信号控制电路、信号控制器和芯片测试系统的制作方法

本申请涉及集成电路，尤其涉及一种信号控制电路、信号控制器和芯片测试系统。

背景技术：

1、芯片等领域的测试，常需要搭建芯片的测试环境，以完成测试过程。移动产业处理器接口(mobile industry processor interface，mipi)是2003成立的一个联盟，mipi控制器是一种基于mipi协议来对芯片进行测试的一种控制器，诸如mipi控制器等用于对芯片测试过程使用的控制器，往往功能比较单一，包括如下缺陷：

2、以mipi控制器为例，发明人研究发现，目前现有的mipi控制器，在利用mipi控制器进行测试的过程中，一般是通过mipi控制器内部的处理器单元，比如fpga芯片下发触发指令以完成对芯片的触发操作，然而，由于对芯片测试过程还需要搭建其他测试环境，fpga芯片与测试环境的其他单元存在同步问题，一般需要额外添加同步装置，比较不方便。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种一种信号控制电路、信号控制器和芯片测试系统，以解决现有的用于芯片测试的控制器同步处理不方便的技术问题。

2、本申请第一方面提供了一种信号控制电路，所述信号控制电路包括波形产生单元、处理器单元；

3、所述波形产生单元的信号输出端连接至所述处理器单元的第一信号触发端口，其中，所述波形产生单元的信号输出端还用于连接于至少一个信号源单元的信号输入端，所述波形产生单元通过信号输出端产生目标触发信号分别作为所述处理器单元和所述至少一个信号源单元所需的工作触发信号。

4、可选地，所述信号控制电路还包括buffer单元；

5、所述波形产生单元的信号输出端连接至所述buffer单元的信号输入端，所述buffer单元的信号输出端连接至所述处理器单元的第一信号触发端口，所述buffer单元的信号输出端还用于连接至所述至少一个信号源单元的信号输入端。

6、可选地，所述波形产生单元的信号输出端还用于连接到至少一个测量单元的信号输入端，所述目标触发信号还分别作为所述至少一个测量单元所需的工作触发信号。

7、可选地，所述信号控制电路还包括切换单元和通讯芯片，所述处理器单元还包括第二信号触发端口；

8、其中，所述切换单元的第一输入端连接到所述波形产生单元的信号输出端，所述切换单元的第一输出端连接到所述处理器单元的第一信号触发端口，所述切换单元的第二输入端连接到所述通讯芯片的信号输出端，所述切换单元的第二输出端连接到所述处理器单元的第二信号触发端口；

9、所述切换单元用于根据需求信号将所述波形产生单元的信号输出端与所述第一信号触发端口设为连通状态，并将所述通讯芯片的信号输出端与所述第二信号触发端口切换设为切断状态，或者用于根据需求信号将所述波形产生单元的信号输出端与所述第一信号触发端口设为切断状态，并将所述通讯芯片的信号输出端与所述第二信号触发端口切换设为连通状态。

10、可选地，所述处理器单元包括现场可编程逻辑门阵列器或者数字信号处理器。

11、可选地，所述波形产生单元包括方波信号产生器、可调电阻和电容；

12、其中，所述方波信号产生器的输出端与所述电容的一端共接且共接端作为所述波形产生单元的信号输出端，所述电容的另一端与所述可调电阻的一端连接，所述可调电阻的另一端连接至地端。

13、本申请第二方面，提供了一种信号控制电路，所述信号控制电路包括波形产生单元和处理器单元；

14、所述波形产生单元用于产生目标触发信号，并通过信号输出端将所述目标触发信号传递到所述处理器单元的第一信号触发端口和至少一个信号源单元的工作触发端口；

15、所述处理器单元和所述至少一个信号源单元，用于分别基于所述目标触发信号保持同步工作。

16、本申请第三方面，提供了一种用于芯片测试的信号控制器，所述信号控制器包括芯片测试电路和前述任一项所述的信号控制电路，其中，所述处理器单元和所述至少一个信号源单元在所述目标触发信号的同步触发下，使所述芯片测试电路对被测芯片进行测试。

17、本申请第四方面，提供了一种芯片测试系统，所述芯片测试系统包括信号控制器、被测芯片和至少一个信号源单元，所述信号控制器包括波形产生单元、处理器单元和芯片测试电路；

