一种硬盘的稳定性测试方法、系统及设备与流程

本发明涉及存储测试，特别是涉及一种硬盘的稳定性测试方法、系统及设备。

背景技术：

1、无论用任何存储技术，存储的数据都不能永远保存，即存在一个保存时间的期限，这是由于存储自身的工作原理，存储单元在长时间不进行读写操作的情况下，浮栅门级中存放的电荷会逐步漏电，导致原本存储的数据发生变化，例如数据“0”可能变为数据“1”。当数据错误达到一定数量时，便会超出ssd(solid state disk，固态硬盘)的纠错能力，数据将彻底损坏。此外，ssd在没有收到主机的掉电通知，或者收到主机的掉电通知但没来得及处理一些事务就被断电时数据可能丢失，即异常断电也会导致数据的丢失。

2、目前，对于ssd会有质量要求，即要求ssd能够在设定寿命内，不会发生数据出错的情况，并且，还会要求ssd能够在面对复杂环境，例如高温，高湿度，异常断电等情况下，也能够保障所存储的数据的准确性。然而，在实际使用过程中，还是经常会出现不合格ssd的情况。

3、综上所述，如何降低实际使用过程中出现的不合格硬盘的概率，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种硬盘的稳定性测试方法、系统及设备，以降低实际使用过程中出现的不合格硬盘的概率。

2、为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

3、一种硬盘的稳定性测试方法，包括：

4、基于待测试硬盘，创建设定的存储模型；

5、对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行冷数据稳定性测试，得到冷数据稳定性测试结果；

6、对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行热数据稳定性测试，得到热数据稳定性测试结果；

7、当所述冷数据稳定性测试结果为不通过，和/或所述热数据稳定性测试结果为不通过时，确定出所述待测试硬盘不通过稳定性测试；

8、当所述冷数据稳定性测试结果为通过，并且所述热数据稳定性测试结果为通过时，确定出所述待测试硬盘通过稳定性测试。

9、在一种实施方式中，设定的所述存储模型为采用阵列10结构的存储模型，采用阵列10结构的所述存储模型中包括第一硬盘，第二硬盘，第三硬盘以及第四硬盘，所述第一硬盘和所述第二硬盘构成第一镜像容错阵列，所述第三硬盘和所述第四硬盘构成第二镜像容错阵列，所述第一镜像容错阵列与所述第二镜像容错阵列构成去冗余存储阵列；

10、所述待测试硬盘为所述存储模型的第一硬盘，第二硬盘，第三硬盘以及第四硬盘中的任一硬盘。

11、在一种实施方式中，对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行冷数据稳定性测试，得到冷数据稳定性测试结果，包括：

12、对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行n项冷数据稳定性测试；

13、当任意1项冷数据稳定性测试不通过时，确定出冷数据稳定性测试结果为不通过；

14、当各项冷数据稳定性测试均通过时，确定出冷数据稳定性测试结果为通过；

15、其中，n为正整数，并且，对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行的第a项冷数据稳定性测试，包括：

16、基于预设的加密算法对第一数据进行加密，生成所述第一数据的第一校验数据，并存储所述第一校验数据；

17、将所述第一数据写入至所述待测试硬盘之后，对所述待测试硬盘进行k1轮异常掉电和上电；

18、在k1轮异常掉电和上电完成之后，读取所述待测试硬盘中所保存的所述第一数据，并基于预设的加密算法进行加密，生成第二校验数据；

19、判断所述第二校验数据与所述第一校验数据是否一致；

20、如果是，则对所述待测试硬盘进行的第a项冷数据稳定性测试的结果为通过；

21、如果否，则对所述待测试硬盘进行的第a项冷数据稳定性测试的结果为不通过；其中，a为正整数且a≤n，k1为正整数。

22、在一种实施方式中，对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行第b项冷数据稳定性测试，包括：

