在计算机断层扫描中使用辐射检测器的成像方法与流程

背景技术

0、背景技术：

1、辐射检测器是一种测量辐射性质的装置。性质的示例可以包括辐射的强度、相位和偏振的空间分布。辐射可以是已经与物体相互作用的辐射。例如，由辐射检测器测量的辐射可以是已经穿透物体的辐射。辐射可以是电磁辐射，例如红外光、可见光、紫外光、x射线或γ射线。辐射也可以是其它类型，例如α射线和β射线。成像系统可以包括一个或多个图像传感器，每个图像传感器可以具有一个或多个辐射检测器。

技术实现思路

0、技术实现要素：

1、本文公开了一种方法，所述方法包括：拍摄物体的第一多个2d(二维)图像，仅对波长短于或等于第一波长的入射光子进行计数；由所述第一多个2d图像重建所述物体的第一3d(三维)图像；拍摄所述物体的第二多个2d图像，仅对波长短于或等于第二波长的入射光子进行计数，其中所述第二波长短于所述第一波长；由所述第二多个2d图像重建所述物体的第二3d图像；以及由所述第一3d图像和所述第二3d图像生成所述物体的第三3d图像。

2、在一方面，在所述拍摄所述第一多个2d图像中计数的所述入射光子是x射线光子，并且，在所述拍摄所述第二多个2d图像中计数的所述入射光子是x射线光子。

3、在一方面，化学元素的发射峰值在所述第一波长与所述第二波长之间。

4、在一方面，在所述第一波长与所述第二波长之间没有所述化学元素的其他发射峰值。

5、在一方面，基于所述第一3d图像与所述第二3d图像之间的差异来生成所述第三3d图像。

6、在一方面，所述第三3d图像是所述第一3d图像与所述第二3d图像之间的差异。

7、在一方面，所述拍摄所述第一多个2d图像包括：从辐射吸收层的电极的电压的绝对值等于或超过第一阈值的绝对值时开始时间延迟；在所述时间延迟期间激活第二电路；以及如果所述电压的绝对值等于或超过第二阈值的绝对值，则将入射在所述辐射吸收层上的光子的计数增加一，其中，如果其波长等于所述第一波长的光子入射在所述辐射吸收层上，则所述入射光子会使得所述电压的所述绝对值至多为所述第二阈值的绝对值。

8、在一方面，所述拍摄所述第一多个2d图像还包括在所述时间延迟期满时测量所述电压。

9、在一方面，所述拍摄所述第一多个2d图像还包括基于所述时间延迟期满时的所述电压的值来确定光子能量。

10、在一方面，在所述时间延迟期满时，所述电压的变化率基本上为零。

11、在一方面，在所述时间延迟期满时，所述电压的变化率基本上为非零。

12、在一方面，所述激活所述第二电路是在所述时间延迟开始或期满时。

13、在一方面，所述第二电路被配置为将所述电压的所述绝对值与所述第二阈值的绝对值进行比较。

14、在一方面，所述拍摄所述第一多个2d图像还包括在所述时间延迟开始或期间去激活第一电路。

15、在一方面，所述第一电路被配置为将所述电压的所述绝对值与所述第一阈值的绝对值进行比较。

16、在一方面，所述拍摄所述第一多个2d图像还包括：在所述时间延迟期满时或在所述电压的所述绝对值等于或超过所述第二阈值的绝对值时，去激活所述第二电路。

17、在一方面，所述拍摄所述第二多个2d图像包括：从所述电压的所述绝对值等于或超过所述第一阈值的绝对值时开始所述时间延迟；在所述时间延迟期间激活所述第二电路；以及如果所述电压的所述绝对值等于或超过第三阈值的绝对值，则将入射在所述辐射吸收层上的光子的计数增加一，其中，如果其波长等于所述第二波长的光子入射在所述辐射吸收层上，则所述入射光子会使得所述电压的所述绝对值至多为所述第三阈值的绝对值。

18、在一方面，所述第二电路电连接到所述电极。

19、在一方面，半导体x射线检测器包括所述第二电路和所述辐射吸收层。

20、在一方面，所述拍摄所述第一多个2d图像包括使用所述半导体x射线检测器拍摄所述第一多个2d图像，以及所述拍摄所述第二多个2d图像包括使用所述半导体x射线检测器来拍摄所述第二多个2d图像。

技术特征：

1.一种方法，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，

3.根据权利要求1所述的方法，其中，化学元素的发射峰值在所述第一波长与所述第二波长之间。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，在所述第一波长与所述第二波长之间没有所述化学元素的其他发射峰值。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，基于所述第一3d图像与所述第二3d图像之间的差异来生成所述第三3d图像。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述第三3d图像是所述第一3d图像与所述第二3d图像之间的差异。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述拍摄所述第一多个2d图像包括：

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述拍摄所述第一多个2d图像还包括在所述时间延迟期满时测量所述电压。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，所述拍摄所述第一多个2d图像还包括基于所述时间延迟期满时的所述电压的值来确定光子能量。

10.根据权利要求7所述的方法，其中，在所述时间延迟期满时，所述电压的变化率基本上为零。

11.根据权利要求7所述的方法，其中，在所述时间延迟期满时，所述电压的变化率基本上为非零。

12.根据权利要求7所述的方法，其中，所述激活所述第二电路是在所述时间延迟开始或期满时。

13.根据权利要求7所述的方法，其中，所述第二电路被配置为将所述电压的所述绝对值与所述第二阈值的绝对值进行比较。

14.根据权利要求7所述的方法，其中，所述拍摄所述第一多个2d图像还包括在所述时间延迟开始或期间去激活第一电路。

15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述第一电路被配置为将所述电压的所述绝对值与所述第一阈值的绝对值进行比较。

16.根据权利要求7所述的方法，其中，所述拍摄所述第一多个2d图像还包括：在所述时间延迟期满时或在所述电压的所述绝对值等于或超过所述第二阈值的绝对值时，去激活所述第二电路。

17.根据权利要求7所述的方法，其中，所述拍摄所述第二多个2d图像包括：

18.根据权利要求17所述的方法，其中，所述第二电路电连接到所述电极。

19.根据权利要求17所述的方法，其中，半导体x射线检测器包括所述第二电路和所述辐射吸收层。

20.根据权利要求19所述的方法，

技术总结本文公开了一种方法，所述方法包括：拍摄物体(1030、1032)的第一多个2D(二维)图像，仅对波长短于或等于第一波长的入射光子进行计数(1210)；由所述第一多个2D图像重建所述物体(1030、1032)的第一3D(三维)图像(1220)；拍摄所述物体(1030、1032)的第二多个2D图像，仅对波长短于或等于第二波长的入射光子进行计数，其中所述第二波长短于所述第一波长(1230)；由所述第二多个2D图像重建所述物体(1030、1032)的第二3D图像(1240)；以及由所述第一3D图像和所述第二3D图像生成所述物体(1030、1032)的第三3D图像(1250)。技术研发人员：曹培炎,刘雨润受保护的技术使用者：深圳帧观德芯科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/11