本发明涉及一种遮光罩,具体涉及一种视场选通型遮光罩。背景技术:1、太阳、地表及月亮引起的杂光,是影响应用于空间碎片探测的同轴折反式系统成像质量的重要因素,为减小系统背景辐射的影响,通常需要设置遮光罩来......