一种存储装置及其数据处理方法与流程

本发明涉及静态存储，特别涉及一种存储装置及其数据处理方法。

背景技术：

1、存储芯片是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用。无论是系统芯片还是存储芯片，都是通过在单一芯片中嵌入软件，以实现多功能、高性能以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。存储芯片广泛应用于计算机、移动设备、物联网等领域，用于存储各种数据，如操作系统、应用程序、音乐、视频、照片等。

2、目前存储芯片的故障率较高，会发生存储系统运行异常的情况。因此，存在待改进之处。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储装置及其数据处理方法，可用以改善现有技术中存在的存储芯片的故障率较高，会发生存储系统运行异常的问题。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、本发明提出一种存储装置，包括：

4、闪存模块，包括：

5、固件存储面，用以存储固件程序；

6、其他存储面，包括多个区块，用以存储主机写入的数据；

7、控制模块，电连接于所述闪存模块，用以判断所述其他存储面上的测试区块是否存在于坏块表中，并基于判断结果，对所述测试区块进行测试，所述坏块表为在所述闪存模块的筛选测试中，对坏区块创建的表；

8、其中，所述控制模块对所述其他存储面上的多个测试区块进行擦除处理，并根据擦除结果，以生成测试信息。

9、在本发明的一个实施例中，所述控制模块用以确认所述其他存储面上的测试区块存在于坏块表时，将测试区块的位置向后顺延一位，所述控制模块确认所述其他存储面上的测试区块不存在于坏块表时，对所述测试区块进行测试。

10、在本发明的一个实施例中，所述控制模块用以确认对所述测试区块擦除失败时，将擦除失败的区块数量增加，所述控制模块确认对所述测试区块擦除成功时，向所述测试区块写入默认数据。

11、在本发明的一个实施例中，所述控制模块用以确认测试区块的数量大于等于三个时，根据测试区块的擦除结果生成测试信息，所述控制模块确认测试区块的数量小于三个时，在所述闪存模块上选取新的测试区块进行测试。

12、在本发明的一个实施例中，所述控制模块用以对所述其他存储面上1/n、2/n、3/n位置处的测试区块进行擦除处理，以生成测试信息，n为大于3的正整数。

13、在本发明的一个实施例中，所述控制模块用以对所述其他存储面上任意三个位置处的测试区块进行擦除处理，以生成测试信息。

14、在本发明的一个实施例中，所述控制模块用以对所述其他存储面上多个测试区块同时进行测试，或者所述控制模块用以对所述其他存储面上的多个测试区块，按照预设的先后顺序进行测试。

15、在本发明的一个实施例中，所述控制模块用以确认所述其他存储面上擦除失败的区块数量大于等于一个时，生成所述其他存储面的故障信息，所述控制模块用以确认所述其他存储面上擦除失败的区块数量小于一个时，生成其他存储面的正常信息。

16、在本发明的一个实施例中，所述控制模块对所述其他存储面上的多个测试区块进行读/写处理，并根据读/写结果，以生成测试信息。

17、本发明还提出一种存储装置的数据处理方法，包括：

18、在闪存模块中，存储固件程序到固件存储面上，存储主机写入的数据到其他存储面上，其中所述其他存储面包括多个区块；

19、通过控制模块对所述闪存模块的识别和读写进行控制；

20、通过所述控制模块，判断所述其他存储面上的测试区块是否存在于坏块表中，并基于判断结果，对所述测试区块进行测试，其中，所述坏块表为在所述闪存模块的筛选测试中，对坏区块创建的表；以及

21、通过所述控制模块对所述其他存储面上的多个测试区块进行擦除处理，并根据擦除结果，以生成测试信息。

22、如上所述，本发明提供了一种存储装置及其数据处理方法，可快速高效的筛选出产品性能良好的存储芯片，提高存储芯片的检测效率。

23、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种存储装置，其特征在于，所述控制模块用以确认所述其他存储面上的测试区块存在于坏块表时，将测试区块的位置向后顺延一位，所述控制模块确认所述其他存储面上的测试区块不存在于坏块表时，对所述测试区块进行测试。

3.根据权利要求1所述的一种存储装置，其特征在于，所述控制模块用以确认对所述测试区块擦除失败时，将擦除失败的区块数量增加，所述控制模块确认对所述测试区块擦除成功时，向所述测试区块写入默认数据。

4.根据权利要求1所述的一种存储装置，其特征在于，所述控制模块用以确认测试区块的数量大于等于三个时，根据测试区块的擦除结果生成测试信息，所述控制模块确认测试区块的数量小于三个时，在所述闪存模块上选取新的测试区块进行测试。

5.根据权利要求4所述的一种存储装置，其特征在于，所述控制模块用以对所述其他存储面上1/n、2/n、3/n位置处的测试区块进行擦除处理，以生成测试信息，n为大于3的正整数。

6.根据权利要求4所述的一种存储装置，其特征在于，所述控制模块用以对所述其他存储面上任意三个位置处的测试区块进行擦除处理，以生成测试信息。

7.根据权利要求4所述的一种存储装置，其特征在于，所述控制模块用以对所述其他存储面上多个测试区块同时进行测试，或者所述控制模块用以对所述其他存储面上的多个测试区块，按照预设的先后顺序进行测试。

8.根据权利要求1所述的一种存储装置，其特征在于，所述控制模块用以确认所述其他存储面上擦除失败的区块数量大于等于一个时，生成所述其他存储面的故障信息，所述控制模块用以确认所述其他存储面上擦除失败的区块数量小于一个时，生成其他存储面的正常信息。

9.根据权利要求1所述的一种存储装置，其特征在于，所述控制模块对所述其他存储面上的多个测试区块进行读/写处理，并根据读/写结果，以生成测试信息。

10.一种存储装置的数据处理方法，其特征在于，包括：

技术总结本发明涉及静态存储技术领域，特别涉及一种存储装置及其数据处理方法。存储装置包括：闪存模块，包括：固件存储面，用以存储固件程序；其他存储面，包括多个区块，用以存储主机写入的数据；控制模块，电连接于闪存模块，用以判断其他存储面上的测试区块是否存在于坏块表中，并基于判断结果，对测试区块进行测试，坏块表为在闪存模块的筛选测试中，对坏区块创建的表；其中，控制模块对其他存储面上的多个测试区块进行擦除处理，并根据擦除结果，以生成测试信息。本发明可快速高效的筛选出产品性能良好的存储芯片，提高存储芯片的检测效率。技术研发人员：蔡孟翔,李钢受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/22