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一种形变检测治具的制作方法

  • 国知局
  • 2024-07-17 13:44:36

本技术实施例涉及检测,特别涉及一种形变检测治具。

背景技术:

1、现今很多电子设备的壳体在投入使用时均需要进行形变检测,例如25点检测法,即在壳件上的25点位置检测其形变度,实际应用时,变形度都是借由光学式的检测方式量测,目的是要量测25点相对于壳件的水平基准面的高度差,若壳件变形度过大会造成如下问题:1.结构强度测试后壳件破损或其它功能性问题(例如显示屏出现白斑或水波纹)2.结构相关部件无法组装3.壳件外观凹凸起伏不平顺。

2、但是因光学式的量测机台昂贵且体积庞大,无法满足大量检测需求,而且若是损坏就需委托厂商修理,且在此期间的质检就需要由外部人员辅助实现,因此非常不便。

技术实现思路

1、本实用新型提供了一种结构简单,可有效且准确地进行形变度检测的形变检测治具。

2、为了解决上述技术问题,本实用新型实施例提供了一种形变检测治具,包括:

3、基座,具有检测平台,用于放置待检测件;

4、滑轨组件,设于所述基座上,并位于所述检测平台上方;

5、高度检测器,可滑动地设置在所述滑轨组件上,以基于所述滑轨组件在x轴方向、y轴方向移动,调整检测位置,所述高度检测器的检测头与所述待检测件接触,以用于检测所述待检测件不同位置的高度。

6、作为一可选实施例,所述基座包括矩形底板及围设在所述底板上的四块侧板,位于所述四块侧板内的所述底板形成所述检测平台。

7、作为一可选实施例,所述滑轨组件包括沿y轴方向设置的第一滑轨。

8、作为一可选实施例,所述基座的相对两块侧板上分别设有一所述第一滑轨。

9、作为一可选实施例,所述滑轨组件还包括沿x轴方向设置的第二滑轨,所述第二滑轨的两端分别与两个所述第一滑轨滑动连接。

10、作为一可选实施例,每个所述第一滑轨上设有一能够沿其滑动的第一滑动件,所述第二滑轨的两端分别与所述第一滑动件相连。

11、作为一可选实施例,所述第二滑轨上设有能够沿其滑动的第二滑动件,所述高度检测器与所述第二滑动件可拆卸式连接。

12、作为一可选实施例,所述第二滑动件上设有锁扣,所述高度检测器通过所述锁扣与所述第二滑动件可拆卸式连接。

13、作为一可选实施例,所述检测平台上设有多个用于插设不同高度的支撑柱的插孔,所述支撑柱用于支撑、调整所述待检测件相对所述高度检测器的间距,以使所述高度检测器的检测头能够与所述待检测件接触。

14、作为一可选实施例,所述高度检测器为数位式标尺。

15、基于上述实施例的公开可以获知,本实用新型实施例具备的有益效果包括结构简单,易于制备,且整体成本低廉,可大量制备并使用。另外,检测原理简单,只需设置基座、滑轨组件及高度检测器,使高度检测器基于基座及滑轨组件而调整检测位置,以对基座上的待检测件进行多处的高度检测,进而基于高度检测值确定待检测件是否发生形变,哪些位置出现形变。

技术特征:

1.一种形变检测治具,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的形变检测治具,其特征在于,所述基座包括矩形底板及围设在所述底板上的四块侧板,位于所述四块侧板内的所述底板形成所述检测平台。

3.根据权利要求2所述的形变检测治具,其特征在于,所述滑轨组件包括沿y轴方向设置的第一滑轨。

4.根据权利要求3所述的形变检测治具,其特征在于,所述基座的相对两块侧板上分别设有一所述第一滑轨。

5.根据权利要求4所述的形变检测治具,其特征在于,所述滑轨组件还包括沿x轴方向设置的第二滑轨,所述第二滑轨的两端分别与两个所述第一滑轨滑动连接。

6.根据权利要求5所述的形变检测治具,其特征在于,每个所述第一滑轨上设有一能够沿其滑动的第一滑动件,所述第二滑轨的两端分别与所述第一滑动件相连。

7.根据权利要求5所述的形变检测治具,其特征在于,所述第二滑轨上设有能够沿其滑动的第二滑动件,所述高度检测器与所述第二滑动件可拆卸式连接。

8.根据权利要求7所述的形变检测治具,其特征在于,所述第二滑动件上设有锁扣,所述高度检测器通过所述锁扣与所述第二滑动件可拆卸式连接。

9.根据权利要求1所述的形变检测治具,其特征在于,所述检测平台上设有多个用于插设不同高度的支撑柱的插孔,所述支撑柱用于支撑、调整所述待检测件相对所述高度检测器的间距,以使所述高度检测器的检测头能够与所述待检测件接触。

10.根据权利要求1所述的形变检测治具,其特征在于,所述高度检测器为数位式标尺。

技术总结本技术实施例提供了一种形变检测治具,包括:基座,具有检测平台,用于放置待检测件;滑轨组件,设于所述基座上,并位于所述检测平台上方;高度检测器,可滑动地设置在所述滑轨组件上,以基于所述滑轨组件在x轴方向、y轴方向移动,调整检测位置,所述高度检测器的检测头与所述待检测件接触,以用于检测所述待检测件不同位置的高度。本技术的形变检测治具结构简单,可有效且准确地进行形变度检测。技术研发人员:吴冠纬,张轩铭,李正智,林煜康受保护的技术使用者:合肥联宝信息技术有限公司技术研发日:20231013技术公布日:2024/7/9

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