一种存储器性能的测试系统及测试方法与流程

本发明涉及存储领域，特别涉及一种存储器性能的测试系统及测试方法。

背景技术：

1、内嵌式存储器（embedded multi media card，emmc）在电视机、机顶盒、平板电脑、手机等电子产品中被广泛应用。emmc是由arm cpu作为控制器再加上闪存块（nand flash）构成，其中arm cpu会运行控制器软件，通常称为固件(firmware)。主机的处理器（cpu）通过emmc协议对emmc内部存储颗粒上的数据进行读写。存储颗粒的性能稳定性是衡量产品的重要指标，存储颗粒的性能越好，则用户体验越好。

2、对于目前的内嵌式存储器而言，不同厂家的内嵌式存储器的类型可能是不同的。在对内嵌式存储器的性能进行测试时，效率较为低下。因此，存在待改进之处。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储器性能的测试系统及测试方法，能够同时对不同型号的存储器的性能进行测试。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、本发明提供了一种存储器性能的测试系统，包括：

4、测试温箱，被配置为调节测试的环境温度；

5、至少一个测试板，位于所述测试温箱内，且被配置为其上通讯连接有待测存储器，以搭建对应的测试环境；以及

6、处理器，通信连接于所述测试板，且被配置为获取所述环境温度与主机数据，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值。

7、在本发明一实施例中，所述主机数据包括随机写数据与顺序写数据，所述处理器还被配置为向所有的所述待测存储器随机写入所述随机写数据、顺序写入所述顺序写数据，从所有的所述待测存储器中随机读取随机读数据、顺序读取顺序读数据。

8、在本发明一实施例中，所述处理器还被配置为获取不同时间段内所述随机写数据、所述顺序写数据、所述随机读数据以及所述顺序读数据的数据量，并根据数据量与不同时间间隔的比值，以生成对应的所述待测存储器的随机写性能值、顺序写性能值、随机读性能值与顺序读性能值。

9、在本发明一实施例中，所述处理器还被配置为确定所述待测存储器的数据传输引脚处于低电平状态时，执行的动作为暂停读写操作，直至所述数据传输引脚处于高电平状态为止。

10、在本发明一实施例中，所述处理器还被配置为确定所述待测存储器的数据传输引脚处于高电平状态时，执行的动作为执行读写操作，直至数据读写完成为止。

11、在本发明一实施例中，所述处理器还被配置为在不同的环境温度下，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值。

12、在本发明一实施例中，还包括主机端，被配置为获取来自所述处理器的所有的所述待测存储器的性能值，并显示。

13、在本发明一实施例中，所述待测存储器的数量小于或等于所述测试板的数量，所述测试板的数量小于或等于所述处理器的核心数量。

14、本发明还提供了一种存储器性能的测试方法，包括：

15、获取至少一个待测存储器，以搭建对应的测试环境；

16、获取当前的环境温度与主机数据，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值。

17、在本发明一实施例中，在所述获取当前的环境温度与主机数据，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值的步骤之后，还包括：

18、对所述环境温度进行调节，以获取在不同的所述环境温度下所有的所述待测存储器的性能值；

19、将所有的所述待测存储器的性能值发送到主机端，并显示。

20、如上所述，本发明提供一种存储器性能的测试系统及测试方法，针对不同型号的存储器，能够同时对其读写性能进行测试，且测试效率较高。同时，在主机端的ui界面上，通过实时对存储器的读写性能值进行归纳显示，能够方便对存储器的读写性能进行直观显示。

21、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储器性能的测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述主机数据包括随机写数据与顺序写数据，所述处理器还被配置为向所有的所述待测存储器随机写入所述随机写数据、顺序写入所述顺序写数据，从所有的所述待测存储器中随机读取随机读数据、顺序读取顺序读数据。

3.根据权利要求2所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述处理器还被配置为获取不同时间段内所述随机写数据、所述顺序写数据、所述随机读数据以及所述顺序读数据的数据量，并根据数据量与不同时间间隔的比值，以生成对应的所述待测存储器的随机写性能值、顺序写性能值、随机读性能值与顺序读性能值。

4.根据权利要求2所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述处理器还被配置为确定所述待测存储器的数据传输引脚处于低电平状态时，执行的动作为暂停读写操作，直至所述数据传输引脚处于高电平状态为止。

5.根据权利要求4所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述处理器还被配置为确定所述待测存储器的数据传输引脚处于高电平状态时，执行的动作为执行读写操作，直至数据读写完成为止。

6.根据权利要求1所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述处理器还被配置为在不同的环境温度下，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值。

7.根据权利要求6所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，还包括主机端，被配置为获取来自所述处理器的所有的所述待测存储器的性能值，并显示。

8.根据权利要求1所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述待测存储器的数量小于或等于所述测试板的数量，所述测试板的数量小于或等于所述处理器的核心数量。

9.一种存储器性能的测试方法，其特征在于，包括：

10.根据权利要求9所述的存储器性能的测试方法，其特征在于，在所述获取当前的环境温度与主机数据，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值的步骤之后，还包括：

技术总结本发明提供了一种存储器性能的测试系统及测试方法，包括：测试温箱，被配置为调节测试的环境温度；至少一个测试板，位于所述测试温箱内，且被配置为其上通讯连接有待测存储器，以搭建对应的测试环境；以及处理器，通信连接于所述测试板，且被配置为获取所述环境温度与主机数据，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值。通过本发明提供的一种存储器性能的测试系统及测试方法，能够同时对不同型号的存储器的性能进行测试。技术研发人员：余玉,许展榕受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/25