一种智能制造工厂全流程问题检测监控方法及系统与流程

本申请涉及监控系统的，尤其涉及一种智能制造工厂全流程问题检测监控方法及系统。

背景技术：

1、随着智能制造的快速发展，工厂对产品质量的要求也更加严苛，因此全流程的问题检测与监控成为保证生产质量的关键环节。

2、然而，传统的工厂问题检测方法往往依赖于人工检查，甚至凭借感官进行问题判断，效率低下且容易漏测或出错，当某个环节出现异常时，人工检查方法无法快速地定位和解决问题，还需要花费时间排查问题点，影响生产效率。

技术实现思路

1、本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

2、为此，本申请的第一个目的在于提出一种智能制造工厂全流程问题检测监控方法，在减少人力成本的同时，快速定位问题设备，减少了测试出错的概率，同时提高了生产效率。

3、本申请的第二个目的在于提出一种智能制造工厂全流程问题检测监控系统。

4、本申请的第三个目的在于提出一种电子设备。

5、本申请的第四个目的在于提出一种计算机可读存储介质。

6、本申请的第五个目的在于提出一种计算机程序产品。

7、为达上述目的，本申请第一方面实施例提出了一种智能制造工厂全流程问题检测监控方法，包括以下步骤：

8、获取多个测试项，基于所述测试项，按照测试顺序依次对待测设备进行问题检测；

9、基于预设的测试设备，获取所述测试项中第一测试环节的测试数据，基于所述测试数据获取所述第一测试环节的测试结果；

10、响应于所述测试结果为正常，对第二测试环节继续进行问题检测，直至完成所有所述测试环节，所述第二测试环节为所述第一测试环节的下一测试环节；

11、响应于所述测试结果为异常，拦截第二测试环节的问题检测，并基于预设的异常处理措施进行异常响应处理。

12、进一步地，所述基于所述测试数据获取所述第一测试环节的测试结果，包括：

13、获取预设的标准值，将所述测试数据与所述标准值进行对比分析，获取分析结果；

14、基于所述分析结果判断所述第一测试环节是否测试通过；

15、响应于所述第一测试环节测试通过，生成测试通过标志位，确定所述测试结果为正常；

16、响应于所述第一测试环节测试不通过，生成测试异常标志位，确定所述测试结果为异常。

17、进一步地，所述测试项包括初始化测试项、校准测试项及自动化设备测试项。

18、进一步地，所述测试设备至少包括光敏传感器、声压传感器、grb三色传感器和电设备传感器。

19、进一步地，所述自动化设备测试项至少包括设备lcd显示测试环节、摄像头成像测试环节、喇叭发声测试环节、听筒发声测试环节、麦克收音测试环节、天线信号测试环节、gps搜星测试环节、wifi信号测试环节、通话音质测试环节、功耗检测测试环节及充电电流测试环节。

20、为达上述目的，本申请第二方面实施例提出了一种智能制造工厂全流程问题检测监控系统，包括测试模块、获取模块及处理模块；

21、所述测试模块用于获取多个测试项，基于所述测试项，按照测试顺序依次对当前生产流程进行问题检测；

22、所述获取模块用于基于预设的测试设备，获取所述测试项中第一测试环节的测试数据，基于所述测试数据获取所述第一测试环节的测试结果；

23、所述处理模块用于响应于所述测试结果为正常，对第二测试环节继续进行问题检测，直至完成所有所述测试环节，所述第二测试环节为所述第一测试环节的下一测试环节；

24、所述处理模块还用于响应于所述测试结果为异常，拦截第二测试环节的问题检测，并基于预设的异常处理措施进行异常响应处理。

25、进一步地，所述获取模块在基于所述测试数据获取所述第一测试环节的测试结果时，还执行以下步骤：

26、获取预设的标准值，将所述测试数据与所述标准值进行对比分析，获取分析结果；

27、基于所述分析结果判断所述第一测试环节是否测试通过；

28、响应于所述第一测试环节测试通过，生成测试通过标志位，确定所述测试结果为正常；

29、响应于所述第一测试环节测试不通过，生成测试异常标志位，确定所述测试结果为异常。

30、为达上述目的，本申请第三方面实施例提出了一种电子设备，包括：处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；

31、所述存储器存储计算机执行指令；

32、所述处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，以实现如上述的方法。

33、为达上述目的，本申请第四方面实施例提出了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如上述的方法。

34、为达上述目的，本申请第五方面实施例提出了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述的方法。

35、本申请提供的一种智能制造工厂全流程问题检测监控方法及系统，基于测试项对设备进行问题测试，自动化检测生产流程中的设备，若出现测试异常，则停止测试，并进行报警，相较于现有技术中的全部流程测试完毕后才能得到测试结果，能够快速定位问题设备，便于快速检修，减少了漏测错测的可能性，同时减少了人力成本，提高了生产效率。

36、本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

技术特征：

1.一种智能制造工厂全流程问题检测监控方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的智能制造工厂全流程问题检测监控方法，其特征在于，所述基于所述测试数据获取所述第一测试环节的测试结果，包括：

3.根据权利要求1所述的智能制造工厂全流程问题检测监控方法，其特征在于，所述测试项包括初始化测试项、校准测试项及自动化设备测试项。

4.根据权利要求1所述的智能制造工厂全流程问题检测监控方法，其特征在于，所述测试设备至少包括光敏传感器、声压传感器、grb三色传感器和电设备传感器。

5.根据权利要求1所述的智能制造工厂全流程问题检测监控方法，其特征在于，所述自动化设备测试项至少包括设备lcd显示测试环节、摄像头成像测试环节、喇叭发声测试环节、听筒发声测试环节、麦克收音测试环节、天线信号测试环节、gps搜星测试环节、wifi信号测试环节、通话音质测试环节、功耗检测测试环节及充电电流测试环节。

6.一种智能制造工厂全流程问题检测监控系统，其特征在于，包括测试模块、获取模块及处理模块；

7.根据权利要求6所述的智能制造工厂全流程问题检测监控系统，其特征在于，所述获取模块在基于所述测试数据获取所述第一测试环节的测试结果时，还执行以下步骤：

8.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如权利要求1-5中任一项所述的方法。

10.一种计算机程序产品，其特征在于，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述的方法。

技术总结本申请提出一种智能制造工厂全流程问题检测监控方法及系统，其方法包括以下步骤：获取多个测试项，基于所述测试项，按照测试顺序依次对待测设备进行问题检测；基于预设的测试设备，获取所述测试项中第一测试环节的测试数据，基于所述测试数据获取所述第一测试环节的测试结果；响应于所述测试结果为正常，对第二测试环节继续进行问题检测，直至完成所有所述测试环节，所述第二测试环节为所述第一测试环节的下一测试环节；响应于所述测试结果为异常，拦截第二测试环节的问题检测，并基于预设的异常处理措施进行异常响应处理。本申请在减少人力成本的同时，快速定位问题设备，减少了测试出错的概率，同时提高了生产效率。技术研发人员：任兴受保护的技术使用者：上海易景信息科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/11