固态硬盘的寿命测试装置的制作方法

本技术涉及测试装置，具体为固态硬盘的寿命测试装置。

背景技术：

1、固态硬盘是用固态电子储存阵列制作而成的硬盘，用于储存和取读电子数据，一般多用于电脑主机等设备上，在固态硬盘生产时，会对固态硬盘的性能等进行测试，来收集其中的数据方便研究和改进，就需要使用到测试装置来对固态硬盘进行测试；

2、在实际使用过程中经常会使用软件对固态硬盘数据、存储等进行测试，对固态硬盘硬件的测试较少，现需要固态硬盘的寿命测试装置，通过设置高温测试功能，来将固态硬盘放置到测试箱内部后，通过测试箱内部的加热管对内部的固态硬盘的使用环境进行加热，测试固态硬盘高温环境下的使用性能。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供固态硬盘的寿命测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：固态硬盘的寿命测试装置，包括测试台，所述测试台的内部安装有测试主机，所述测试主机的一端插设有测试连接线，所述测试连接线的一侧连接有高温测试结构，所述高温测试结构包括测试箱，所述测试箱安装在测试连接线的一侧，所述测试箱的顶端安装有温度表，所述测试箱的内部安装有安装卡槽，所述测试箱的内部的安装有加热管，所述测试台的顶端安装有显示屏，所述测试台的顶端安装有拔插测试结构，所述测试台的顶端安装有限位架，所述测试台顶端安装有观察结构。

3、优选的，所述测试箱通过测试连接线与测试主机相连接，所述安装卡槽呈等间距安装在测试箱的内部。

4、优选的，所述加热管贯穿测试箱的内部，所述测试箱通过导线与温度表构成电性连接。

5、优选的，所述观察结构包括固定杆，所述固定杆的安装到测试台顶端，所述固定杆的一侧安装有固定插槽，所述固定插槽的内部插设有工业显微镜。

6、优选的，所述工业显微镜与固定插槽构成卡合结构，所述工业显微镜通过导线与测试主机相连接，所述工业显微镜通过固定插槽与固定杆相连接。

7、优选的，所述拔插测试结构包括伸缩电机，所述伸缩电机安装到测试台的顶端，所述伸缩电机的一侧安装有控制器，所述伸缩电机的另一侧安装有安装架，所述安装架的一侧安装有测试插头。

8、优选的，所述控制器与伸缩电机构成电性连接，所述伸缩电机与安装架构成伸缩结构。

9、优选的，所述测试插头通过安装架与伸缩电机构成伸缩接，所述测试插头与测试主机构成电性连接。

10、本实用新型提供的该固态硬盘的寿命测试装置，本实用新型的有益效果是：不仅实现了高温测试功能，实现了拔插测试功能，而且实现了观察功能；

11、(1)通过设置高温测试结构，将其设置在测试连接线的一侧，使用时通过测试连接线将测试主机与固态硬盘进行连接，将固态硬盘卡合到测试箱内部的安装卡槽上，测试箱内部的加热管对测试箱内部的固态硬盘进行加热，通过测试箱顶端的温度表可以贯穿测试箱内部的温度，从而实现了高温测试功能，来测试固态硬盘高温承受度和使用寿命；

12、(2)通过设置观察结构，将其设置在测试台的顶端，使用时通过工业显微镜从固定杆一侧的固定插槽上取下来，通过工业显微镜对固态硬盘电路板进行贯穿，通过工业显微镜连接的测试主机后，将放大的图案通过显示屏显示处理，贯穿固态硬盘内部形态，从而实现了观察功能，方便对测试后固态硬盘进行观察；

13、(3)通过设置拔插测试结构，将其设置在测试台的顶端，使用时将固态硬盘固定到限位架上，然后通过伸缩电机带动安装架进行伸缩，通过安装架带动一侧的测试插头与固态硬盘进行拔插，通过测试插头与测试主机进行连接，观察固态硬盘的连接情况，伸缩电机一侧的控制器可以控制和记录拔插次数，从而实现了拔插测试功能，检测固态硬盘的使用寿命。

技术特征：

1.固态硬盘的寿命测试装置，包括测试台(1)，其特征在于：所述测试台(1)的内部安装有测试主机(6)，所述测试主机(6)的一端插设有测试连接线(7)，所述测试连接线(7)的一侧连接有高温测试结构(8)，所述高温测试结构(8)包括测试箱(801)，所述测试箱(801)安装在测试连接线(7)的一侧，所述测试箱(801)的顶端安装有温度表(802)，所述测试箱(801)的内部安装有安装卡槽(803)，所述测试箱(801)的内部的安装有加热管(804)，所述测试台(1)的顶端安装有显示屏(5)，所述测试台(1)的顶端安装有拔插测试结构(2)，所述测试台(1)的顶端安装有限位架(3)，所述测试台(1)顶端安装有观察结构(4)。

2.根据权利要求1所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述测试箱(801)通过测试连接线(7)与测试主机(6)相连接，所述安装卡槽(803)呈等间距安装在测试箱(801)的内部。

3.根据权利要求1所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述加热管(804)贯穿测试箱(801)的内部，所述测试箱(801)通过导线与温度表(802)构成电性连接。

4.根据权利要求1所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述观察结构(4)包括固定杆(403)，所述固定杆(403)的安装到测试台(1)顶端，所述固定杆(403)的一侧安装有固定插槽(402)，所述固定插槽(402)的内部插设有工业显微镜(401)。

5.根据权利要求4所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述工业显微镜(401)与固定插槽(402)构成卡合结构，所述工业显微镜(401)通过导线与测试主机(6)相连接，所述工业显微镜(401)通过固定插槽(402)与固定杆(403)相连接。

6.根据权利要求1所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述拔插测试结构(2)包括伸缩电机(202)，所述伸缩电机(202)安装到测试台(1)的顶端，所述伸缩电机(202)的一侧安装有控制器(201)，所述伸缩电机(202)的另一侧安装有安装架(204)，所述安装架(204)的一侧安装有测试插头(203)。

7.根据权利要求6所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述控制器(201)与伸缩电机(202)构成电性连接，所述伸缩电机(202)与安装架(204)构成伸缩结构。

8.根据权利要求6所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述测试插头(203)通过安装架(204)与伸缩电机(202)构成伸缩接，所述测试插头(203)与测试主机(6)构成电性连接。

技术总结本技术公开了固态硬盘的寿命测试装置，包括测试台，所述测试台的内部安装有测试主机，所述测试主机的一端插设有测试连接线，所述测试连接线的一侧连接有高温测试结构，所述高温测试结构包括测试箱，所述测试箱安装在测试连接线的一侧，所述测试箱的顶端安装有温度表，所述测试箱的内部安装有安装卡槽，所述测试箱的内部的安装有加热管，所述测试台的顶端安装有显示屏，本技术通过设置高温测试结构，使用时通过测试连接线将测试主机与固态硬盘进行连接，将固态硬盘卡合到测试箱内部的安装卡槽上，测试箱内部的加热管对测试箱内部的固态硬盘进行加热，通过测试箱顶端的温度表可以贯穿测试箱内部的温度，从而实现了高温测试功能。技术研发人员：詹利森受保护的技术使用者：固存芯控半导体科技（苏州）有限公司技术研发日：20230804技术公布日：2024/1/15