一种便携式串行存储器测试装置及其测试方法与流程

本发明属于存储器测试领域，涉及一种低成本便携式存储器测试装置及其测试方法。

背景技术：

1、在各类数字模块产品开发时，存储器作为电子元器件使用频率很高，产品开发时会遇到焊接错误，元器件故障、电路设计错误等各种问题导致功能无法实现，其中对于存储器芯片调试时，存储读数时掉电、连接错误等原因都可能造成其功能无法实现。为了更好的完成产品的开发，就需要一种可以对存储器功能快速便捷测试的装置。

2、经过对现有专利检索，中国专利《一种存储器测试方法、存储器芯片及存储器系统》（专利号cn112164416 a），主要是针对存储器的不同特性的测试。但是其测试时间长，测试步骤复杂，无法满足便捷、快速的测试要求。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种可以便捷、快速的对存储器功能测试的设备及其测试方法，修改电路成本低，且可以快速对不同型号的存储器储存、读取功能验证，为产品开发时的错误排查提供支持。

2、一种便携式串行存储器测试装置，主要由单片机控制电路、液晶显示屏，存储器夹具构成，单片机控制电路由单片机stm32f103rct6、基础外设和按键组成，单片机中设有spi协议通信模块、读取对比模块和结果分析模块组成的测试系统，存储器夹具通过spi接口与spi协议通信模块相连，通过按键对测试系统进行操作，液晶显示屏接受结果分析模块的信号实时显示储存器测试状态；

3、spi接口使用4条线通信， miso主设备数据输入，从设备数据输出； mosi主设备数据输出，从设备数据输入；sclk 时钟信号，由主设备产生，cs从设备片选信号，由主设备控制，以25q系列存储器为例，将其si、so、cs、clk引脚与主控芯片spi接口连接。

4、本发明还提供了一种便携式串行存储器测试装置的测试方法，对存储器的测试主要为验证其读写功能是否正常，对存储器读写操作的实现由主控芯片对其发送相关命令完成，通过矩阵键盘输入写入测试、读取测试命令控制单片机对被测存储器的测试，串行存储器与主控芯片之间的通信通过异步串行通信的方式完成，通信协议为spi协议，主机为stm32单片机，从机为被测存储器芯片，时钟由单片机产生；

5、测试时系统状态由液晶显示屏显示，通过按键控制测试系统，当存储器被放置在夹具中，系统识别其ip显示其信息，通过对存储器芯片进行存储与读数操作，数据读出后系统自动与存取的数据进行对比，结果显示在液晶显示屏上。

6、本发明主要针对存储器功能进行测试，存储器测试装置主控芯片为stm32单片机，针对不同类型存储区将其读写命令写入单片机测试程序中，主控芯片通过spi协议采用异步串行通信的方式对存储器进行读写操作。产品开发时对存储器的验证主要是功能验证，可以正常完成读写操作。测试时分别对其写入十六进制数55与aa，即二进制数10101010与01010101，以保证存储器每个单元都可以正常写0与写1，每次写入后对其进行读取，比较读取结果与写入数据以保证其功能正确，读取后对其擦除，由此可对存储器功能快速验证。本系统配置有液晶显示屏与按键，操作简单便捷。

7、本发明的有益效果是，设计简单，可以快速便捷的对存储器的功能进行验证，为各类相关产品研发时错误分析提供排查手段。

技术特征：

1.一种便携式串行存储器测试装置，其特征在于主要由单片机控制电路、液晶显示屏，存储器夹具构成，单片机控制电路由单片机stm32f103rct6、基础外设和按键组成，单片机中设有spi协议通信模块、读取对比模块和结果分析模块组成的测试系统，存储器夹具通过spi接口与spi协议通信模块相连，通过按键对测试系统进行操作，液晶显示屏接受结果分析模块的信号实时显示储存器测试状态；

2.如权利要求1所述的一种便携式串行存储器测试装置的测试方法，其特征在于，对存储器的测试主要为验证其读写功能是否正常，对存储器读写操作的实现由主控芯片对其发送相关命令完成，通过矩阵键盘输入写入测试、读取测试命令控制单片机对被测存储器的测试，串行存储器与主控芯片之间的通信通过异步串行通信的方式完成，通信协议为spi协议，主机为stm32单片机，从机为被测存储器芯片，时钟由单片机产生；

技术总结本发明涉及一种便携式串行存储器测试装置，主要由单片机控制电路、液晶显示屏，存储器夹具构成，单片机中设有SPI协议通信模块、读取对比模块和结果分析模块组成的测试系统，存储器夹具通过SPI接口与SPI协议通信模块相连，通过按键对测试系统进行操作，液晶显示屏接受结果分析模块的信号实时显示储存器测试状态。测试时系统状态由液晶显示屏显示，通过按键控制测试系统，当存储器被放置在夹具中，系统识别其IP显示其信息，通过对存储器芯片进行存储与读数操作，数据读出后系统自动与存取的数据进行对比，结果显示在液晶显示屏上。本发明的有益效果是，结构简单，可以快速便捷的对存储器的功能进行验证，为各类相关产品研发时错误分析提供排查手段。技术研发人员：谢玉巧,郑宇,师浩伟,赵晓雷,王坤,周玉柱受保护的技术使用者：华东光电集成器件研究所技术研发日：技术公布日：2024/1/22