯片通过所述小芯片总线的相应事件数据的所述发送。

18.根据权利要求12所述的系统，其中所述指令还使所述系统：

19.根据权利要求18所述的系统，其中所述指令还使所述系统：

20.一种非暂态计算机可读介质，所述非暂态计算机可读介质包括能够由至少一个处理器执行以执行用于跨小芯片性能数据流式传输的方法的指令，所述方法包括：

技术总结公开了用于跨小芯片性能数据流式传输的方法和系统。所公开的技术包括由从属小芯片累加与指示该从属小芯片的性能方面的事件相关联的事件数据；由该从属小芯片通过小芯片总线向主小芯片发送该事件数据；以及由该主小芯片将所接收的事件数据添加到事件记录，该事件记录包含先前通过该小芯片总线从该从属小芯片接收的与该事件相关联的事件数据。技术研发人员：布赖恩·布鲁萨尔,普拉维斯·古普塔,本杰明·特西恩,维德希亚纳坦·卡利亚纳孙达拉姆受保护的技术使用者：超威半导体公司技术研发日：技术公布日：2024/8/5