一种Flash芯片的不稳定页块剔除方法、系统、设备及介质与流程

本发明涉及flash芯片的可靠性检测领域，尤其是涉及一种flash芯片的不稳定页块剔除方法、系统、设备及其存储介质。

背景技术：

1、在sd卡生产过程中，生产批次不同的flash芯片质量存在差异，flash芯片的部分页块的不稳定容易导致不稳定页块对应的数据出现错误，影响sd卡的生产良率。

2、现有技术中通常是对坏块位置的地址线进行稳定性分析，并结合坏块数量在当前地址线上的比例判断稳定性，并剔除不稳定地址线上的所有块以达到保障数据安全的效果。现有技术中主要是对flash芯片出厂时的固有坏块进行检测剔除，但是在sd卡高温检测等稳定性检测过程中的暴力测试容易破坏flash芯片的稳定页块，对闪存卡寿命有着不可逆的损害。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足，通过剔除flash芯片中的不稳定页块以达到提高芯片良率和稳定性的目的，本发明提供一种flash芯片的不稳定页块剔除方法、系统、设备及其存储介质。

2、本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

3、第一方面，一种flash芯片的不稳定页块剔除方法，包括：

4、获取当前plane中每个块的page ecc数据，根据所述page ecc数据统计每个块的ecc分布数据；

5、根据所述ecc分布数据，计算所述page ecc数据对应的偏移页的ecc众数值，根据所述ecc众数值分析所述当前plane中的不稳定块，并计算对应的不稳定块数量；

6、当所述不稳定块数量超过预设坏块阈值，将所述当前plane的所有块对应偏移页标记为不稳定页；

7、分别对所述不稳定块和所述不稳定页对应的逻辑地址进行剔除，得到所述当前plane剔除不稳定页块后的好块表和好页表。

8、通过采用上述技术方案，结合每个块的ecc分布数据计算偏移页的众数值，结合ecc众数值来分析当前plane中的不稳定块数量，提高不稳定块数量与页ecc数据之间的关联性，并结合预设坏块阈值与当前不稳定块数量的比对情况，分析当前plane中的不稳定页情况，从而得到相互关联的不稳定块数量和不稳定页数量，并分别通过对应的逻辑地址进行不稳定页块剔除，得到当前plane的好块表和好页表，有助于提前剔除flash芯片中的不稳定页块，便于后续直接查询好块表和好页表就可直接写入正确数据，提高flash芯片的生产良率和产品稳定性。

9、本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述ecc众数值分析所述当前plane中的不稳定块，并计算对应的不稳定块数量，包括：

10、获取所述当前plane对应flash芯片的众数阈值，并计算所述ecc众数值与所述众数阈值的和，得到所述当前plane的不稳定块判断参数；

11、判断所述当前plane中是否存在超过所述不稳定块判断参数的不稳定块，并统计对应的不稳定块数量。

12、可选的，不稳定块判断参数的计算过程还包括：

13、通过公式(1)计算所述不稳定块判断参数，公式(1)如下所示：

14、limiteccvalue＝ecc众数值+ecc众数值*eccfluctutepercent/100(1)

15、其中，所述limiteccvalue表示不稳定块判断参数，eccfluctutepercent表示由flash芯片配置得到的众数阈值。

16、通过采用上述技术方案，结合flash芯片的出厂需求设置对应的众数阈值，并通过ecc众数值和众数阈值之和作为不稳定判断参数，对当前plane中的所有块进行不稳定判断，减少整批测试的人力物力成本，并结合不稳定块判断参数判断当前plane中的不稳定块数量，提高整个plane的不稳定块数量计算准确度。

17、本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述当所述不稳定块数量超过预设坏块阈值，将所述当前plane的所有块对应偏移页标记为不稳定页，包括：

18、获取所述当前plane对应flash芯片的最大坏块百分比，根据所述最大坏块百分比计算所述当前plane中的预设坏块阈值；

19、当所述不稳定块数量大于或等于所述预设坏块阈值时，将所述当前plane中的所有块的对应偏移页标记为不稳定页。

20、可选的，不稳定页的判断过程还包括：

21、通过公式(2)判断所述偏移页是否为不稳定页，公式(2)如下所示：

22、(blockofplane*badblockpercent/100)<＝badblocknum     (2)

