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存储装置及其测试方法、测试装置及可读存储介质与流程

  • 国知局
  • 2024-07-31 19:34:54

本申请涉及存储装置,特别是涉及存储装置及其测试方法、测试装置及可读存储介质。

背景技术:

1、存储装置在研发生产过程中由于存储单元的品质会产生很多问题,此时就需要对特定的存储单元进行测试分析,找到规避问题的方法,或者提前将不良的存储单元进行排除。

2、目前存储装置封装技术的原因,存储单元和存储装置中的控制芯片被封装在一起,很难将存储单元单独进行物理剥离,只能使用支持此控制芯片类型的固件通过编程来进行分析。

技术实现思路

1、本申请提供了存储装置及其测试方法、测试装置及可读存储介质,能够提高对存储单元测试的准确性以及测试效率。

2、第一方面,本申请提供一种存储装置,该存储装置包括:存储单元;控制芯片,控制芯片包括:存储控制单元,被配置为与存储单元连接;协议控制单元,被配置为与外部设备连接;其中,存储控制单元响应于外部设备发送的测试指令,控制协议控制单元与存储单元导通,通过协议控制单元对存储单元进行测试。

3、其中,存储装置还包括:开关单元,开关单元的第一端连接存储控制单元,开关单元的第二端连接协议控制单元,开关单元的第三端连接存储单元;其中,存储控制单元响应于测试指令,控制开关单元的第一端和第二端导通,以使协议控制单元与存储单元连接。

4、其中,协议控制单元包括第一引脚;存储单元包括第二引脚;存储控制单元包括第三引脚;开关单元的第一端连接第三引脚,开关单元的第二端连接第一引脚,开关单元的第三端连接第二引脚;其中,存储控制单元响应于测试指令,控制开关单元的第一端和第二端导通,以使第一引脚与第二引脚连接。

5、其中,第一引脚是协议控制单元中未被使用的引脚。

6、其中,存储单元、存储控制单元和协议控制单元通过bga技术进行封装。

7、其中,存储单元为nand颗粒。

8、其中,对存储单元测试完成后,存储控制单元控制协议控制单元与存储单元截止,并使存储控制单元与存储单元导通。

9、第二方面,本申请提供一种测试装置,该测试装置用于对存储装置进行测试,其中,存储装置如第一方面提供的存储装置。

10、第三方面,本申请提供一种存储装置的测试方法,存储装置包括:存储单元;控制芯片,控制芯片包括:存储控制单元,被配置为与存储单元连接;协议控制单元,被配置为与外部设备连接;该方法包括:向存储装置发送测试指令,以使存储控制单元响应于外部设备发送的测试指令,控制协议控制单元与存储单元连接;通过协议控制单元对存储单元进行测试,得到测试结果。

11、第四方面,本申请提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质存储有计算机程序,计算机程序在被处理器执行时,实现如第三方面提供的方法。

12、本申请的有益效果是:区别于现有技术的情况,本申请提供的存储装置,该存储装置包括:存储单元;控制芯片,控制芯片包括:存储控制单元,被配置为与存储单元连接;协议控制单元,被配置为与外部设备连接;其中,存储控制单元响应于外部设备发送的测试指令,控制协议控制单元与存储单元导通,通过协议控制单元对存储单元进行测试。通过上述方式,在测试分析时,控制协议控制单元与存储单元导通,通过协议控制单元直接对存储单元进行测试,一方面能够屏蔽存储控制单元对存储单元的影响,提高对存储单元测试的准确性以及测试效率;另一方面,因测试过程中无需存储控制单元参与,无需使用特定控制芯片固件的软件进行测试,减少存储单元对特定控制芯片固件的软件的依赖。

技术特征:

1.一种存储装置,其特征在于,所述存储装置包括:

2.根据权利要求1所述的存储装置,其特征在于,所述存储装置还包括:开关单元,所述开关单元的第一端连接所述存储控制单元,所述开关单元的第二端连接所述协议控制单元,所述开关单元的第三端连接所述存储单元;

3.根据权利要求2所述的存储装置,其特征在于,所述协议控制单元包括第一引脚;所述存储单元包括第二引脚;所述存储控制单元包括第三引脚;

4.根据权利要求3所述的存储装置,其特征在于,所述第一引脚是所述协议控制单元中未被使用的引脚。

5.根据权利要求1所述的存储装置,其特征在于,所述存储单元、所述存储控制单元和所述协议控制单元通过bga技术进行封装。

6.根据权利要求1所述的存储装置,其特征在于,所述存储单元为nand颗粒。

7.根据权利要求1所述的存储装置,其特征在于,对所述存储单元测试完成后,所述存储控制单元控制所述协议控制单元与所述存储单元截止,并使所述存储控制单元与所述存储单元导通。

8.一种测试装置,其特征在于,所述测试装置用于对存储装置进行测试,其中,所述存储装置如权利要求1-7任一项所述的存储装置。

9.一种存储装置的测试方法,其特征在于,所述存储装置包括:存储单元;控制芯片,所述控制芯片包括:存储控制单元,被配置为与所述存储单元连接;协议控制单元,被配置为与外部设备连接;所述方法包括:

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序在被处理器执行时,实现如权利要求9所述的方法。

技术总结本申请公开了存储装置及其测试方法、测试装置及可读存储介质。该存储装置包括:存储单元;控制芯片,控制芯片包括:存储控制单元,被配置为与存储单元连接;协议控制单元,被配置为与外部设备连接;其中,存储控制单元响应于外部设备发送的测试指令,控制协议控制单元与存储单元导通,通过协议控制单元对存储单元进行测试。通过上述方式,提高对存储单元测试的准确性以及测试效率。技术研发人员:赵国杰,陶伟受保护的技术使用者:上海江波龙数字技术有限公司技术研发日:技术公布日:2024/1/25

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