一种视场选通型遮光罩

本发明涉及一种遮光罩，具体涉及一种视场选通型遮光罩。背景技术：1、太阳、地表及月亮引起的杂光，是影响应用于空间碎片探测的同轴折反式系统成像质量的重要因素，为减小系统背景辐射的影响，通常需要设置遮光罩来......

2024-06-21 65

#视场#遮光罩#选通型