一种半导体透视检测设备的制作方法

本技术涉及半导体检测设备，特别涉及一种半导体透视检测设备。

背景技术：

1、半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件；无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的；大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联；常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。

2、经检索，中国专利公开(公告)号202122103017.8公开了一种半导体检测装置，本专利包括安装板的顶部固定安装有多个灯泡，所述安装板的底部固定安装有多个与灯泡相对应的正电板，所述正电板与灯泡之间电性连接，所述工作台的顶部设置有检测框，且检测框的底部内壁固定连接有多个挡板，多个所述挡板将检测框分隔成多个检测腔，且检测腔与正电板相对应，具有增加半导体检测效率的优点，但是该检测只能检测到某一半导体的电路是否能够连通，不能够检测到半导体的内部是否存有裂痕，如果不能够检测半导体内部的质量问题，该半导体的使用时间就会减少，安装到某一电子产品中就会影响其质量问题，导致资源浪费的现象产生，因此设计一种半导体透视检测设备很有必要。

技术实现思路

1、本实用新型的主要目的在于提供一种半导体透视检测设备，可以有效解决背景技术中的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

3、一种半导体透视检测设备，包括支撑架，所述支撑架两侧一端固定连接有x射线仪器主体，所述x射线仪器主体的上表面设置有x射线光线输出端，所述x射线光线输出端的表面贯穿至x射线仪器主体的下表面；所述x射线光线输出端的上表面固定连接有报警器，所述x射线仪器主体的一侧设置有控制端，所述x射线仪器主体的另一侧固定连接有电源连接端。

4、为了使得具有控制的作用，作为本实用新型一种半导体透视检测设备，所述x射线仪器主体的一边缘处固定连接有传输线，所述传输线的一端固定连接有旋转台，所述旋转台的内部转动连接有转盘。

5、为了使得具有筛选的作用，作为本实用新型一种半导体透视检测设备，所述转盘的上表面固定连接有支撑板，所述支撑板的一端转动连接有操作台，所述操作台的下表面固定连接有伸缩吸盘。

6、为了使得具有输送的作用，作为本实用新型一种半导体透视检测设备，所述支撑架的内部固定连接有第一输送机，所述第一输送机的表面均匀固定连接有放置槽。

7、为了使得具有防止掉落的作用，作为本实用新型一种半导体透视检测设备，所述支撑架的一端固定连接有第二输送机，所述第二输送机的两侧均固定连接有挡板。

8、与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

9、1.本实用新型中，通过支撑架、x射线仪器主体、x射线光线输出端、报警器、控制端和电源连接端的设置，在进行检测之前先将电源连接端连接电源提供电源使用，在进行检测的过程中半导体在放置槽内部根据输送机的运输先经过x射线仪器主体下方，此时x射线光线输出端输出的x射线使得半导体进行透视检测，x射线穿透半导体，检测时的影像能够清晰地在控制端的显示器里面看到是否存在有气泡、夹渣、夹杂、裂纹、漏焊等现象，如果没有上述影响质量问题的现象产生则是合格的半导体，报警器提示绿灯然后到达下一运输机进行包装，如果出现上述影响质量问题的现象则是不合格的半导体，报警器提示红灯并发出声音，避免产生不合格产品安装到某一电子产品中就会影响其质量问题，导致资源浪费的现象。

10、2.本实用新型中，通过x射线仪器主体、传输线、旋转台、转盘、支撑板、操作台和伸缩吸盘的设置，在进行检测时，x射线仪器主体检测到有不合格的产品出现时，报警器发出红灯并发出声音，此时该信号经过传输线传输给旋转台，旋转台对转盘进行控制方向进行操作，当出现不合格的产品时，转盘得到控制，然后使得支撑板一端的操作台对伸缩吸盘进行控制，将不合格的产品吸住放置到不合格产品区域与合格的产品进行区分。

技术特征：

1.一种半导体透视检测设备，包括支撑架(1)，其特征在于：所述支撑架(1)两侧一端固定连接有x射线仪器主体(2)，所述x射线仪器主体(2)的上表面设置有x射线光线输出端(3)，所述x射线光线输出端(3)的表面贯穿至x射线仪器主体(2)的下表面；

2.根据权利要求1所述的一种半导体透视检测设备，其特征在于：所述x射线仪器主体(2)的一边缘处固定连接有传输线(7)，所述传输线(7)的一端固定连接有旋转台(8)，所述旋转台(8)的内部转动连接有转盘(9)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体透视检测设备，其特征在于：所述转盘(9)的上表面固定连接有支撑板(10)，所述支撑板(10)的一端转动连接有操作台(11)，所述操作台(11)的下表面固定连接有伸缩吸盘(12)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体透视检测设备，其特征在于：所述支撑架(1)的内部固定连接有第一输送机(13)，所述第一输送机(13)的表面均匀固定连接有放置槽(14)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体透视检测设备，其特征在于：所述支撑架(1)的一端固定连接有第二输送机(15)，所述第二输送机(15)的两侧均固定连接有挡板(16)。

技术总结本技术公开了一种半导体透视检测设备，包括支撑架，所述支撑架两侧一端固定连接有X射线仪器主体，所述X射线仪器主体的上表面设置有X射线光线输出端，所述X射线光线输出端的上表面固定连接有报警器。该半导体透视检测设备，通过支撑架、X射线仪器主体、X射线光线输出端、报警器的设置，在进行检测的过程中半导体在X射线光线输出端输出的X射线使得半导体进行透视检测，检测时的影像在控制端的显示器里面看到是否存在有气泡、裂纹、漏焊等现象，如果没有则是合格的半导体，如果出现问题则是不合格的半导体，报警器提示红灯并发出声音，避免产生不合格产品安装到某一电子产品中就会影响其质量问题，导致资源浪费的现象。技术研发人员：严志丹受保护的技术使用者：苏州龙眼科技有限公司技术研发日：20231201技术公布日：2024/7/25