一种芯片测试电路及测试装置的制作方法

本技术涉及内存芯片测试，尤其是一种芯片测试电路及测试装置。

背景技术：

1、在存储半导体行业内，现有的高低温老化测试通常会将芯片放置于极端环境的测试箱中对芯片的寿命以及抗腐蚀能力进行测试，现有方案中多数是测试板加通讯板加上位机控制，或者是测试板加通讯板加显示屏进行控制，甚至还有加机械手的全自动方案，这些方案的测试平台成本高，在测试过程中器件也会随着芯片的老化而老化，严重影响测试结果的可信度和测试效率。因此亟需一种新的测试电路以及测试装置。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于至少一定程度上解决相关技术中存在的技术问题之一。

2、为此，本实用新型实施例的一个目的在于提供一种芯片测试电路，该芯片测试电路可以将检测芯片的不同检测结果通过不同的颜色的指示灯显示出来，而且相比于传统的上位机和显示屏的平台，在老化测试时指示灯可以更加简洁清晰地反映出测试结果；而且相比于显示屏与上位机，指示灯的控制简单，成本更低，可以有效减少设计的成本。

3、为了达到上述技术目的，本实用新型实施例所采取的技术方案包括：

4、一种芯片测试电路，用于测试存储芯片，包括驱动芯片、第一电源模块以及指示灯模块；

5、其中，所述驱动芯片与所述存储芯片连接；所述第一电源模块与所述驱动芯片连接；所述指示灯模块与所述驱动芯片连接；所述指示灯模块至少包括两种不同颜色的指示灯。

6、另外，根据本实用新型上述实施例的一种芯片测试电路，还可以有以下附加的技术特征：

7、可选地，在本实用新型的一个实施例中，所述芯片测试电路还包括第二电源模块、usb下载接口、esd保护模块、触发启动模块以及串口隔离模块；所述usb下载接口与所述驱动芯片连接，所述usb下载接口用于为所述驱动芯片烧录驱动程序；所述esd保护模块与所述驱动芯片连接，所述esd保护模块与所述usb下载接口连接；所述触发启动模块与所述驱动芯片连接；所述触发启动模块与所述第二电源模块连接；所述第二电源模块与所述存储芯片连接，所述第二电源模块用于为所述存储芯片以及所述触发启动电路供电；所述串口隔离模块与所述驱动芯片连接，所述串口隔离模块与所述第二电源模块连接。

8、可选地，在本实用新型的一个实施例中，所述指示灯模块还包括保护电阻；所述保护电阻与所述指示灯串联。

9、可选地，在本实用新型的一个实施例中，所述esd保护模块包括esd芯片；所述esd芯片包括6个引脚，所述esd芯片的第五脚与所述驱动芯片的电源端连接；所述esd芯片的第二脚接地；所述esd芯片的第六脚与所述驱动芯片的dm脚连接；所述esd芯片的第一脚与所述驱动芯片的dp脚连接。

10、可选地，在本实用新型的一个实施例中，所述触发启动模块包括按键开关、限流器件以及滤波器件；所述按键开关包括4个引脚，所述按键开关的第一脚以及第二脚并联后接地，所述按键开关的第三脚与所述驱动芯片的rst脚连接，所述按键开关的第四脚与所述驱动芯片的boot脚连接；所述限流器件一端与所述第二电源模块的输出端连接；所述限流器件的另一端与所述按键开关的第三脚连接；所述滤波器件的一端与所述按键开关的第三脚连接，所述滤波器件的一端接地。

11、可选地，在本实用新型的一个实施例中，所述第二电源模块包括电压转换芯片，所述电压转换芯片的输入端与所述第一电源模块连接；所述电压转换芯片的输出端与所述串口隔离模块连接；所述电压转换芯片的输出端与所述触发启动模块连接；所述电压转换芯片的输出端与所述存储芯片连接。

12、可选地，在本实用新型的一个实施例中，所述限流器件包括电阻或者跳线。

13、可选地，在本实用新型的一个实施例中，所述滤波器件包括电解电容或者无极性电容。

14、可选地，在本实用新型的一个实施例中，所述指示灯模块包括4个led灯。

15、另一方面，本实用新型实施例所采取的技术方案还包括：一种芯片测试装置，包括多个上述任实施例一项所述的芯片测试电路以及外接电源，多个所述芯片测试电路相互并联后接入所述外接电源。

