一种快闪存储器测试设备及测试方法与流程

本发明涉及半导体测试，具体涉及一种快闪存储器测试设备及测试方法。

背景技术：

1、随着半导体技术的不断发展，快闪存储器的需求逐渐递增，快闪存储器在生产过程中需要进行测试，在测试完成后，又需要根据测试结果对芯片进行分类，分类可分为多种，有按性能高低分，有按容量大小分，因此，又需要及时对芯片进行分类，从而为后续生产提供参考。

2、目前，在快闪存储器在测试时,需要透过电路板检测，人工使用计算机通过得到的检测结果,将快闪存储器分成不同容量，再进行人工或设备装盘。但是，因闪存容量级别过多，人工检测容易放置错误位置,造成不同容量的混料情况,若要将混料挑出,又需要整个料盘进行重新检测,造成重复生产与质量不良问题，存在分类效率较低且易造成人为疏失不良的问题。

3、有鉴于此，确有必要提供一种解决上述问题的技术方案。

技术实现思路

1、本发明的目的在于：提供一种快闪存储器测试设备及测试方法，来解决上述通过人工对快闪存储器测试过程中存在分类效率较低且易造成人为疏失不良的问题。

2、为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

3、一种快闪存储器测试设备，包括机体、测试部件、抓取部件、物料存储部件和设置在所述机体上的控制部件，所述测试部件、抓取部件、物料存储部件均受控于所述控制部件，所述物料存储部件包括若干放置盒，设置在放置盒的升降器，所述放置盒上层叠放置有多个用于放置快闪存储器的料盘，所述升降器可驱动所述放置盒带动所述料盘升降，若干所述放置盒分别形成原料区、放料区和空盘区，所述控制部件用于控制所述抓取部件将所述原料区的快闪存储器移动至所述测试部件测试，并将所述测试部件上已测试的快闪存储器移动至所述放料区，以及控制所述抓取部件将所述原料区的空料盘移动至空盘区和将所述空盘区的空料盘移动至所述放料区相应的所述放置盒上。

4、作为所述快闪存储器测试设备的一种改进，所述测试部件包括多个测试座，所述测试座均具有用于放置且连接待测试快闪存储器的连接槽，且多个所述测试座呈直线间隔均匀分布。

5、作为所述快闪存储器测试设备的一种改进，若干所述放置盒分别均匀分布在所述测试座所形成直线的相对两侧。

6、作为所述快闪存储器测试设备的一种改进，所述抓取部件包括设置在所述机体上的纵向直线驱动器，安装在所述纵向直线驱动器的横向直线驱动器，以及安装在所述横向直线驱动器的抓取件，所述纵向直线驱动器和所述横向直线驱动器分别用于驱动所述抓取件横向和纵向移动，所述抓取件用于升降运动抓取和放置所述快闪存储器或所述空盘。

7、作为所述快闪存储器测试设备的一种改进，所述抓取件包括多个抓取器，所述抓取器之间的间距与所述测试座之间的间距相等，可同时抓取多个待测试的所述快闪存储器移动至所述测试座的连接槽上。

8、作为所述快闪存储器测试设备的一种改进，所述放置盒顶部均设置有限位件，所述限位件可与所述放置盒上最顶侧的所述料盘抵接并固定限位。

9、作为所述快闪存储器测试设备的一种改进，所述机体顶部设置有防护罩，所述防护罩为框架结构，且所述防护罩相对于所述物料存储部件的至少两侧面为敞开状。

10、一种快闪存储器测试设备的测试方法，所述测试设备为上述的快闪存储器测试设备，所述测试方法包括以下步骤：

11、s1、先通过所述控制部件划分所述原料区、所述放料区和所述空盘区内的所述放置盒数量，并将所述原料区的所述放置盒上的所述料盘均装满待测试快闪存储器；

12、s2、启动所述控制部件运作，所述控制部件控制所述抓取部件将所述原料区的待测试快闪存储器抓取至测试部件测试，所述控制部件通过所述测试部件获取快闪存储器的数据信息，并根据该数据信息对快闪存储器分类，进而控制所述抓取部件将已测试的快闪存储器抓取至所述放料区相对应所述放置盒的所述料盘上；

13、s3、所述控制部件检测至所述原料区内的所述放置盒最顶侧的所述料盘空置后，则控制所述抓取部件将该空置的所述料盘抓取至所述空盘区，随后所述原料区内的该所述放置盒通过所述升降器带动所述料盘上升，以供对下一层所述料盘上的待测试快闪存储器测试；或者检测至所述放料区内的所述放置盒最顶侧的所述料盘满料后，所述升降器带动该所述放置盒的所述料盘整体下降，再控制所述抓取部件将空盘区空置的所述料盘抓取至该所述放置盒的最顶侧。

14、s4、直至所述原料区内的待测试快闪存储器均测试完，或者所述放料区内的所述料盘均满料后，所述测试设备停止运作。

15、作为所述测试方法的一种改进，在所述s3中，当所述原料区中的单个所述放置盒内所述料盘均空置后，所述控制部件则根据设定将该所述放置盒自动定义为所述放料区或者所述空盘区。

