工业缺陷检测模型的处理方法、装置、设备及存储介质与流程

本申请涉及图像处理，特别是涉及一种工业缺陷检测模型的处理方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、缺陷检测是工业场景中保证产品质量和生产效率的重要环节，传统的手工检查方法存在主观性和低效率的问题，而基于计算机视觉和深度学习的自动化缺陷检测技术正在各种工业领域得到广泛应用，包括制造业、电子产业、汽车工业等。然而这些缺陷检测技术只适用于固定的缺陷类型和工业环境，无法在不同工业场景中迁移，缺乏通用性和泛化性。因此，探索在不同工业场景中通用的可迁移的缺陷检测技术成为十分重要的研究方向。

2、传统的工业缺陷检测方法，通常是基于transformer等工业缺陷检测模型来统一自然场景的不同模态和不同任务，以检测出工业场景中的缺陷。然而，传统的工业缺陷检测模型，容易将正常的工业数据判定为工业缺陷，存在工业缺陷检测模型的准确性较低的问题。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种工业缺陷检测模型的处理方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品，能够得到更准确的工业缺陷检测模型。

2、第一方面，本申请提供了一种工业缺陷检测模型的处理方法，包括：

3、获取提示图像和待检测图像；提示图像和待检测图像均包括缺陷掩码和相同类别的物体，提示图像包括至少两个不同的工业缺陷；

4、将提示图像中的缺陷掩码映射为第一彩色图像，并对第一彩色图像进行遮挡，得到第一遮挡图像；

5、将待检测图像中的缺陷掩码映射为第二彩色图像，并对第二彩色图像进行遮挡，得到第二遮挡图像；

6、基于第一遮挡图像、第二遮挡图像、提示图像及待检测图像，对待训练的工业缺陷检测模型进行训练，得到第一目标工业缺陷检测模型。

7、第二方面，本申请提供了一种工业缺陷检测模型的处理装置，包括：

8、获取模块，用于获取提示图像和待检测图像；提示图像和待检测图像均包括缺陷掩码和相同类别的物体，提示图像包括至少两个不同的工业缺陷；

9、遮挡模块，用于将提示图像中的缺陷掩码映射为第一彩色图像，并对第一彩色图像进行遮挡，得到第一遮挡图像；

10、遮挡模块，还用于将待检测图像中的缺陷掩码映射为第二彩色图像，并对第二彩色图像进行遮挡，得到第二遮挡图像；

11、训练模块，用于基于第一遮挡图像、第二遮挡图像、提示图像及待检测图像，对待训练的工业缺陷检测模型进行训练，得到第一目标工业缺陷检测模型。

12、第三方面，本申请提供了一种计算机设备，计算机设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行该计算机程序时实现上述的方法中的步骤。

13、第四方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的方法中的步骤。

14、第五方面，本申请提供了一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现本上述的方法中的步骤。

15、上述工业缺陷检测模型的处理方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品，提示图像包括至少两个不同的工业缺陷，则工业缺陷检测模型可以通过彩色图像中对应的颜色映射关系学习到工业缺陷和背景之间的区分性，以及不同工业缺陷的区分性，避免提示图像中只存在单一工业缺陷而导致模型退化成前背景分割任务，因此，基于第一遮挡图像、第二遮挡图像、提示图像及待检测图像，可以更准确地对待训练的工业缺陷检测模型进行训练，得到训练完成且更准确的第一目标工业缺陷检测模型，该第一目标工业缺陷检测模型可以更准确地检测出图像中的工业缺陷。

技术特征：

1.一种工业缺陷检测模型的处理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取提示图像，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取缺陷切片队列，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一遮挡图像、所述第二遮挡图像、所述提示图像及所述待检测图像，对待训练的工业缺陷检测模型进行训练，得到第一目标工业缺陷检测模型之后，所述方法还包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述全局特征、所述第一遮挡图像、所述第二遮挡图像、所述提示图像及所述待检测图像，对所述新的第一目标工业缺陷检测模型进行训练，得到第二目标工业缺陷检测模型，包括：

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

7.一种工业缺陷检测模型的处理装置，其特征在于，包括：

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，在所述获取提示图像方面，所述获取模块具体用于：

9.一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

技术总结本申请涉及一种工业缺陷检测模型的处理方法、装置、设备及存储介质。方法包括：获取提示图像和待检测图像；提示图像和待检测图像均包括缺陷掩码和相同类别的物体，提示图像包括至少两个不同的工业缺陷；将提示图像中的缺陷掩码映射为第一彩色图像，并对第一彩色图像进行遮挡，得到第一遮挡图像；将待检测图像中的缺陷掩码映射为第二彩色图像，并对第二彩色图像进行遮挡，得到第二遮挡图像；基于第一遮挡图像、第二遮挡图像、提示图像及待检测图像，对待训练的工业缺陷检测模型进行训练，得到第一目标工业缺陷检测模型。采用本申请，能够得到更准确的工业缺陷检测模型。技术研发人员：冯嘉佩,陈鹏光,徐开元,刘枢,吕江波,沈小勇受保护的技术使用者：深圳思谋信息科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/12