16、本实用新型的优点和有益效果将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到：

17、本实用新型实施例中的芯片测试电路通过在驱动芯片与指示灯模块的连接，可以将检测芯片的不同检测结果通过不同的颜色的指示灯显示出来，而且相比于传统的上位机和显示屏的平台，在老化测试时指示灯可以更加简洁清晰地反映出测试结果，可以提高测试效率；而且相比于显示屏好上位机，成本更低，可以有效减少设计的成本。

技术特征：

1.一种芯片测试电路，其特征在于，用于测试存储芯片，包括驱动芯片、第一电源模块以及指示灯模块；

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试电路，其特征在于，所述芯片测试电路还包括第二电源模块、usb下载接口、esd保护模块、触发启动模块以及串口隔离模块；所述usb下载接口与所述驱动芯片连接，所述usb下载接口用于为所述驱动芯片烧录驱动程序；所述esd保护模块与所述驱动芯片连接，所述esd保护模块与所述usb下载接口连接；所述触发启动模块与所述驱动芯片连接；所述触发启动模块与所述第二电源模块连接；所述第二电源模块与所述存储芯片连接，所述第二电源模块用于为所述存储芯片以及所述触发启动模块供电；所述串口隔离模块与所述驱动芯片连接，所述串口隔离模块与所述第二电源模块连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试电路，其特征在于，所述指示灯模块还包括保护电阻；

4.根据权利要求2所述的一种芯片测试电路，其特征在于，所述esd保护模块包括esd芯片；所述esd芯片包括6个引脚，所述esd芯片的第五脚与所述驱动芯片的电源端连接；所述esd芯片的第二脚接地；所述esd芯片的第六脚与所述驱动芯片的dm脚连接；所述esd芯片的第一脚与所述驱动芯片的dp脚连接。

5.根据权利要求2所述的一种芯片测试电路，其特征在于，所述触发启动模块包括按键开关、限流器件以及滤波器件；所述按键开关包括4个引脚，所述按键开关的第一脚以及第二脚并联后接地，所述按键开关的第三脚与所述驱动芯片的rst脚连接，所述按键开关的第四脚与所述驱动芯片的boot脚连接；所述限流器件一端与所述第二电源模块的输出端连接；所述限流器件的另一端与所述按键开关的第三脚连接；所述滤波器件的一端与所述按键开关的第三脚连接，所述滤波器件的一端接地。

6.根据权利要求2所述的一种芯片测试电路，其特征在于，所述第二电源模块包括电压转换芯片，所述电压转换芯片的输入端与所述第一电源模块连接；所述电压转换芯片的输出端与所述串口隔离模块连接；所述电压转换芯片的输出端与所述触发启动模块连接；所述电压转换芯片的输出端与所述存储芯片连接。

7.根据权利要求5所述的一种芯片测试电路，其特征在于，所述限流器件包括电阻或者跳线。

8.根据权利要求5所述的一种芯片测试电路，其特征在于，所述滤波器件包括电解电容或者无极性电容。

9.根据权利要求1所述的一种芯片测试电路，其特征在于，所述指示灯模块包括4个led灯。

10.一种芯片测试装置，其特征在于，包括多个上述权利要求1-9任一项所述的芯片测试电路以及外接电源，多个所述芯片测试电路相互并联后接入所述外接电源。

技术总结本技术公开一种芯片测试电路以及测试装置，用于测试存储芯片，测试电路包括驱动芯片、第一电源模块以及指示灯模块；其中，所述驱动芯片与所述存储芯片连接；所述第一电源模块与所述驱动芯片连接；所述指示灯模块与所述驱动芯片连接；所述指示灯模块至少包括两种不同颜色的指示灯；该芯片测试电路可以将检测芯片的不同检测结果通过不同的颜色的指示灯显示出来，而且相比于传统的上位机和显示屏的平台，在老化测试时指示灯可以更加简洁清晰地反映出测试结果；而且相比于显示屏好上位机，指示灯的控制逻辑简单，成本更低，可以有效减少设计的成本。本技术可广泛应用于内存芯片测试技术领域内。技术研发人员：叶德明受保护的技术使用者：深圳市晶存科技有限公司技术研发日：20230331技术公布日：2024/1/15