存储装置的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质与流程

本申请涉及存储装置测试，特别是涉及存储装置的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质。

背景技术：

1、存储装置在制作完成后，需要进行相关的测试，以检测存储装置的性能。其中，数据保持能力是衡量存储装置的重要指标。

2、因此，如何解决测试存储装置的保持数据能力是一个亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本申请提供了存储装置的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质，能够实现对存储装置的数据保持能力评估，进而能够筛选出数据保持能力不合格的存储装置，提升存储装置的品质。

2、第一方面，本申请提供一种存储装置的测试方法，该方法包括：在当前环境温度到达预设温度时，向存储装置进行写操作，以写入第一目标数据；在第一目标数据写入完成后，向存储装置发送关闭刷新指令，以使存储装置关闭数据刷新功能；在到达预设时长后，读取第一目标数据，得到第二目标数据；基于第一目标数据和第二目标数据进行比较，得到比较结果；基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估，得到存储装置对应的评估结果。

3、其中，在得到存储装置对应的评估结果之后，调节预设温度；并再次执行在当前环境温度到达预设温度时，向存储装置进行写操作，以写入第一目标数据的步骤。

4、其中，多次调节预设温度，并在每次调节预设温度后，得到调节后的预设温度对应的评估结果；基于多个评估结果确定出最佳温度。

5、其中，在得到存储装置对应的评估结果之后，调节预设时长，并再次执行向存储装置进行写操作，以写入第一目标数据的步骤；在到达预设时长后，读取第一目标数据，得到第二目标数据，包括：在到达调节后的预设时长后，读取第一目标数据，得到第二目标数据。

6、其中，调节预设时长包括：确定初始预设时长；若预设时长大于初始预设时长，则增加预设时长；若预设时长小于初始预设时长，则减少预设时长。

7、其中，多次调节预设时长，并在每次调节预设时长后，得到调节后的预设时长对应的评估结果；基于多个评估结果确定出当前环境温度下的最佳预设时长。

8、其中，存储装置包括第一存储装置和第二存储装置，第一存储装置为良品，第二存储装置为不良品；基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估，得到存储装置对应的评估结果，包括：基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估，分别得到第一存储装置和第二存储装置对应的评估结果。

9、第二方面，本申请提供一种测试装置，该测试装置用于测试存储装置，测试装置包括：温度检测组件，用于检测当前环境温度；通信接口，用于与存储装置连接；控制器，分别与温度检测组件和通信接口连接，用于接收当前环境温度，以及在当前环境温度到达预设温度时，通过通信接口向存储装置进行写操作，以写入第一目标数据；在第一目标数据写入完成后，向存储装置发送关闭刷新指令，以使存储装置关闭数据刷新功能；在到达预设时长后，读取第一目标数据，得到第二目标数据；基于第一目标数据和第二目标数据进行校对，得到校对结果；基于预设温度、预设时长和校对结果进行数据保持能力评估，得到存储装置对应的评估结果。

10、其中，控制器包括寄存器，寄存器用于存储关闭刷新指令。

11、第三方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序在被处理器执行时，实现如第一方面提供的方法。

12、本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请提供的存储装置的测试方法，该方法通过在当前环境温度到达预设温度时，向存储装置进行写操作，以写入第一目标数据；在第一目标数据写入完成后，向存储装置发送关闭刷新指令，以使存储装置关闭数据刷新功能；在到达预设时长后，读取第一目标数据，得到第二目标数据；基于第一目标数据和第二目标数据进行比较，得到比较结果；基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估，得到存储装置对应的评估结果的方式，能够在关闭存储装置的数据刷新功能的情况下，实现对存储装置的数据保持能力评估，进而能够筛选出数据保持能力不合格的存储装置，提升存储装置的品质。

技术特征：

1.一种存储装置的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在得到所述存储装置对应的评估结果之后，调节所述预设温度；并再次执行所述在当前环境温度到达预设温度时，向所述存储装置进行写操作，以写入第一目标数据的步骤。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，多次调节所述预设温度，并在每次调节所述预设温度后，得到调节后的所述预设温度对应的评估结果；

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在得到所述存储装置对应的评估结果之后，调节所述预设时长，并再次执行所述向所述存储装置进行写操作，以写入第一目标数据的步骤；

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述调节所述预设时长包括：

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，多次调节所述预设时长，并在每次调节所述预设时长后，得到调节后的所述预设时长对应的评估结果；

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储装置包括第一存储装置和第二存储装置，所述第一存储装置为良品，所述第二存储装置为不良品；所述基于所述预设温度、所述预设时长和所述比较结果进行数据保持能力评估，得到所述存储装置对应的评估结果，包括：

8.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置用于测试存储装置，所述测试装置包括：

9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述控制器包括寄存器，所述寄存器用于存储所述关闭刷新指令。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时，实现如权利要求1-7任一项所述的方法。

技术总结本申请公开了存储装置的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质。该方法包括：在当前环境温度到达预设温度时，向存储装置进行写操作，以写入第一目标数据；在第一目标数据写入完成后，向存储装置发送关闭刷新指令，以使存储装置关闭数据刷新功能；在到达预设时长后，读取第一目标数据，得到第二目标数据；基于第一目标数据和第二目标数据进行比较，得到比较结果；基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估，得到存储装置对应的评估结果。通过上述方式，实现对存储装置的数据保持能力评估，进而能够筛选出数据保持能力不合格的存储装置，提升存储装置的品质。技术研发人员：黄健华,刘小龙受保护的技术使用者：中山市江波龙电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/22