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存储器测试方法、装置、电子设备和存储介质与流程

  • 国知局
  • 2024-07-31 19:33:54

本申请涉及测试,具体涉及存储器测试方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术:

1、存储器是电子设备中的记忆设备,可用于存放程序和数据,存储器是制作消费电子产品时不可或缺的设备。在制作同一型号的消费电子产品时,可能会使用不同厂家生产的性能较为相似的存储器,为了确保不同厂家生产的存储器在同一型号的消费电子产品上的表现基本相同,则需要对存储器进行对应的测试。

2、目前较为普遍的测试方式是通过人员手动运行测试脚本,以实现对存储器的测试,但是这种方式耗时耗力,导致测试效率低下。

技术实现思路

1、本申请实施例提供存储器测试方法、装置、电子设备和存储介质,可以提升测试效率。

2、本申请实施例提供一种存储器测试方法,包括:

3、显示候选测试任务;

4、响应于针对所述候选测试任务的选择操作,从所述候选测试任务中确定目标测试任务;

5、根据输入的基本测试参数,调用预设动态库对存储器执行所述目标测试任务,所述预设动态库包括所述目标测试任务指示的测试操作;

6、在执行所述目标测试任务的过程中,显示所述目标测试任务对应的测试进程信息。

7、本申请实施例还提供一种存储器测试装置,包括:

8、第一显示模块,用于显示候选测试任务;

9、确定模块,用于响应于针对所述候选测试任务的选择操作,从所述候选测试任务中确定目标测试任务;

10、测试模块,用于根据输入的基本测试参数,调用预设动态库对存储器执行所述目标测试任务,所述预设动态库包括所述目标测试任务指示的测试操作;

11、第二显示模块,用于在执行所述目标测试任务的过程中,显示所述目标测试任务对应的测试进程信息。

12、本申请实施例还提供一种电子设备,包括存储器存储有多条指令;所述处理器从所述存储器中加载指令,以执行本申请实施例所提供的任一种存储器测试方法中的步骤。

13、本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有多条指令,所述指令适于处理器进行加载,以执行本申请实施例所提供的任一种存储器测试方法中的步骤。

14、本申请实施例可以显示候选测试任务,基于选择操作从候选测试任务中确定目标测试任务,以便自动化地根据输入的基本测试参数,调用预设动态库对存储器执行目标测试任务;将目标测试任务指示的测试操作封装在预设动态库中,可缩短测试时间,在执行目标测试任务的过程中显示对应的测试进程信息,以便用户掌握了解对应的测试过程,更加便捷直观、省时省力,可有效提升测试效率。

技术特征:

1.一种存储器测试方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据输入的基本测试参数,调用预设动态库对存储器执行所述目标测试任务,包括:

3.根据权利要求2所述方法,其特征在于,所述基本测试参数包括写入参数和预设间隔,所述目标测试任务包括寿命测试任务,所述利用所述预设动态库,按照所述基本测试参数,执行所述目标测试任务指示的测试操作,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基本测试参数包括写入参数、读取参数和预设间隔,所述目标测试任务包括读写性能测试任务,所述利用所述预设动态库,按照所述基本测试参数,执行所述目标测试任务指示的测试操作,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基本测试参数包括写入参数和预设间隔,所述目标测试任务包括稳定性测试任务,所述利用所述预设动态库,按照所述基本测试参数,执行所述目标测试任务指示的测试操作,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在执行所述目标测试任务的过程中,显示所述目标测试任务对应的测试进程信息,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述通过主线程,显示所述目标测试任务对应的测试进程信息,包括:

8.一种存储器测试装置,其特征在于,所述装置包括:

9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和存储器,所述存储器存储有多条指令;所述处理器从所述存储器中加载指令,以执行如权利要求1~7任一项所述的存储器测试方法中的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有多条指令,所述指令适于处理器进行加载,以执行权利要求1~7任一项所述的存储器测试方法中的步骤。

技术总结本申请实施例公开了存储器测试方法、装置、电子设备和存储介质;该方法包括显示候选测试任务;响应于针对候选测试任务的选择操作,从候选测试任务中确定目标测试任务;根据输入的基本测试参数,调用预设动态库对存储器执行目标测试任务,预设动态库包括目标测试任务指示的测试操作;在执行目标测试任务的过程中,显示目标测试任务对应的测试进程信息。测试操作封装在预设动态库中,可缩短测试时间,显示对应的测试进程信息,以便用户掌握了解对应的测试过程,更加便捷直观、省时省力,可有效提升测试效率。技术研发人员:沈小康受保护的技术使用者:深圳TCL新技术有限公司技术研发日:技术公布日:2024/1/22

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