一种电子元器件生产质量优化控制方法与流程

本发明涉及智能控制，具体涉及一种电子元器件生产质量优化控制方法。

背景技术：

1、随着现代制造技术的不断发展，电子元器件的质量控制已成为决定产品竞争力的重要因素。在元器件的生产过程中，早期失效问题一直是困扰制造商的难题。早期失效不仅影响产品的可靠性，还可能导致生产成本的增加和市场竞争力的下降。传统的质量控制方法往往只关注生产过程的终端检测，对早期失效问题缺乏有效的预防和控制手段。

2、综上，现有技术对于电子元器件生产质量进行把控时往往存在不能及时对产品质量进行全面把控和调整，导致生产效率低下，成品质量较差、适应性单一，生产成本较高的技术问题。

技术实现思路

1、本申请提供了一种电子元器件生产质量优化控制方法，用于针对解决现有技术中对于电子元器件生产质量进行把控时往往存在不能及时对产品质量进行全面把控和调整，导致生产效率低下，成品质量较差、适应性单一，生产成本较高的技术问题。

2、鉴于上述问题，本申请提供了一种电子元器件生产质量优化控制方法。

3、本申请提供的一种电子元器件生产质量优化控制方法，所述方法包括：

4、以目标元器件的全生命周期为导向，确定基于预期质量标准的早期失效因素点；

5、针对早期失效因素点，进行基于工艺流程的节点因素特征分摊，确定动态质量阈值，所述工艺流程存在基于需求侧技术点的补偿；

6、基于所述动态质量阈值，配置数字触发器，所述数字触发器与分布式监测装置通信连接；

7、进行所述目标元器件的产线自动化加工与同步监测，基于所述数字触发器，进行产线加工数据的存异示警，生成快速决策指令；

8、结合智能决策模块，进行基于总成质量的失效率评估与优化加工调控决策，确定优化控制策略，其中，以下位节点调控与回流复工调控为调控决策方向，所述智能决策模块以集成概率网络为模块结构；

9、基于所述优化控制策略，对所述目标元器件进行以质量为导向的优化调控。

10、本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

11、本申请提供的一种电子元器件生产质量优化控制方法，通过以目标元器件的全生命周期为导向，确定基于预期质量标准的早期失效因素点；针对早期失效因素点，进行基于工艺流程的节点因素特征分摊，确定动态质量阈值，所述工艺流程存在基于需求侧技术点的补偿；基于所述动态质量阈值，配置数字触发器，所述数字触发器与分布式监测装置通信连接；进行所述目标元器件的产线自动化加工与同步监测，基于所述数字触发器，进行产线加工数据的存异示警，生成快速决策指令；结合智能决策模块，进行基于总成质量的失效率评估与优化加工调控决策，确定优化控制策略，其中，以下位节点调控与回流复工调控为调控决策方向，所述智能决策模块以集成概率网络为模块结构；基于所述优化控制策略，对所述目标元器件进行以质量为导向的优化调控，解决了现有技术中对于电子元器件生产质量进行把控时往往存在不能及时对产品质量进行全面把控和调整，导致生产效率低下，成品质量较差、适应性单一，生产成本较高的技术问题，达到了对元器件的实时质量评估和优化调控，从而有效预防和控制早期失效问题，提高产品的质量和可靠性的技术效果。

技术特征：

1.一种电子元器件生产质量优化控制方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述工艺流程存在基于需求侧技术点的补偿，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述进行基于工艺流程的节点因素特征分摊，包括：

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定动态质量阈值之后，包括：

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成快速决策指令，包括：

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，构建智能决策模块，包括：

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述下位节点调控优先级高于所述回流复工调控，所述优化加工调控决策，包括：

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

技术总结本申请提供的一种电子元器件生产质量优化控制方法，涉及智能控制技术领域，通过以元器件的全生命周期为导向，确定早期失效因素点，进行节点因素特征分摊，确定动态质量阈值，并配置数字触发器进行元器件的产线自动化加工与同步监测，生成快速决策指令；结合智能决策模块，进行失效率评估与优化加工调控决策，确定优化控制策略，对所述目标元器件进行以质量为导向的优化调控，解决了现有技术中对元器件生产质量进行把控时不能及时对产品质量进行全面把控，导致生产效率低下，成品质量较差、适应性单一，生产成本较高的技术问题，达到了对元器件的实时质量评估和优化调控，从而有效预防和控制早期失效问题，提高产品的质量和可靠性的技术效果。技术研发人员：许多受保护的技术使用者：南通莱欧电子科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/29