23、基于预设的加密算法对第一数据进行加密，生成所述第一数据的第一校验数据，并存储所述第一校验数据；

24、将所述第一数据写入至所述待测试硬盘之后，对所述待测试硬盘进行异常掉电，并且在经过了第一时长之后，对所述待测试硬盘进行上电；

25、在对所述待测试硬盘进行上电之后，读取所述待测试硬盘中所保存的所述第一数据，并基于预设的加密算法进行加密，生成第三校验数据；

26、判断所述第三校验数据与所述第一校验数据是否一致；

27、如果是，则对所述待测试硬盘进行的第b项冷数据稳定性测试的结果为通过；

28、如果否，则对所述待测试硬盘进行的第b项冷数据稳定性测试的结果为不通过；其中，b为正整数，b≠a且b≤n。

29、在一种实施方式中，对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行第c项冷数据稳定性测试，包括：

30、基于预设的加密算法对第一数据进行加密，生成所述第一数据的第一校验数据，并存储所述第一校验数据；

31、将所述第一数据写入至所述待测试硬盘之后，对所述待测试硬盘进行全盘注错；

32、在全盘注错之后，对所述待测试硬盘进行异常下电，并在异常下电之后再次上电；

33、读取所述目标硬盘中所保存的所述第一数据，并基于预设的加密算法进行加密，生成第四校验数据；

34、判断所述第四校验数据与所述第一校验数据是否一致；

35、如果否，则对所述待测试硬盘进行的第c项冷数据稳定性测试的结果为不通过；

36、如果是，则返回执行所述对所述待测试硬盘进行异常下电，并在异常下电之后再次上电的操作，直到重复了k2轮且k2轮中的每一轮的所述第四校验数据均通过验证时，对所述待测试硬盘进行的第c项冷数据稳定性测试的结果为通过；

37、其中，c为正整数，c≠a且c≤n；所述目标硬盘表示的是在所述存储模型中，与所述待测试硬盘构成镜像容错阵列的硬盘。

38、在一种实施方式中，对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行热数据稳定性测试，得到热数据稳定性测试结果，包括：

39、对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行m项热数据稳定性测试；

40、当任意1项热数据稳定性测试不通过时，确定出热数据稳定性测试结果为不通过；

41、当各项热数据稳定性测试均通过时，确定出热数据稳定性测试结果为通过；

42、其中，m为正整数，并且，对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行的第d项热数据稳定性测试，包括：

43、将x条数据写入至所述待测试硬盘，并在写入完成之后，对所述待测试硬盘进行异常掉电和上电；

44、在上电之后，验证所述待测试硬盘是否正确存储有最新被写入的x条数据；

45、如果否，则对所述待测试硬盘进行的第d项热数据稳定性测试的结果为不通过；其中，x为正整数，d为正整数且d≤m；

46、如果是，则返回执行所述将x条数据写入至所述待测试硬盘的操作，直到重复了k3轮且k3轮中的每一轮中，均验证出所述待测试硬盘正确存储有最新被写入的x条数据时，对所述待测试硬盘进行的第d项热数据稳定性测试的结果为通过；其中，k3为正整数。

47、在一种实施方式中，对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行的第e项热数据稳定性测试，包括：

48、将y条数据写入至所述待测试硬盘，并在写入完成之后，对所述待测试硬盘进行异常掉电和上电；

49、在上电之后，验证所述待测试硬盘是否正确存储有最新被写入的y条数据；

50、如果否，则对所述待测试硬盘进行的第e项热数据稳定性测试的结果为不通过；其中，e为正整数，e≠d且e≤m；

51、如果是，则返回执行所述将y条数据写入至所述待测试硬盘的操作，直到重复了k4轮且k4轮中的每一轮中，均验证出所述待测试硬盘正确存储有最新被写入的y条数据时，对所述待测试硬盘进行的第e项热数据稳定性测试的结果为通过；其中，k4为正整数，y为正整数且y大于x。

52、在一种实施方式中，对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行的第f项热数据稳定性测试，包括：

