一种存储芯片老化测试系统的制作方法

本技术涉及存储芯片测试领域，特别是涉及一种存储芯片老化测试系统。

背景技术：

1、存储芯片在量产出货之前需要进行老化测试，以筛选出产品质量较差的芯片。存储芯片在老化测试过程中，通过人工监视led(light emitting diode，发光二极管)灯的测试状态来判断测试是否完成。现有技术中，通过设置充足的时间以进行一批次存储芯片的老化测试，然后集中进入下个测试站点进行老化测试结果的筛查。人工监视的方式容易出现误判的情况，导致未测试完成的存储芯片流入到下个测试站，降低了测试良率，影响生产效率。因此存在待改进之处。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种存储芯片老化测试系统，以解决现有技术中老化测试的测试良率较低，生产效率低下的问题。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种存储芯片老化测试系统，包括：

3、测试装置，其包括：

4、安装座，以安装待测芯片；

5、老化测试板，电性连接于所述待测芯片；以及

6、高温箱体，容纳所述安装座和所述老化测试板；

7、输入装置，设有预留接口，所述预留接口电性连接于所述老化测试板；

8、控制器，电性连接于所述高温箱体和所述输入装置；

9、检测装置，电性连接于所述测试装置；以及

10、显示装置，电性连接于所述检测装置，所述显示装置包括测试监测界面单元和预警单元，所述预警单元设定预警阈值以触发报警信号，所述测试监测界面单元显示所述报警信号。

11、在本实用新型的一个实施例中，所述显示装置还包括温度监测界面单元，所述温度监测界面单元电性连接于所述检测装置。

12、在本实用新型的一个实施例中，所述显示装置还包括电源输出监测单元，所述电源输出监测单元电性连接于所述检测装置。

13、在本实用新型的一个实施例中，所述显示装置还包括控制操作单元，所述控制操作单元电性连接于所述控制装置。

14、在本实用新型的一个实施例中，所述老化测试板上设有多个所述安装座，每个所述安装座用以安装一个所述待测芯片。

15、在本实用新型的一个实施例中，每个所述安装座电性连接于所述检测装置，以输出独立的测试信号。

16、在本实用新型的一个实施例中，所述输入装置包括电源单元和信号单元，所述电源单元和信号单元通过所述预留接口电性连接于所述老化测试板。

17、在本实用新型的一个实施例中，所述控制器包括温度控制单元和输入控制单元，所述温度控制单元电性连接于所述高温箱体，所述输入控制单元电性连接于所述输入装置。

18、在本实用新型的一个实施例中，所述检测装置包括测试状态检测单元和温度检测单元，所述测试状态检测单元电性连接于所述待测芯片，所述温度检测单元电性连接于所述高温箱体。

19、在本实用新型的一个实施例中，所述检测装置还包括电源检测单元，所述电源检测单元电性连接于所述输入装置。

20、如上所述，本实用新型的一种存储芯片老化测试系统，具有以下有益效果：可及时检测出异常的存储芯片，提高存储芯片的检测效率。

技术特征：

1.一种存储芯片老化测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述显示装置还包括温度监测界面单元，所述温度监测界面单元电性连接于所述检测装置。

3.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述显示装置还包括电源输出监测单元，所述电源输出监测单元电性连接于所述检测装置。

4.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述显示装置还包括控制操作单元，所述控制操作单元电性连接于所述控制装置。

5.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述老化测试板上设有多个所述安装座，每个所述安装座用以安装一个所述待测芯片。

6.根据权利要求5所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，每个所述安装座电性连接于所述检测装置，以输出独立的测试信号。

7.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述输入装置包括电源单元和信号单元，所述电源单元和信号单元通过所述预留接口电性连接于所述老化测试板。

8.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述控制器包括温度控制单元和输入控制单元，所述温度控制单元电性连接于所述高温箱体，所述输入控制单元电性连接于所述输入装置。

9.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述检测装置包括测试状态检测单元和温度检测单元，所述测试状态检测单元电性连接于所述待测芯片，所述温度检测单元电性连接于所述高温箱体。

10.根据权利要求9所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述检测装置还包括电源检测单元，所述电源检测单元电性连接于所述输入装置。

技术总结本技术涉及存储芯片测试领域，特别是涉及一种存储芯片老化测试系统。存储芯片老化测试系统，包括：测试装置，其包括：安装座，以安装待测芯片；老化测试板，电性连接于待测芯片；以及高温箱体，容纳安装座和老化测试板；输入装置，设有预留接口，预留接口电性连接于老化测试板；控制器，电性连接于高温箱体和输入装置；检测装置，电性连接于测试装置；以及显示装置，电性连接于检测装置，显示装置包括测试监测界面单元和预警单元，预警单元设定预警阈值以触发报警信号，测试监测界面单元显示报警信号。本技术可及时检测出异常的存储芯片，提高存储芯片的检测效率。技术研发人员：张帆,许展榕,赖志铭,陈四平,周章菊受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：20230613技术公布日：2024/1/15