一种测试治具和测试系统的制作方法

本申请涉及芯片测试领域，尤其涉及一种测试治具和测试系统。

背景技术：

1、随着电子产品的普及，内存芯片的应用越来越广泛，内存芯片作为一种存储设备，它的性能对于整个系统的性能有着重要的影响；为了确保内存芯片的性能和质量，需要对内存芯片进行测试，对内存芯片进行颗粒优劣的筛选和性能测试时，需要专门的测试人员在测试机台旁时刻关注测试的状态，一旦发现测试报错情况，就会采取相应的措施，再重新进行测试。

2、具体的，测试前需要将内存颗粒装载在内存测试治具内，测试完成后再将颗粒取出从而进行下一轮的测试；现有方案测试时需要有测试人员在现场，对测试过程进行跟踪，发现测试报错时，人为的修改测试资料，再继续测试，整个测试过程需要大量的时间和人工成本。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种测试治具和测试系统，实现自动化测试，减少人工成本。

2、本申请公开了一种测试治具，用于测试存储芯片，所述测试治具与一测试主机连接，所述测试治具的一面上设有单片机、网络通讯模块和串口通讯模块，所述网络通讯模块的一端与所述单片机连接，另一端与一上位机连接，所述串口通讯模块一端连接所述单片机，另一端连接测试主机；所述测试主机设有第一网口，通过第一网口与一交换机连接；所述交换机与所述上位机连接；所述测试治具的另一面设有放置待测试的存储芯片的存储芯片测试区；其中，所述测试治具上的存储芯片的测试数据，由所述单片机通过网络通讯模块上传至所述上位机。

3、可选的，所述网络通讯模块包括协议转换芯片和第二网口，所述协议转换芯片一端连接所述单片机，另一端连接所述第二网口，所述第二网口与所述上位机连接。

4、可选的，所述测试治具包括电源接口，所述测试主机通过所述电源接口与所述单片机连接，并给所述单片机进行供电。

5、可选的，所述串口通讯模块包括串口芯片和通讯串口，所述测试主机通过所述通讯串口、串口芯片与所述单片机连接。

6、可选的，所述单片机包括双向总线通讯模块和主控模块，所述双向总线通讯模块的一端与所述主控模块连接，另一端通过双向总线总线与所述测试主机连接，所述测试主机通过双向总线总线与所述双向总线通讯模块进行数据交互。

7、可选的，所述双向总线通讯模块包括测试数据烧录芯片和双向总线通讯接口，所述测试数据烧录芯片一端与所述待测试的存储芯片连接，另一端通过双向总线通讯接口与所述单片机的主控模块连接。

8、可选的，所述单片机包括测试数据采集模块，所述测试数据采集模块用于采集所述存储芯片的测试运行信息，并将所述测试运行信息上传至所述上位机。

9、可选的，所述存储芯片包括ddr颗粒，所述单片机、网络通讯模块以及ddr颗粒集成设置在所述测试治具上。

10、可选的，所述测试治具包括检测模块，所述测试治具上还设有多个拨码开关，所述拨码开关与所述检测模块连接，通过控制不同的所述拨码开关以控制所述检测模块对所述待测试的存储芯片的不同性能进行测试。

11、本申请还公开了一种测试系统，所述测试系统包括如上任一所述的测试治具，所述测试系统还包括测试机台、设置在所述测试机台上的测试主机、交换机、上位机以及放置在测试治具上的测试座子，所述测试治具插入所述测试主机内，与所述测试主机设置在一测试机台上；所述测试座子设置在测试治具上，与所述测试治具电连接，所述测试座子上放置被测试的存储芯片。

12、相对于现有的测试治具或测试系统来说，本申请在测试治具上了设置了单片机、网络通信模块和串口通讯模块，将测试治具和测试主机、交换机和上位机相互连接在一起，形成了一套信息采集与信息传输模块，可以通过远程的上位机对单片机上传的数据对交换机实时控制，进而使用交换机完成对测试机台的各项测试的数据交换，以实现半自动、全自动设备的方式操作测试，减少人力成本。

技术特征：

1.一种测试治具，用于测试存储芯片，其特征在于，所述测试治具与一测试主机连接，所述测试治具的一面上设有单片机、网络通讯模块和串口通讯模块，所述网络通讯模块的一端与所述单片机连接，另一端与一上位机连接，所述串口通讯模块一端连接所述单片机，另一端连接测试主机；所述测试主机设有第一网口，通过第一网口与一交换机连接；所述交换机与所述上位机连接；所述测试治具的另一面设有放置待测试的存储芯片的存储芯片测试区；

2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述网络通讯模块包括协议转换芯片和第二网口，所述协议转换芯片一端连接所述单片机，另一端连接所述第二网口，所述第二网口与所述上位机连接。

3.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具包括电源接口，所述测试主机通过所述电源接口与所述单片机连接，并给所述单片机进行供电。

4.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述串口通讯模块包括串口芯片和通讯串口，所述测试主机通过所述通讯串口、串口芯片与所述单片机连接。

5.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述单片机包括双向总线通讯模块和主控模块，所述双向总线通讯模块的一端与所述主控模块连接，另一端通过双向总线总线与所述测试主机连接，所述测试主机通过双向总线总线与所述双向总线通讯模块进行数据交互。

6.如权利要求5所述的测试治具，其特征在于，所述双向总线通讯模块包括测试数据烧录芯片和双向总线通讯接口，所述测试数据烧录芯片一端与所述待测试的存储芯片连接，另一端通过双向总线通讯接口与所述单片机的主控模块连接。

7.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述单片机包括测试数据采集模块，所述测试数据采集模块用于采集所述存储芯片的测试运行信息，并将所述测试运行信息上传至所述上位机。

8.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述存储芯片包括ddr颗粒，所述单片机、网络通讯模块以及ddr颗粒集成设置在所述测试治具上。

9.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具包括检测模块，所述测试治具上还设有多个拨码开关，所述拨码开关与所述检测模块连接，通过控制不同的所述拨码开关以控制所述检测模块对所述待测试的存储芯片的不同性能进行测试。

10.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括如权利要求1-9任意一项所述的测试治具，所述测试系统还包括测试机台、设置在所述测试机台上的测试主机、交换机、上位机以及放置在测试治具上的测试座子，所述测试治具插入所述测试主机内，与所述测试主机设置在一测试机台上；所述测试座子设置在测试治具上，与所述测试治具电连接，所述测试座子上放置被测试的存储芯片。

技术总结本申请公开了一种测试治具和测试系统，测试治具用于测试存储芯片，测试治具与一测试主机连接，测试治具上设有单片机、网络通讯模块和串口通讯模块，网络通讯模块的一端与单片机连接，另一端与一上位机连接，串口通讯模块一端连接单片机，另一端连接测试主机；测试主机设有第一网口，通过第一网口与一交换机连接；交换机与上位机连接；其中，测试治具上的存储芯片的测试数据，由单片机通过网络通讯模块上传至上位机。本申请在一个测试治具上设置单片机、网络通讯模块和串口通讯模块，集成了一套信息采集与信息传输模块，测试治具对存储芯片可实现半自动或全自动的测试，从而提高测试效率，节省时间成本。技术研发人员：徐张坤,俞文全受保护的技术使用者：深圳市时创意电子有限公司技术研发日：20230718技术公布日：2024/1/25