一种基于相位统计的电离层测高仪O波与X波分离方法与流程

本发明属于电离层探测，具体地说，尤其涉及一种基于相位统计的电离层测高仪o波与x波分离方法。背景技术：1、电离层测高仪是用高频无线电波从地面对电离层进行常规观测的设备，它垂直向上发射频率随时间变化的无线......

2024-08-22 17

#电离层#测高仪#相位