16、作为所述测试方法的一种改进，在所述s3中，所述控制部件在抓取所述快闪存储器测试过程中，根据所述抓取部件的抓取坐标和抓取次数实时记录各个所述放置盒上所述料盘的所述快闪存储器数量。

17、相比于现有技术，本发明的有益效果在于：

18、1)本发明将若干放置盒按比例分类为放置待测试快闪存储器的原料区、存放已测试快闪存储器的放料区以及容置空料盘的空盘区，通过控制部件将原料区待测试快闪存储器抓取至测试部件测试，再根据测试结果将快闪存储器移动至放料区相对应放置盒上的料盘中，达到自动对快闪存储器进行测试和自动分类的目的，提高了测试效率，降低了快闪存储器在测试损坏的风险。

19、2)本发明在测试过程中，控制部件还可对各个放置盒上料盘的快闪存储器数量进行监控，控制抓取部件将原料区放置盒上的空料盘抓取至空盘区，且控制该放置盒带动料盘上升一层，继续对该放置盒下一层料盘的快闪存储器测试，检测至放料区放置盒上的最顶侧料盘满料后，控制该放置盒带动料盘下降一层，抓取部件抓取空盘区的单个空料盘放置在该放置盒的最顶侧，进而增加单次测试的快闪存储器数量，且有效减少了人为干预，在设备自动化运行下，进一步的提高生产效率以及良率。

技术特征：

1.一种快闪存储器测试设备，其特征在于，包括机体、测试部件、抓取部件、物料存储部件和设置在所述机体上的控制部件，所述测试部件、抓取部件、物料存储部件均受控于所述控制部件，所述物料存储部件包括若干放置盒，设置在放置盒的升降器，所述放置盒上层叠放置有多个用于放置快闪存储器的料盘，所述升降器可驱动所述放置盒带动所述料盘升降，若干所述放置盒分别形成原料区、放料区和空盘区，所述控制部件用于控制所述抓取部件将所述原料区的快闪存储器移动至所述测试部件测试，并将所述测试部件上已测试的快闪存储器移动至所述放料区，以及控制所述抓取部件将所述原料区的空料盘移动至空盘区和将所述空盘区的空料盘移动至所述放料区相应的所述放置盒上。

2.根据权利要求1所述的一种快闪存储器测试设备，其特征在于，所述测试部件包括多个测试座，所述测试座均具有用于放置且连接待测试快闪存储器的连接槽，且多个所述测试座呈直线间隔均匀分布。

3.根据权利要求2所述的一种快闪存储器测试设备，其特征在于，若干所述放置盒分别均匀分布在所述测试座所形成直线的相对两侧。

4.根据权利要求3所述的一种快闪存储器测试设备，其特征在于，所述抓取部件包括设置在所述机体上的纵向直线驱动器，安装在所述纵向直线驱动器的横向直线驱动器，以及安装在所述横向直线驱动器的抓取件，所述纵向直线驱动器和所述横向直线驱动器分别用于驱动所述抓取件横向和纵向移动，所述抓取件用于升降运动抓取和放置所述快闪存储器或所述空盘。

5.根据权利要求4所述的一种快闪存储器测试设备，其特征在于，所述抓取件包括多个抓取器，所述抓取器之间的间距与所述测试座之间的间距相等，可同时抓取多个待测试的所述快闪存储器移动至所述测试座的连接槽上。

6.根据权利要求2所述的一种快闪存储器测试设备，其特征在于，所述放置盒顶部均设置有限位件，所述限位件可与所述放置盒上最顶侧的所述料盘抵接并固定限位。

7.根据权利要求1所述的一种快闪存储器测试设备，其特征在于，所述机体顶部设置有防护罩，所述防护罩为框架结构，且所述防护罩相对于所述物料存储部件的至少两侧面为敞开状。

8.一种快闪存储器测试设备的测试方法，所述测试设备为上述权利要求1-7任意一项所述的快闪存储器测试设备，所述测试方法包括以下步骤：

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，在所述s3中，当所述原料区中的单个所述放置盒内所述料盘均空置后，所述控制部件则根据设定将该所述放置盒自动定义为所述放料区或者所述空盘区。

10.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，在所述s3中，所述控制部件在抓取所述快闪存储器测试过程中，根据所述抓取部件的抓取坐标和抓取次数实时记录各个所述放置盒上所述料盘的所述快闪存储器数量。

技术总结本发明提供了一种快闪存储器测试设备，包括机体、测试部件、抓取部件、物料存储部件和设置在所述机体上的控制部件，所述测试部件、抓取部件、物料存储部件均受控于所述控制部件，所述物料存储部件包括若干放置盒，设置在放置盒的升降器，所述放置盒上层叠放置有多个用于放置快闪存储器的料盘，所述升降器可驱动所述放置盒带动所述料盘升降，若干所述放置盒分别形成原料区、放料区和空盘区。本测试设备达到了自动测试和自动分类的目的，提高了测试效率，降低了闪速存储器在测试损坏的风险，且有效减少人为干预，在设备自动化运行下，进一步的提高生产效率以及良率，具有良好的测试效果。技术研发人员：张治强受保护的技术使用者：广东长兴半导体科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/16