一种存储芯片的测试系统及测试方法与流程

本发明涉及静态存储，特别涉及一种存储芯片的测试系统及测试方法。

背景技术：

1、存储芯片是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用。无论是系统芯片还是存储芯片，都是通过在单一芯片中嵌入软件，以实现多功能、高性能以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。存储芯片广泛应用于计算机、移动设备、物联网等领域，用于存储各种数据，如操作系统、应用程序、音乐、视频、照片等。

2、目前，大批量的存储芯片在投入使用之前，无法对产品性能进行快速、全面的检测，因此存在待改进之处。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储芯片的测试系统及测试方法，用以解决现有技术中存在的大批量存储芯片无法快速、全面进行产品性能检测的问题。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、本发明提出一种存储芯片的测试系统，包括：

4、接口模块，用以与主机之间进行数据传输；

5、多个芯片测试座，用以安装待测芯片；

6、信号补偿模块，用以对所述待测芯片输入测试信号；

7、信号采集模块，用以采集所述待测芯片对所述测试信号的响应信号，并将所述响应信号反馈给所述信号补偿模块；

8、中央处理模块，用以调节所述信号补偿模块上所述测试信号的参数，接收所述信号补偿模块上采集到的所述响应信号，并将所述响应信号通过所述接口模块传递给所述主机，以生成所述待测芯片的测试结果；以及

9、电源模块，用以对所述芯片测试座、所述信号补偿模块、所述信号采集模块和所述中央处理模块供电。

10、在本发明的一个实施例中，所述信号补偿模块包括多个驱动通道，每个所述驱动通道电性连接于一个所述芯片测试座。

11、在本发明的一个实施例中，每个所述驱动通道包括多根信号线，每根所述信号线上设有模拟电阻，以关联不同所述信号线上的电阻阻值。

12、在本发明的一个实施例中，每个所述驱动通道包括多根信号线，每根所述信号线上设有上拉电阻和下拉电阻，通过上拉电阻和下拉电阻的分压，以调节每根所述信号线上的所述测试信号的强度。

13、在本发明的一个实施例中，所述中央处理模块用以控制所述待测芯片周边的环境温度，以对所述待测芯片进行电性测试。

14、在本发明的一个实施例中，还包括温度传感器，所述温度传感器用以检测所述待测芯片周边的环境温度。

15、在本发明的一个实施例中，所述中央处理模块用以控制所述待测芯片的供电电压，以对所述待测芯片进行电性测试。

16、在本发明的一个实施例中，所述中央处理模块确定所述待测芯片的响应信号通过时，调节所述待测芯片在温箱中的环境温度并进行多次测试，所述中央处理模块确定所述待测芯片的响应信号未通过时，记录未通过时的响应信号。

17、在本发明的一个实施例中，还包括：

18、存储模块，用以存储所述主机写入的测试系统映像文件；

19、内存模块，用以运行所述测试系统映像文件中的测试程序。

20、本发明还提出一种存储芯片的测试方法，包括：

21、通过接口模块与主机之间进行数据的传输；

22、将多个待测芯片安装到多个芯片测试座上；

23、通过电源模块对所述芯片测试座、信号补偿模块、信号采集模块和中央处理模块供电；

24、通过所述信号补偿模块对所述待测芯片输入测试信号；

25、通过所述信号采集模块采集所述待测芯片对所述测试信号的响应信号，并将采集到的所述响应信号反馈给所述信号补偿模块；以及

26、通过所述中央处理模块调节所述信号补偿模块上的测试信号的参数，并接收所述信号补偿模块上的所述响应信号，将所述响应信号通过所述接口模块传递给所述主机，以生成所述待测芯片的测试结果。

27、如上所述，本发明提供了一种存储芯片的测试系统及测试方法，可同时监控、测量多个待测芯片的产品质量，提高测试质量和测试效率。

28、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储芯片的测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述信号补偿模块包括多个驱动通道，每个所述驱动通道电性连接于一个所述芯片测试座。

3.根据权利要求2所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，每个所述驱动通道包括多根信号线，每根所述信号线上设有模拟电阻，以关联不同所述信号线上的电阻阻值。

4.根据权利要求2所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，每个所述驱动通道包括多根信号线，每根所述信号线上设有上拉电阻和下拉电阻，通过上拉电阻和下拉电阻的分压，以调节每根所述信号线上的所述测试信号的强度。

5.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述中央处理模块用以控制所述待测芯片周边的环境温度，以对所述待测芯片进行电性测试。

6.根据权利要求5所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括温度传感器，所述温度传感器用以检测所述待测芯片周边的环境温度。

7.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述中央处理模块用以控制所述待测芯片的供电电压，以对所述待测芯片进行电性测试。

8.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述中央处理模块确定所述待测芯片的响应信号通过时，调节所述待测芯片在温箱中的环境温度并进行多次测试，所述中央处理模块确定所述待测芯片的响应信号未通过时，记录未通过时的响应信号。

9.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：

10.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，包括：

技术总结本发明涉及静态存储技术领域，特别涉及一种存储芯片的测试系统及测试方法。测试系统包括：接口模块，用以与主机之间进行数据传输；多个芯片测试座，用以安装待测芯片；信号补偿模块，用以对待测芯片输入测试信号；信号采集模块，用以采集待测芯片对测试信号的响应信号，并将响应信号反馈给信号补偿模块；中央处理模块，用以调节信号补偿模块上测试信号的参数，接收信号补偿模块上采集到的响应信号，并将响应信号通过接口模块传递给主机，以生成待测芯片的测试结果；以及电源模块，用以对芯片测试座、信号补偿模块、信号采集模块和中央处理模块供电。本发明可同时监控、测量多个待测芯片的产品质量，提高测试质量和测试效率。技术研发人员：余玉,许展榕受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/22