快闪存储器的质量分析方法、装置、电子设备及介质与流程

本发明涉及存储器，特别涉及一种快闪存储器的质量分析方法、装置、电子设备及介质。

背景技术：

1、快闪存储器是一种允许在操作中被多次擦写的存储器，具有非易失、读写速度快等特点，目前己广泛应用于各类电子设备中。由于快闪存储器存在擦写次数阈值，随着快闪存储器的擦写次数增多，快闪存储器容易出现错误数据过多导致无法纠错的情况，即不可纠正错误。因此，在快闪存储器出厂前，需要分析快闪存储器进行擦写操作后的闪存质量，以基于分析结果提升快闪存储器的性能。

2、目前，在分析快闪存储器进行擦写操作后的闪存质量时，容易出现分析误差，导致分析结果的准确率低。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种快闪存储器的质量分析方法、装置、电子设备及介质，本发明在分析快闪存储器进行擦写操作后的闪存质量时，能够显著降低分析误差，从而提高分析结果的准确率。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、如上所述，一种快闪存储器的质量分析方法，包括如下步骤：

4、对待测试的快闪存储器中的闪存块进行编号，以生成每个所述闪存块的编号数据；

5、基于预设的分组规则，对所述闪存块进行分组处理，以生成多个闪存块组，所述分组规则包括所述闪存块组的数量以及每个所述闪存块组包含的所述闪存块的编号数据；

6、为每个所述闪存块组分别确定对应的目标擦写次数；

7、基于每个所述闪存块组对应的所述目标擦写次数，对每个所述闪存块组包含的闪存块进行相应次数的擦写操作；

8、对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据。

9、在本发明一实施例中，每个所述闪存块组包含的所述闪存块的编号数据表示为：n≤xi≤n+a，每个所述闪存块组对应的目标擦写次数表示为：[(i-1)×10+10]×10，其中，i为第i个闪存块组，xi为第i个闪存块组包含的闪存块的编号数据，n为常数，a为常数。

10、在本发明一实施例中，每个所述闪存块组包含的所述闪存块的编号数据表示为：xi%b=i-1，每个所述闪存块组对应的目标擦写次数表示为：[(i-1)×10+10]×10，其中，i为第i个闪存块组，xi为第i个闪存块组包含的闪存块的编号数据，b为常数。

11、在本发明一实施例中，所述对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据的步骤包括：

12、向多个所述闪存块内写入预设数据，其中，多个所述闪存块分别对应不同的目标擦写次数；

13、对多个所述闪存块分别执行数据读取操作，并记录对应的数据读取次数；

14、当每个所述闪存块出现不可纠正错误时，将对应的所述数据读取次数确定为该闪存块的读干扰次数阈值；

15、建立多个所述闪存块的目标擦写次数与对应的读干扰次数阈值之间的关系表；

16、对所述关系表进行分析处理，以生成所述质量分析数据。

17、在本发明一实施例中，所述对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据的步骤包括：

18、向多个所述闪存块内写入预设数据，其中，多个所述闪存块分别对应不同的目标擦写次数；

19、对所述快闪存储器进行升温处理操作，在所述升温处理操作的操作时间内，在多个预设时间点重复读取每个所述闪存块的原始比特误码率；

20、建立每个所述闪存块的原始比特误码率与所述时间点之间的关系表；

21、对所述关系表进行分析处理，以确定每个所述闪存块的数据保存时间；

22、对所述数据保存时间进行分析处理，生成所述质量分析数据。

23、在本发明一实施例中，所述对所述快闪存储器进行升温处理操作的步骤包括：

24、对所述快闪存储器进行断电处理；

25、将所述快闪存储器放入变温装置内，以对快闪存储器进行升温处理。

26、在本发明一实施例中，所述对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据的步骤之后，还包括：

27、对进行擦写操作后的所述闪存块进行擦写次数清除处理；

28、对所述闪存块进行运行测试，以生成测试数据。

29、本发明还提供一种快闪存储器的质量分析装置，包括：

30、编号模块，用于对待测试的快闪存储器中的闪存块进行编号，以生成每个所述闪存块的编号数据；

31、分组模块，用于基于预设的分组规则，对所述闪存块进行分组处理，以生成多个闪存块组，所述分组规则包括所述闪存块组的数量以及每个所述闪存块组包含的所述闪存块的编号数据；

32、确定模块，用于为每个所述闪存块组分别确定对应的目标擦写次数；

33、测试模块，用于基于每个所述闪存块组对应的所述目标擦写次数，对每个所述闪存块组包含的闪存块进行相应次数的擦写操作；

34、分析模块，用于对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据。

35、本发明还提供一种电子设备，包括：

36、存储器，用于存储计算机程序；

37、处理器，用于执行所述计算机程序以实现上述的快闪存储器的质量分析方法的步骤。

38、本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用以实现上述的快闪存储器的质量分析方法的步骤。

39、如上所述，本发明提供一种快闪存储器的质量分析方法、装置、电子设备及介质，在分析快闪存储器进行擦写操作后的闪存质量时，能够显著降低分析误差，从而提高分析结果的准确率。

40、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种快闪存储器的质量分析方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种快闪存储器的质量分析方法，其特征在于，每个所述闪存块组包含的所述闪存块的编号数据表示为：n≤xi≤n+a，每个所述闪存块组对应的目标擦写次数表示为：[(i-1)×10+10]×10，其中，i为第i个闪存块组，xi为第i个闪存块组包含的闪存块的编号数据，n为常数，a为常数。

3.根据权利要求1所述的一种快闪存储器的质量分析方法，其特征在于，每个所述闪存块组包含的所述闪存块的编号数据表示为：xi%b=i-1，每个所述闪存块组对应的目标擦写次数表示为：[(i-1)×10+10]×10，其中，i为第i个闪存块组，xi为第i个闪存块组包含的闪存块的编号数据，b为常数。

4.根据权利要求1所述的一种快闪存储器的质量分析方法，其特征在于，所述对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据的步骤包括：

5.根据权利要求1所述的一种快闪存储器的质量分析方法，其特征在于，所述对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据的步骤包括：

6.根据权利要求5所述的一种快闪存储器的质量分析方法，其特征在于，所述对所述快闪存储器进行升温处理操作的步骤包括：

7.根据权利要求1所述的一种快闪存储器的质量分析方法，其特征在于，所述对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据的步骤之后，还包括：

8.一种快闪存储器的质量分析装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用以实现如权利要求1至7任一项所述的快闪存储器的质量分析方法的步骤。

技术总结本发明提供了一种快闪存储器的质量分析方法、装置、电子设备及介质，包括如下步骤：对待测试的快闪存储器中的闪存块进行编号，以生成每个闪存块的编号数据，基于预设的分组规则，对闪存块进行分组处理，以生成多个闪存块组，分组规则包括闪存块组的数量以及每个闪存块组包含的闪存块的编号数据，为每个闪存块组分别确定对应的目标擦写次数，基于每个闪存块组对应的目标擦写次数，对每个闪存块组包含的闪存块进行相应次数的擦写操作，对进行擦写操作后的闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据。本发明在分析快闪存储器进行擦写操作后的闪存质量时，能够显著降低分析误差，从而提高分析结果的准确率。技术研发人员：陈文涛,许建强,苏忠益受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/22