23、其中，blockofplane表示当前plane的所有块数量，badblockpercent表示当前plane的最大坏块百分比，badblocknum表示当前plane的不稳定块数量。

24、通过采用上述技术方案，结合flash芯片的出场需求设置最大坏块百分比，并按照最大坏块百分比计算当前plane的预设坏块阈值，有助于将预设坏块阈值控制在flash芯片的出场良率范围内，并在当前plane的不稳定块数量大于或等于在预设坏块阈值时，将当前plane的所有块的当前偏移页标记为不稳定页，有助于在预设坏块阈值范围内标记当前plane的所有不稳定页，提高不稳定页数量的判断准确性。

25、本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述当所述不稳定块数量超过预设坏块阈值，将所述当前plane的所有块对应偏移页标记为不稳定页，还包括：

26、获取每个偏移页的ecc分布中心值；

27、根据所述预设坏块阈值分析所述偏移页的ecc分布边界线和对应的偏移方向；

28、统计所述偏移方向上的所述ecc分布中心值和所述ecc分布边界之间的目标块数量；

29、当所述目标块数量超过所述预设坏块阈值时，则对所述目标块对应的相同偏移页标记为不稳定页。

30、可选地，ecc分布还包括：

31、所述偏移方向为以所述ecc分布中心值对应的中心线为起点，向右偏移。

32、通过采用上述技术方案，结合每个偏移页的ecc分布中心值来判断page ecc中心线的位置，并按照预设坏块阈值分析偏移页的ecc分布边界线和对应的偏移方向，获取中心线往右偏移到ecc分布边界线之间的所有目标块数量，并在目标块数量大于或等于预设坏块阈值时，对目标快对应的相同偏移页进行不稳定页标记，进一步提高不稳定页的标记全面性，减少不稳定页的标记遗漏。

33、第二方面，本技术的上述发明目的是通过以下技术方案得以实现的：

34、一种flash芯片的不稳定页块剔除系统，其特征在于：应用于上述flash芯片的不稳定页块剔除方法，具体包括：

35、数据获取模块，用于获取当前plane中每个块的page ecc数据，根据所述page ecc数据统计每个块的ecc分布数据；

36、坏块分析模块，用于根据所述ecc分布数据，计算所述page ecc数据对应的偏移页的ecc众数值，根据所述ecc众数值分析所述当前plane中的不稳定块，并计算对应的不稳定块数量；

37、坏页分析模块，用于当所述不稳定块数量超过预设坏块阈值，将所述当前plane的所有块对应偏移页标记为不稳定页；

38、踢页块模块，用于分别对所述不稳定块和所述不稳定页对应的逻辑地址进行剔除，得到所述当前plane剔除不稳定页块后的好块表和好页表。

39、通过采用上述技术方案，结合每个块的ecc分布数据计算偏移页的众数值，结合ecc众数值来分析当前plane中的不稳定块数量，提高不稳定块数量与页ecc数据之间的关联性，并结合预设坏块阈值与当前不稳定块数量的比对情况，分析当前plane中的不稳定页情况，从而得到相互关联的不稳定块数量和不稳定页数量，并分别通过对应的逻辑地址进行不稳定页块剔除，得到当前plane的好块表和好页表，有助于提前剔除flash芯片中的不稳定页块，便于后续直接查询好块表和好页表就可直接写入正确数据，提高flash芯片的生产良率和产品稳定性。

40、第三方面，本技术的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：

41、一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述flash芯片的不稳定页块剔除方法的步骤。

42、第四方面，本技术的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：

43、一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述flash芯片的不稳定页块剔除方法的步骤。

44、本发明的有益效果是：通过在sd卡量产过程中，对flash芯片中的不稳定页块进行提前剔除，提升产品的稳定性和生产良率，将flash芯片后续的批量可靠性测试优化为抽样测试，减少测试的人力物力，进而提高flash芯片的生产效率。