一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置与流程

本技术涉及数据检测，特别是涉及一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置。

背景技术：

1、对于存储设备，包括嵌入式多媒体卡（embedded multimedia card，emmc）、固态硬盘（solid state drive，ssd）、通用闪存存储（universal flash storage，ufs）等通常在正式量产到客户端前有一个测试阶段我们称之为自测试阶段，或分类检测或可靠性验证测试(reliability demonstration testing，rdt)，其目的是对nand（not and）flash芯片或者主控等其他硬件在高温下做加压测试以对设备进行分类，例如区分出较好或者较差的设备。

2、但分类检测时长往往影响着成本和产能（缩短分类检测的时间能减少成本同时提高产能）。但当分类检测过程发生异常掉电，下次上电时往往为保证分类检测的准确度，会对分类检测中断的设备重新执行分类检测，而若没有特殊机制去应对这种状况，往往会延长分类检测时长。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置及计算机可读存储介质，通过分配的上电复位块对存储设备的分类检测进程进行记载，能够避免在发生异常掉电的情况下需要重新进行检测的情况，有助于缩短对存储设备进行分类检测的时间，减少检测成本，提高产能。

2、为达到上述目的：

3、第一方面，本技术实施例提供了一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法，所述方法包括以下步骤：

4、在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块；

5、在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取；

6、读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测。

7、可选的，所述在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块，包括：

8、对所述每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块；

9、通过所述主上电复位块根据设置的需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型，记载存储设备的分类检测的数据信息，以及对应的块地址数据；

10、根据所述备份上电复位块对所述主上电复位块的数据信息进行备份。

11、可选的，所述通过所述主上电复位块记载对应的存储设备分类检测的数据信息，包括：

12、设置对存储设备进行分类检测时，记载检测的数据信息，以及当前分类执行阶段的页，所述数据信息包括以下至少一种：

13、记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块；对所述存储设备中各个存储块的数据进行擦除的擦除时间；所述存储设备中各个存储块的数据编程速度；所述存储设备中各个存储块进行读写时出现错误的最大纠正位数。

14、可选的，所述读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测，还包括：

15、在通过上电复位块对存储设备中的数据信息进行记载时，检测所述上电复位块是否需要进行更新，所述更新的条件包括以下至少一种：

16、检测已经对存储设备中各个存储块进行检测的存储块的累计数量，若检测所述存储块的累计数量超过预设的块数量阈值，则确定对所述上电复位块进行更新；

17、检测已经对所述存储设备进行检测的累计时间，若检测所述累计时间超过预设的时间阈值，则确定对所述上电复位块进行更新。

18、可选的，所述读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测，还包括：

19、在确定对上电复位块进行更新后，对上电复位块中的剩余的空白的页数进行检测，判断是否有足够的存储空间；

20、若所述剩余的空白的页数低于设置的页数阈值，则对所述上电复位块标记已满的标志，并对所述上电复位块记载的数据信息进行擦除，并重新写入所述需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据；

21、若所述剩余的空白的页数不低于所述页数阈值，则在剩余的空白页数中写入需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据。

22、第二方面，本技术实施例提供了一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置，所述装置包括：

23、分配模块，用于在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块；

24、加载模块，用于在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取；

25、检测模块，用于读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测。可选的，所述分配模块，具体用于：

26、对所述每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块；

27、所述主上电复位块，用于根据设置的需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型，记载存储设备的分类检测的数据信息，以及对应的块地址数据；

28、所述备份上电复位块，用于对所述主上电复位块的数据信息进行备份。

29、可选的，所述分配模块，具体用于：

30、设置对存储设备进行分类检测时，记载检测的数据信息，以及当前分类执行阶段的页，所述数据信息包括以下至少一种：

31、记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块；对所述存储设备中各个存储块的数据进行擦除的擦除时间；所述存储设备中各个存储块的数据编程速度；所述存储设备中各个存储块进行读写时出现错误的最大纠正位数。

32、可选的，所述检测模块，具体用于：

33、在通过上电复位块对存储设备中的数据信息进行记载时，检测所述上电复位块是否需要进行更新，所述更新的条件包括以下至少一种：

34、检测已经对存储设备中各个存储块进行检测的存储块的累计数量，若检测所述存储块的累计数量超过预设的块数量阈值，则确定对所述上电复位块进行更新；

35、检测已经对所述存储设备进行检测的累计时间，若检测所述累计时间超过预设的时间阈值，则确定对所述上电复位块进行更新。

36、可选的，所述检测模块，具体用于：

37、在确定对上电复位块进行更新后，对上电复位块中的剩余的空白的页数进行检测，判断是否有足够的存储空间；

38、若所述剩余的空白的页数低于设置的页数阈值，则对所述上电复位块标记已满的标志，并对所述上电复位块记载的数据信息进行擦除，并重新写入所述需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据；

39、若所述剩余的空白的页数不低于所述页数阈值，则在剩余的空白页数中写入需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据。

40、第三方面，本技术实施例公开了一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置，具体包括：

41、处理器；

42、用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

43、其中，所述处理器配置执行所述指令，用于执行如第一方面所述的用于对存储设备进行分类的数据检测方法。

44、第四方面，本技术实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够实现如第一方面所述的用于对存储设备进行分类的数据检测方法。

45、本技术实施例提供的用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置及计算机可读存储介质，包括以下步骤：在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块；在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取；读取数据信息中的块地址数据，以根据块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据检测地址继续对存储设备进行分类的数据检测。如此，通过分配的上电复位块对存储设备的分类检测进程进行记载，能够避免在发生异常掉电的情况下需要重新进行检测的情况，有助于缩短对存储设备进行分类检测的时间，减少检测成本，提高产能。