一种适应于切筋工序多封装外形的6面检验治具的制作方法

本技术属于半导体封装测试辅助装置，具体涉及一种适应于切筋工序多封装外形的6面检验治具。

背景技术：

1、产品在切筋工序的加工过程中需要对产品的外观质量进行检验，达到内部的规范要求才可以作业，因此需要对产品的六个面进行检验，合格后才可以release生产。目前行业里传统的作业方法，员工到机台上拿取需要检验的产品，在显微镜下用镊子夹住产品进行检验。

2、然而传统作业方法会存在以下缺点：1、用镊子夹取固定在显微镜下检验，镊子夹取不容易固定，有时候会存在夹具固定不好会出现不固定、歪斜导致检验不准确，会对产品质量出现漏判的现象，导致大面积质量异常；2、传统作业方法容易导致产品表面划伤的质量异常；3、传统作业方法由于产品固定不好，人员检验效率比较低，生产线机台会因等待检验结果而导致停机时间较长，影响产能；4、传统作业方法会因镊子夹取产品不好，导致产品外引脚变形，出现质量异常的情况；5、传统作业方法会因镊子夹不住产品导致产品落料，影响产品的合格率。

技术实现思路

1、针对现有技术中存在的上述不足之处，本实用新型提供了一种适应于切筋工序多封装外形的6面检验治具，用以解决上述现有的问题。

2、为了解决上述技术问题，本实用新型采用了如下技术方案：

3、一种适应于切筋工序多封装外形的6面检验治具，包括底座和与底座可拆卸连接的治具，所述底座内开设有多个治具放置仓，所述治具上依次开设有产品左侧观测槽、产品正面观测槽、产品背面观测槽、产品右侧观测槽和产品前后侧观测槽。

4、进一步，所述产品前后侧观测槽有多个，且等距分布于治具上。

5、本实用新型与现有技术相比，具有如下有益效果：

6、1.使用本实用新型，产品放在对应的观测槽内，检验人员可以清晰的判断产品的6个面的外观情况，不会出现质量误判的情况；

7、2.使用本实用新型，产品正表面的打印面不会接触到任何物体，不会出现产品表面划伤的情况。

8、3.使用本实用新型，产品很容易固定，在显微镜下操作方便，大大提升了其检验效率。

9、4.使用本实用新型，大大缩短了检验的等待时间，同时缩短了生产线停机的等待时间，进一步提升了设备利用率以及产品流程的效率。

10、5.使用本实用新型，可降低产品落料的风险，避免引脚变形的情况发生，大大提高了产品合格率。

技术特征：

1.一种适应于切筋工序多封装外形的6面检验治具，其特征在于：包括底座和与底座可拆卸连接的治具，所述底座内开设有多个治具放置仓，所述治具上依次开设有产品左侧观测槽、产品正面观测槽、产品背面观测槽、产品右侧观测槽和产品前后侧观测槽。

2.如权利要求1所述的一种适应于切筋工序多封装外形的6面检验治具，其特征在于：所述产品前后侧观测槽有多个，且等距分布于治具上。

技术总结本技术属于半导体封装测试辅助装置技术领域，具体涉及一种适应于切筋工序多封装外形的6面检验治具，包括底座和与底座可拆卸连接的治具，所述底座内开设有多个治具放置仓，所述治具上依次开设有产品左侧观测槽、产品正面观测槽、产品背面观测槽、产品右侧观测槽和产品前后侧观测槽，本技术可避免产品表面划伤、外引脚变形、产品落料以及作业效率低的情况发生，大大提高了其检验效率。技术研发人员：陈李广,仲兆文,潘虹受保护的技术使用者：上海芯哲微电子科技股份有限公司技术研发日：20231208技术公布日：2024/11/7