控制模块的测试装置与控制系统的制作方法

本发明涉及电子，具体涉及一种控制模块的测试装置与控制系统。

背景技术：

1、控制模块是一种具备逻辑功能的控制机构，现有技术中，在测试控制模块的各种逻辑功能时，通常使用传统的手工测试方式，测试人员根据测试规程，手动输入测试信号，人工对比测试数据，但人工的测试效率低，测试具备复杂逻辑的控制模块需要花费较长时间，并且准确度较低。

技术实现思路

1、本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中测试具备复杂逻辑的控制模块需要花费较长时间，并且准确度较低的缺陷，提供一种控制模块的测试装置与控制系统。

2、本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

3、本发明提供一种控制模块的测试装置，所述测试装置包括上位机、继电器模块、信号激励模块以及信号采集模块；

4、所述继电器模块包括fpga和至少两个继电器；

5、所述信号激励模块的输出端与所述继电器的输入端电连接，所述继电器的输出端与所述控制模块电连接；

6、所述上位机用于向所述fpga发送第一控制信号，以及向所述信号激励模块发送第二控制信号；

7、所述fpga用于响应于所述第一控制信号控制所述继电器的通断；

8、所述信号激励模块用于响应于所述第二控制信号产生测试信号；

9、所述信号采集模块用于采集所述控制模块响应于所述测试信号后产生的反馈信号。

10、可选地，所述信号采集模块与所述上位机电连接；

11、所述信号采集模块还用于将所述反馈信号发送至所述上位机；

12、所述上位机还用于基于所述反馈信号与所述测试信号生成测试结果。

13、可选地，所述测试装置还包括拓展夹具，所述拓展夹具与所述上位机电连接；

14、所述拓展夹具用于响应于所述上位机输出的第三控制指令固定所述控制模块。

15、可选地，所述拓展夹具包括机械臂，所述机械臂用于响应于所述上位机的第四控制指令调整所述控制模块的位置。

16、可选地，所述信号激励模块用于产生以下至少一种测试信号：模拟量电压信号、模拟量电流信号、热电偶信号、热电阻信号以及脉冲信号。

17、可选地，所述测试装置还包括供电系统；

18、所述供电系统用于为所述信号激励模块供电。

19、可选地，所述信号采集模块用于采集以下至少一种反馈信号：电压信号、电流信号、电阻信号、温度信号、电感信号、电容信号、频率信号、周期信号以及二极管信号。

20、可选地，所述信号采集模块用于采集交流电压信号或直流电压信号。

21、可选地，所述上位机包括工控机。

22、本发明还提供一种控制系统，其特征在于，所述控制系统包括控制模块以及本发明的控制模块的测试装置。

23、在符合本领域常识的基础上，上述各可选条件可任意组合，即得本发明各较佳实例。

24、本发明的积极进步效果在于：本发明通过在测试装置中设置包括fpga的继电器模块，通过fpga来控制继电器的通断，fpga为现场可编程门阵列，可实现多路复用的功能，从而可根据上位机的控制来控制继电器的通断，不必更改测试装置的硬件平台，具有较大的灵活性和通用性，并且，由于控制模块对时序的要求很高，通过fpga来控制继电器的通断，也能够很好的满足控制模块对于时序的要求，因此，测试装置可灵活地向控制模块输出测试信号，从而自动完成对具备复杂逻辑的控制模块的测试，降低人工成本，提升测试的效率与准确性。

技术特征：

1.一种控制模块的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括上位机、继电器模块、信号激励模块以及信号采集模块；

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述信号采集模块与所述上位机电连接；

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括拓展夹具，所述拓展夹具与所述上位机电连接；

4.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述拓展夹具包括机械臂，所述机械臂用于响应于所述上位机的第四控制指令调整所述控制模块的位置。

5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述信号激励模块用于产生以下至少一种测试信号：模拟量电压信号、模拟量电流信号、热电偶信号、热电阻信号以及脉冲信号。

6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括供电系统；

7.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述信号采集模块用于采集以下至少一种反馈信号：电压信号、电流信号、电阻信号、温度信号、电感信号、电容信号、频率信号、周期信号以及二极管信号。

8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述信号采集模块用于采集交流电压信号或直流电压信号。

9.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述上位机包括工控机。

10.一种控制系统，其特征在于，所述控制系统包括控制模块以及如权利要求1～9中任一项所述的控制模块的测试装置。

技术总结本发明公开了一种控制模块的测试装置与控制系统，其中，所述控制模块的测试装置包括上位机、继电器模块、信号激励模块以及信号采集模块；继电器模块包括FPGA与至少两个继电器；信号激励模块的输出端与继电器的输入端电连接，继电器的输出端与控制模块电连接；FPGA用于响应于第一控制信号控制继电器的通断；信号激励模块用于响应于第二控制信号产生测试信号；信号采集模块用于采集控制模块响应于测试信号后产生的反馈信号。本发明通过在测试装置中设置包括FPGA的继电器模块，通过FPGA来控制继电器的通断，具有较大的灵活性和通用性，并且，也能够很好的满足控制模块对于时序的要求，降低人工成本，提升测试的效率与准确性。技术研发人员：徐沧,谢子晗,唐国永,韩寅驰,束轶伦,李灵燚,杨颖受保护的技术使用者：国核自仪系统工程有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/18