测色装置和控制方法与流程

本发明涉及测色装置和控制方法。

背景技术：

1、以往，使用了对测色对象物进行测色的各种测色装置。其中，存在能对形成有块和为了掌握该块的位置等使用的被检测部的测色对象物的该块进行测色的测色装置。例如，在专利文献1中公开了能对为了进行精度高的测色而形成有第一基准线等的测色对象物的块进行测色的测色装置。通过掌握第一基准线的倾斜度，能够掌握测色对象物的倾斜度。另外，在专利文献2中，公开了能装拆地安装对被测定物进行测色的测色计的自动测色装置。专利文献2的自动测色装置是作为测色部的测色计以相对于作为测色对象物的被测定物不接触的状态进行测色的测色装置。

2、专利文献1：日本特开2000-241248号公报

3、专利文献2：日本特开2016-212001号公报

4、但是，专利文献1的测色装置在掌握第一基准线的倾斜度时必须使测色器移动超过第一基准线的延伸设置方向的长度，因此测色装置大型化。需要说明的是，在专利文献2的自动测色装置中，即使在采用专利文献1的技术的情况下，使测色计沿着测色对象物的测色面移动的区域也保持较大，因此测色装置大型化。因此，在现有的测色装置中，难以不伴随着测色装置的大型化地对形成于测色对象物的块进行测色而不发生位置偏移。

技术实现思路

1、用于解决上述问题的本发明的测色装置是能安装对形成有块和用于掌握所述块的位置的被检测部的测色对象物的所述块进行测色的测色器的测色装置，其特征在于，具备：支承台，支承所述测色对象物；滑架，支承所述测色器；扫描机构部，在所述支承台上扫描所述滑架；以及控制部，控制所述扫描机构部，所述滑架具有：支承部，是支承所述测色器的所述支承部，并具有在所述测色器被所述支承部支承的状态下使所述测色器的测色部从所述滑架露出的开口部；以及第一检测部和第二检测部，检测所述被检测部，并夹着所述开口部设置，所述控制部根据所述第一检测部和所述第二检测部的检测结果来确定所述块的位置。

2、另外，用于解决上述问题的本发明的控制方法是控制测色装置的控制方法，所述测色装置能安装对形成有块和用于掌握所述块的位置的被检测部的测色对象物的所述块进行测色的测色器，且具备：支承台，支承所述测色对象物；滑架，支承所述测色器；以及扫描机构部，在所述支承台上扫描所述滑架，所述控制方法的特征在于，所述滑架具有：支承部，是支承所述测色器的所述支承部，并具有在所述测色器被所述支承部支承的状态下使所述测色器的测色部从所述滑架露出的开口部；以及第一检测部和第二检测部，检测所述被检测部，并夹着所述开口部设置，根据所述第一检测部和所述第二检测部的检测结果来确定所述块的位置。

技术特征：

1.一种测色装置，其特征在于，能够安装对形成有块和用于掌握所述块的位置的被检测部的测色对象物的所述块进行测色的测色器，所述测色装置具备：

2.根据权利要求1所述的测色装置，其特征在于，

3.根据权利要求1或2所述的测色装置，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的测色装置，其特征在于，

5.根据权利要求1或2所述的测色装置，其特征在于，

6.一种控制方法，其特征在于，是控制测色装置的控制方法，所述测色装置是能够安装对形成有块和用于掌握所述块的位置的被检测部的测色对象物的所述块进行测色的测色器的测色装置，并具备：

技术总结本发明涉及测色装置和控制方法，不伴随着测色装置的大型化地容易对形成于测色对象物的块进行测色而不发生位置偏移。能安装对测色对象物(10)的块(11)进行测色的测色器(100)的测色装置(1)具备：支承台(41)，支承测色对象物(10)；滑架(30)，支承测色器(100)；扫描机构部(20)，在支承台(41)上扫描滑架(30)；以及控制部(52)，控制扫描机构部(20)，滑架(30)具有：支承部(310)，具有在测色器(100)被支承的状态下使测色部(122)从滑架露出的开口部(302a)；以及第一检测部(37)和第二检测部(38)，夹着开口部设置，控制部(52)根据由第一检测部(37)和第二检测部(38)对被检测部(12)的检测结果来确定块(11)的位置。技术研发人员：森山雅英,宫川正好,林彻受保护的技术使用者：精工爱普生株式会社技术研发日：技术公布日：2024/9/12