18、其中，所述处理器单元的第一信号触发端口和所述至少一个信号源单元的信号输入端，分别连接至所述波形产生单元的信号输出端，所述波形产生单元信号输出端产生目标触发信号，分别作为所述处理器单元和所述至少一个信号源单元所需的工作触发信号，所述处理器单元和所述至少一个信号源单元在所述目标触发信号的同步触发下，使所述芯片测试电路对所述被测芯片进行测试。

19、可选地，所述信号控制器还包括buffer单元；

20、其中，所述波形产生单元的信号输出端连接至所述buffer单元的信号输入端，所述buffer单元的信号输出端连接至所述处理器单元的第一信号触发端口，所述buffer单元的信号输出端还连接至所述至少一个信号源单元的信号输入端。

21、可选地，所述芯片测试系统还包括至少一个测量单元，所述波形产生单元的信号输出端连接到所述至少一个测量单元的信号输入端，所述目标触发信号还分别作为所述至少一个测量单元所需的工作触发信号。

22、本申请提供的的信号控制电路、信号控制器和芯片测试系统中，其设置了波形产生单元，该波形产生单元根据周期信号产生目标触发信号，该目标触发信号为使得信号源单元和信号控制器的处理器单元工作的信号，且该波形产生单元的信号输出端还分别连接至处理器单元的其中一个信号触发端口和用于连接至外围的信号源单元的信号输入端，这样，所述波形产生单元通过信号输出端，可以产生目标触发信号分别作为所述处理器单元和所述至少一个信号源单元所需的工作触发信号，由于处理器单元和信号源单元直接来自于波形产生单元产生的触发信号，从而可以保持所述处理器单元和所述至少一个信号源单元能够直接依据工作触发信号同步工作，采用外部触发的方式，无需额外的同步处理过程，更加便捷，且相对于软件触发的方式，避免软件同步出来带来的误差，同步效果更好。

技术特征：

1.一种信号控制电路，其特征在于，所述信号控制电路包括波形产生单元、处理器单元；

2.如权利要求1所述的信号控制电路，其特征在于，所述信号控制电路还包括buffer单元；

3.如权利要求1所述的信号控制电路，其特征在于，所述波形产生单元的信号输出端还用于连接到至少一个测量单元的信号输入端，所述目标触发信号还分别作为所述至少一个测量单元所需的工作触发信号。

4.如权利要求1所述的信号控制电路，其特征在于，所述信号控制电路还包括切换单元和通讯芯片，所述处理器单元还包括第二信号触发端口；

5.如权利要求1-4任一项所述的信号控制电路，其特征在于，所述处理器单元包括现场可编程逻辑门阵列器或者数字信号处理器。

6.如权利要求1-4任一项所述的信号控制电路，其特征在于，所述波形产生单元包括方波信号产生器、可调电阻和电容；

7.一种信号控制电路，其特征在于，所述信号控制电路包括波形产生单元和处理器单元；

8.一种用于芯片测试的信号控制器，其特征在于，所述信号控制器包括芯片测试电路和如权利要求1-6任一项所述的信号控制电路，其中，所述处理器单元和所述至少一个信号源单元在所述目标触发信号的同步触发下，使所述芯片测试电路对被测芯片进行测试。

9.一种芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统包括信号控制器、被测芯片和至少一个信号源单元，所述信号控制器包括波形产生单元、处理器单元和芯片测试电路；

10.如权利要求8所述的芯片测试系统，其特征在于，所述信号控制器还包括buffer单元；

11.如权利要求8所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统还包括至少一个测量单元，所述波形产生单元的信号输出端连接到所述至少一个测量单元的信号输入端，所述目标触发信号还分别作为所述至少一个测量单元所需的工作触发信号。

技术总结本申请涉及集成电路技术领域，公开了一种信号控制电路、信号控制器和芯片测试系统，可用于简单的实现同步。其中，信号控制电路部分包括波形产生单元、处理器单元；所述波形产生单元的信号输出端连接至所述处理器单元的第一信号触发端口，其中，所述波形产生单元的信号输出端还用于连接于至少一个信号源单元的信号输入端，所述波形产生单元通过信号输出端产生目标触发信号分别作为所述处理器单元和所述至少一个信号源单元所需的工作触发信号。技术研发人员：林楷辉,倪建兴受保护的技术使用者：锐石创芯（深圳）科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/4