53、将所述待测试硬盘写满数据，并在写满之后，随机进行删除操作以及写入操作，直到持续时长达到预设的第二时长；

54、在达到了所述第二时长之后，对所述待测试硬盘进行异常掉电和上电；

55、在上电之后，验证所述待测试硬盘是否正确存储有掉电之前的最新数据；

56、如果否，则对所述待测试硬盘进行的第f项热数据稳定性测试的结果为不通过；其中，f为正整数，f≠d且f≤m；

57、如果是，则返回执行所述将所述待测试硬盘写满数据的操作，直到重复了k5轮且k5中的每一轮中，均验证出所述待测试硬盘正确存储有掉电之前的最新数据时，对所述待测试硬盘进行的第f项热数据稳定性测试的结果为通过；其中，k5为正整数。

58、在一种实施方式中，对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行的第g项热数据稳定性测试，包括：

59、在所述待测试硬盘中存储有热数据时，对所述待测试硬盘进行全盘注错，并且在全盘注错之后，对所述待测试硬盘进行异常下电，并在异常下电之后再次上电；

60、读取目标硬盘中所保存的数据，并基于参照数据验证所述目标硬盘中所保存的数据是否正确；

61、如果否，则对所述待测试硬盘进行的第g项冷数据稳定性测试的结果为不通过；

62、如果是，则返回执行对所述待测试硬盘进行异常下电，并在异常下电之后再次上电的操作，直到重复了k6轮且k6轮中的每一轮中，所述目标硬盘中所保存的数据均通过验证时，对所述待测试硬盘进行的第g项热数据稳定性测试的结果为通过；

63、其中，k6为正整数，g为正整数，g≠d且g≤m；所述目标硬盘表示的是在所述存储模型中，与所述待测试硬盘构成镜像容错阵列的硬盘。

64、一种硬盘的稳定性测试系统，包括：

65、存储模型创建模块，用于基于待测试硬盘，创建设定的存储模型；

66、冷数据稳定性测试结果确定模块，用于对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行冷数据稳定性测试，得到冷数据稳定性测试结果；

67、热数据稳定性测试结果确定模块，用于对所述存储模型中的所述待测试硬盘进行热数据稳定性测试，得到热数据稳定性测试结果；

68、第一结果确定模块，用于当所述冷数据稳定性测试结果为不通过，和/或所述热数据稳定性测试结果为不通过时，确定出所述待测试硬盘不通过稳定性测试；

69、第二结果确定模块，用于当所述冷数据稳定性测试结果为通过，并且所述热数据稳定性测试结果为通过时，确定出所述待测试硬盘通过稳定性测试。

70、一种硬盘的稳定性测试设备，包括：

71、存储器，用于存储计算机程序；

72、处理器，用于执行所述计算机程序以实现如上述所述的硬盘的稳定性测试方法的步骤。

73、应用本发明实施例所提供的技术方案，考虑到可以进行硬盘的稳定性测试，如果待测试硬盘不通过稳定性测试，说明该待测试硬盘不合格，便可以在出厂阶段就将该待测试硬盘进行了拦截，从而有效地降低实际使用过程中出现的不合格硬盘的概率。具体的，在进行硬盘的稳定性测试时，本技术会基于待测试硬盘，创建设定的存储模型，从而实现待测试硬盘的测试。并且本技术考虑到，实际应用中，硬盘中可能存储的是热数据，也可能存储冷数据，为了得到全面且准确可靠的测试效果，本技术的方案中，一方面，会对存储模型中的待测试硬盘进行冷数据稳定性测试，得到冷数据稳定性测试结果，另一方面，会对存储模型中的待测试硬盘进行热数据稳定性测试，得到热数据稳定性测试结果。只有当冷数据稳定性测试结果为通过，并且热数据稳定性测试结果为通过时，才会确定出待测试硬盘通过稳定性测试。可以看出，由于本技术既会进行冷数据稳定性测试，又会进行热数据稳定性测试，使得本技术的方案可以得到准确可靠的稳定性测试结果，也就可以保障通过稳定性测试的硬盘在实际使用过程中的可靠性。

74、综上所述，本技术的方案通过对硬盘进行稳定性测试，可以及早发现不合格的硬盘，并且本技术的方案中，既会进行冷数据稳定性测试，又会进行热数据稳定性测试，使得本技术的方案可以得到准确可靠的稳定性测试结果，也就可以保障通过稳定性测试的硬盘在实际使用过程中的可靠性。