测试装置和测试系统的制作方法

本申请涉及存储产品测试领域，尤其涉及一种测试装置和测试系统。

背景技术：

1、由于存储电子产品的集成度和传输速率越来越高，以及消费者对电子产品高速率，高稳定性的殷切需求。针对存储产品的测试筛选要求越来越严格，需要我们不断加严对产品的测试条件，以达到高速率传输下的高稳定性，来符合市场需求。因此，产品除了需要经历极端温度条件测试，还需要在极端温度下进行极端电压的测试。

2、传统的测试方法是将设置有存储产品的测试板放进高低温箱，通过人工设置温箱温度，根据烤箱温度手动更改对应存储产品的输入电压。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种测试装置和测试系统，提高芯片测试的准确度，节约人工成本。

2、本申请公开了一种测试装置，用于测试存储产品，所述测试装置包括主控模块和至少一个测试板，所述测试板与所述主控模块连接，所述测试板包括板体、电源控制模块、温度感应模块和至少一个存储产品接口；所述存储产品接口设置在板体，用于与存储产品连接，所述电源控制模块设置在所述板体上，并连接在所述主控模块与多个所述存储产品接口之间；所述温度感应模块设置在所述板体上，并与所述主控模块连接；

3、所述主控模块根据温度感应模块的反馈信号调节所述电源控制模块对所述存储产品接口的输出电压。

4、可选的，所述测试板还包括主控接口，所述主控接口设置在所述板体上，所述主控模块通过连接线插接在所述主控接口上。

5、可选的，所述电源控制模块包括电压调节模块和dcdc转换器，所述电压调节模块与所述dcdc转换器连接；

6、所述电压调节模块至少包括并联设置的第一开关电路、第二开关电路和第三开关电路，所述第一开关电路、所述第二开关电路和所述第三开关电路内分别设置有第一电阻、第二电阻和第三电阻，且所述第一开关电路、所述第二开关电路和所述第三开关电路分别连接有第一开关、第二开关和第三开关。

7、可选的，所述主控模块还包括计时模块，所述计时模块与所述电源控制模块连接，所述计时模块在达到预设时间后调节所述电源控制模块对所述存储产品接口的输出电压。

8、可选的，所述测试装置还包括测试反馈模块，所述测试反馈模块与所述主控模块连接。

9、可选的，所述测试装置还包括温度阈值控制模块，所述温度阈值控制模块与所述主控模块连接。

10、可选的，所述测试装置包括多个测试板，所述主控模块同时连接多个所述测试板。

11、可选的，所述主控接口为耐高温接口。

12、可选的，所述温度感应模块包括第一温度传感芯片、第二温度传感芯片、第三温度传感芯片和第四温度传感芯片，所述第一温度传感芯片、所述第二温度传感芯片、所述第三温度传感芯片和所述第四温度传感芯片分别设置在所述板体的四个角落，所述第一温度传感芯片、所述第二温度传感芯片、所述第三温度传感芯片和所述第四温度传感芯片均与所述主控模块连接。

13、本申请还公开了一种测试系统，包括主机端、高低温箱和测试装置，所述主机端与所述测试装置连接，所述测试装置内的测试板设置在所述高低温箱内。

14、相对于采用人工根据高低温箱内的温度进行手动调节电源控制模块的输出电压的方案来说，本申请通过增加一个主控模块，所述主控模块可以根据温度感应模块的反馈信号来调节电源控制模块的输出电压，不需要人工实时观测高低温箱内的温度，并且也不需要人工手动调节电源控制模块的输出电压，提高了自动化程度，既节约人工成本，而且还能提高芯片测试的准确度。

技术特征：

1.一种测试装置，用于测试存储产品，其特征在于，所述测试装置包括主控模块和至少一个测试板，所述测试板与所述主控模块连接，所述测试板包括板体、电源控制模块、温度感应模块和至少一个存储产品接口；所述存储产品接口设置在板体上，用于与存储产品连接，所述电源控制模块设置在所述板体上，并连接在所述主控模块与多个所述存储产品接口之间；所述温度感应模块设置在所述板体上，并与所述主控模块连接；

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试板还包括主控接口，所述主控接口设置在所述板体上，所述主控模块通过连接线插接在所述主控接口上。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述电源控制模块包括电压调节模块和dcdc转换器，所述电压调节模块与所述dcdc转换器连接；

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述主控模块还包括计时模块，所述计时模块与所述电源控制模块连接，所述计时模块在达到预设时间后调节所述电源控制模块对所述存储产品接口的输出电压。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括测试反馈模块，所述测试反馈模块与所述主控模块连接。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括温度阈值控制模块，所述温度阈值控制模块与所述主控模块连接。

7.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括多个测试板，所述主控模块同时连接多个所述测试板。

8.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述主控接口为耐高温接口。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述温度感应模块包括第一温度传感芯片、第二温度传感芯片、第三温度传感芯片和第四温度传感芯片，所述第一温度传感芯片、所述第二温度传感芯片、所述第三温度传感芯片和所述第四温度传感芯片分别设置在所述板体的四个角落，所述第一温度传感芯片、所述第二温度传感芯片、所述第三温度传感芯片和所述第四温度传感芯片均与所述主控模块连接。

10.一种测试系统，其特征在于，包括主机端、高低温箱和如权利要求1-9中任意一项所述的测试装置，所述主机端与所述测试装置连接，所述测试装置内的测试板设置在所述高低温箱内。

技术总结本申请公开了一种测试装置和测试系统，用于测试存储产品，所述测试装置包括主控模块和至少一个测试板，所述测试板与所述主控模块连接，所述测试板包括板体、电源控制模块、温度感应模块和至少一个存储产品接口；存储产品接口设置在板体上，用于与存储产品连接，所述电源控制模块设置在所述板体上，并连接在主控模块与多个所述存储产品接口之间；所述温度感应模块设置在所述板体上，并与所述主控模块连接；主控模块根据温度感应模块的反馈信号调节所述电源控制模块对所述存储产品接口的输出电压。通过上述设计，不需要人工实时观测高低温箱内的温度，并且也不需要人工手动调节电源控制模块的输出电压，节约人工成本，提高产品测试的准确度。技术研发人员：许颖萍,俞文全受保护的技术使用者：深圳市时创意电子有限公司技术研发日：20230612技术公布日：2024/1/25