一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法与流程

本发明涉及存储器领域，具体涉及一种在lun工作数量限制下的ssd可靠性测试方法。

背景技术：

1、ssd（固态硬盘）在到达极限性能时，其可靠性可能会出现变化，例如数据精确性下降以及读写数据出现延迟等。可靠性下降可能会导致数据丢失或系统崩溃，因此，统计ssd在极限性能下的错误率或故障率是有必要的。

2、在lun（逻辑单元号）工作数量限制下的可使ssd达到极限性能，现有技术未能给出在lun工作数量限制下的统计ssd数据错误率和故障率的方法。

技术实现思路

1、本发明提供了一种在lun工作数量限制下的ssd可靠性测试方法，可测试ssd在极限性能时的数据错误率和故障率。

2、本申请的技术方案为：

3、一种在lun工作数量限制下的ssd可靠性极限测试方法，包括以下步骤：

4、s01）设定ssd测试总轮次为n；

5、s02）对被测试ssd下发注错命令，使lun工作数量到达最小值，此时，ssd读写速度到达最小值；

6、s03）对ssd的前m%空间写入数据，其中m的范围是5~50；

7、s04）对ssd的后（100-m）%空间读写数据；在读写过程中，对被测试ssd随机下发正断/异断/热插拔命令；

8、s05）查看被测试ssd状态是否正常；

9、s06）若是，则对被测试ssd的所述前m%空间进行校验；

10、若不是，则测试失败且测试结束；

11、s07）判定校验完成后的ssd的轮次是否达到n；

12、s08）若否，对校验完成后的ssd重复步骤s04）~s07）；

13、若是，则测试结束。

14、进一步地，所述步骤s02）对被测试ssd下发注错命令为温度注错命令。

15、由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果如下：

16、1、本发明所采用的方案更解决真实的场景模拟：通过以极限低速度验证ssd的可靠性，可以更真实地模拟ssd在长时间使用和高负载情况下的表现。这有助于检测和解决在实际应用中可能出现的问题。

17、2、提前发现潜在故障：极限低速度验证可以更容易地暴露出ssd中的潜在故障和缺陷。在正常速度下，这些问题可能不容易被察觉，而在极限低速度下，缺陷更容易显现出来，从而可以及早发现并采取相应措施。

18、3、提高可靠性和耐久性：通过进行极限低速度验证，可以更全面地评估ssd的可靠性和耐久性。这有助于制造商和用户更好地了解ssd的性能和寿命，并采取相应的预防措施，以延长ssd的使用寿命。

技术特征：

1.一种在lun工作数量限制下的ssd可靠性极限测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种在lun工作数量限制下的ssd可靠性极限测试方法，其特征在于，

技术总结本发明涉及存储器领域，具体涉及一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法，包括以下步骤：S01）设定SSD测试总轮次为n；S02）对被测试SSD下发注错命令，使LUN工作数量到达最小值，S03）对SSD的前M%空间写入数据S04）对SSD的后（100‑M）%空间读写数据，同时下发正断/异断/热插拔命令；S05）查看被测试SSD状态是否正常；S06）若是，则对被测试SSD前M%空间进行校验；若不是，则测试失败且测试结束；S07）判定校验完成后的SSD的轮次是否达到n；S08）若否，对校验完成后的SSD重复步骤S04）~S07）；若是，则测试结束。本发明可测试SSD在极限性能时的数据错误率和故障率，其方案接近真实场景，可提前发现潜在故障，可为提高SSD可靠性和耐久性提供借鉴。技术研发人员：杨雪,王璞,李瑞东受保护的技术使用者：山东华芯半导体有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15