一种存储测试装置及其测试方法与流程

本发明涉及存储测试，特别涉及一种存储测试装置及其测试方法。

背景技术：

1、通过循环冗余校验（cyclic redundancy check，crc），能够检测数字电信网络和硬盘驱动器等存储设备中常用原始计算机数据的意外更改。当计算机读取损坏或不完整的文件时，触发循环冗余错误，能够确定传输数据是否出错。

2、在存储设备中，只要涉及到数据传输，就可能触发循环冗余校验。对于存储设备，要求存储设备在处理正常读写操作的同时，也能在系统发送指令或数据出错时恢复到正常状态。因此，循环冗余校验的承受强度直接关系到存储设备的效率。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储测试装置及其测试方法，以全面且高强度地测试出存储设备的校验能力。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、本发明提供了一种存储测试装置，所述存储测试装置用于测试存储器，所述存储测试装置包括中央处理器，且所述中央处理器与所述存储器电性连接，其中所述中央处理器包括：

4、存储单元，所述存储单元中存储多个参数组，其中所述参数组至少包括初始预设信息和所述初始预设信息的初始循环校验码；

5、校验码修改单元，在所述存储器接收到所述初始预设信息后，根据部分数据翻转后的所述初始预设信息，所述校验码获取待测预设信息；

6、校验码获取单元，在所述待测预设信息被写入所述存储器后，所述校验码获取单元从所述存储器中获取所述待测预设信息的待测循环校验码；以及

7、校验码比较单元，用于获取所述待测循环校验码和所述初始循环校验码的比较结果数据，且根据所述比较结果数据，所述存储测试装置遍历测试多个所述参数组或停止测试。

8、在本发明一实施例中，所述参数组还包括所述存储器的供电电压、所述存储器的接口传输速度、所述存储器的所述存储器的时钟频率和所述存储器的写入模式。

9、在本发明一实施例中，所述初始预设信息为用户数据或主机指令。

10、在本发明一实施例中，所述初始预设信息和所述待测预设信息分别包括首位数据、末位数据和多个中间位数据，其中所述初始预设信息和所述待测预设信息的首位数据和末位数据相同，且所述初始预设信息和所述待测预设信息的部分中间位数据相反。

11、在本发明一实施例中，所述存储测试装置包括插座，所述插座与所述存储器电性连接，且所述插座与所述存储器以可插拔方式连接。

12、在本发明一实施例中，当所述初始循环校验码和所述待测循环校验码相同，所述存储测试装置停止测试。

13、在本发明一实施例中，当所述初始循环校验码和所述待测循环校验码不同，所述存储测试装置测试另一参数组，直到遍历所述存储单元中的所述参数组。

14、本发明提供了一种存储测试装置的测试方法，基于如上所述的一种存储测试装置，包括以下步骤：

15、设置多个参数组，其中所述参数组至少包括初始预设信息和所述初始预设信息的初始循环校验码；

16、将所述初始预设信息发送给存储器，并翻转所述初始预设信息的部分数据，获得待测预设信息；

17、将所述待测预设信息写入所述存储器，并校验所述待测预设信息，获得待测循环校验码；以及

18、对比所述初始循环校验码和所述待测循环校验码，获取比较结果数据，且根据所述比较结果数据，遍历测试多个参数组或停止测试。

19、在本发明一实施例中，当所述初始循环校验码和所述待测循环校验码不同，获取并测试下一所述参数组，直到遍历存储单元中的所述参数组。

20、在本发明一实施例中，当所述初始循环校验码和所述待测循环校验码相同，停止测试，并调整所述存储器的校验固件。

21、如上所述，本发明提供了一种存储测试装置及其测试方法，能够模拟循环冗余校验的各种进程环境，从而全面地测试存储设备进行循环冗余校验的可承受强度，从而提升存储设备的出厂效能。并且，根据本发明提供的存储测试装置及其测试方法，能够根据不同应用环境的产品灵活地调整循环校验测试的偏重，从而在兼顾测试准确率的同时提升测试效率。并且，根据本发明提供的存储测试装置及其测试方法，能够确保存储设备的存储可靠性，提升了存储设备的兼容性，从而有利于生产出高品级存储设备。

22、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置用于测试存储器，所述存储测试装置包括中央处理器，且所述中央处理器与所述存储器电性连接，其中所述中央处理器包括：

2.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述参数组还包括所述存储器的供电电压、所述存储器的接口传输速度、所述存储器的所述存储器的时钟频率和所述存储器的写入模式。

3.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述初始预设信息为用户数据或主机指令。

4.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述初始预设信息和所述待测预设信息分别包括首位数据、末位数据和多个中间位数据，其中所述初始预设信息和所述待测预设信息的首位数据和末位数据相同，且所述初始预设信息和所述待测预设信息的部分中间位数据相反。

5.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括插座，所述插座与所述存储器电性连接，且所述插座与所述存储器以可插拔方式连接。

6.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，当所述初始循环校验码和所述待测循环校验码相同，所述存储测试装置停止测试。

7.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，当所述初始循环校验码和所述待测循环校验码不同，所述存储测试装置测试另一参数组，直到遍历所述存储单元中的所述参数组。

8.一种存储测试装置的测试方法，基于如权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，包括以下步骤：

9.根据权利要求8所述的一种存储测试装置的测试方法，其特征在于，当所述初始循环校验码和所述待测循环校验码不同，获取并测试下一所述参数组，直到遍历存储单元中的所述参数组。

10.根据权利要求8所述的一种存储测试装置的测试方法，其特征在于，当所述初始循环校验码和所述待测循环校验码相同，停止测试，并调整所述存储器的校验固件。

技术总结本发明提供了一种存储测试装置及其测试方法，其中存储测试装置用于测试存储器，存储测试装置包括中央处理器，且中央处理器与存储器电性连接，其中中央处理器包括：存储单元，存储单元中存储多个参数组，其中参数组至少包括初始预设信息和初始预设信息的初始循环校验码；校验码修改单元，在存储器接收到初始预设信息后，根据部分数据翻转后的初始预设信息，校验码获取待测预设信息；校验码获取单元，在待测预设信息被写入存储器后，校验码获取单元从存储器中获取待测预设信息的待测循环校验码；以及校验码比较单元，用于获取待测循环校验码和初始循环校验码的比较结果数据，且根据比较结果数据，存储测试装置遍历测试多个参数组或停止测试。技术研发人员：余玉,许展榕受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/22