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  • 一种回归式头影地标检测方法

    一种回归式头影地标检测方法

    本发明实施例涉及人工智能,尤其涉及一种回归式头影地标检测方法。背景技术:1、x线头影测量可用于:1.研究颅面生长发育、2.牙颌、颅面畸形的诊断分析、3.确定错畸形的矫治设计、4.研究矫治过程中及矫治后......

    一种回归式头影地标检测方法2024-07-31 99