一种闪存芯片高效测试板的制作方法

本技术属于芯片测试，更具体地说，特别涉及一种闪存芯片高效测试板。

背景技术：

1、闪存芯片是一种长寿命的非易失性存储器芯片，由于其断电时仍能保存数据，所以闪存通常被用来保存设置信息，如在电脑的bios、pda、数码相机中保存资料等，应用十分广泛，在闪存芯片的生产中，闪存芯片制成后，需要进行质量测试以保证出厂的良品率。

2、现有闪存芯片的测试中，需要通过贴片焊接的方式，将闪存芯片焊接在基板上的芯片安装位上以进行功能测试，在测试完毕后，还需通过焊接设备升温的方式才能将其拆解下来，操作比较繁琐，比较影响闪存芯片测试效率，并且反复焊接拆装容易导致基板出现受损。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种闪存芯片高效测试板，以解决现有类似闪存芯片的测试中，需要通过贴片焊接的方式，将闪存芯片焊接在基板上的芯片安装位上以进行功能测试，在测试完毕后，还需通过焊接设备升温的方式才能将其拆解下来，操作比较繁琐，比较影响闪存芯片测试效率，并且反复焊接拆装容易导致基板出现受损的问题。

2、本实用新型一种闪存芯片高效测试板的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

3、一种闪存芯片高效测试板，包括电路板；所述电路板顶部安装有测试座，且测试座内部安装有两组活动导电触头，活动导电触头数量与闪存芯片针脚数量相等；所述测试座内部安装有两组弹性导电件，弹性导电件数量与活动导电触头数量相等，且弹性导电件与活动导电触头相连，弹性导电件一端延伸至测试座外部，并且弹性导电件与电路板相连；所述电路板顶部安装有支撑架，且测试座一侧与支撑架相接触，支撑架顶部连接有活动竖杆。

4、进一步的，所述支撑架顶部设有竖滑孔，竖滑孔内部设有限位凸块，活动竖杆滑动贯穿于竖滑孔内，活动竖杆底部设有夹持架，夹持架位于测试座正上方，活动竖杆外部设有滑槽，限位凸块滑动连接于滑槽内。

5、进一步的，所述活动竖杆外部套装有弹簧，弹簧底端与夹持架顶侧相接触，弹簧顶端与支撑架底侧相接触当闪存芯片放置在测试座顶部时，闪存芯片的针脚与活动导电触头顶端相接触，夹持架受弹簧推力影响向下移动，使夹持架与闪存芯片顶部相接触，起到对闪存芯片夹持固定效果。

6、进一步的，所述测试座内部呈等距对称状开设有活动腔，活动腔底部与测试座顶侧相连通，活动导电触头滑动连接于活动腔内，活动导电触头顶端高于测试座顶侧，活动导电触头顶端呈圆滑状。

7、进一步的，所述弹性导电件位于活动腔底部内，弹性导电件顶部为弹性可伸缩状，活动导电触头底部与弹性导电件顶部相接触，当闪存芯片的针脚与活动导电触头顶端接触时，活动导电触头受压力影响向下移动，弹性导电件顶部呈收缩蓄力状态，通过弹性导电件对活动导电触头底部施加推力，使活动导电触头顶端与闪存芯片的针脚紧密接触。

8、进一步的，所述弹性导电件一端通过焊接方式与电路板内部线路相接，电路板顶部设有插座，插座与电路板内部线路相接，插座通过排线与测试主板相连，通过排线将电路板与测试主板连接在一起，使电路板与测试主板之间连接更加简便。

9、有益效果：

10、1.活动竖杆与弹簧的设置，有利于通过限位凸块与滑槽之间滑动配合，起到对夹持架限位导向效果，保障夹持架状态的稳定性，当闪存芯片放置在测试座顶部时，闪存芯片的针脚与活动导电触头顶端相接触，夹持架受弹簧推力影响向下移动，使夹持架与闪存芯片顶部相接触，起到对闪存芯片夹持固定效果，使闪存芯片固定测试更加简便快捷，提升闪存芯片检测效率。

11、2.活动导电触头与弹性导电件的设置，有利于当闪存芯片的针脚与活动导电触头顶端接触时，活动导电触头受压力影响向下移动，弹性导电件顶部呈收缩蓄力状态，通过弹性导电件对活动导电触头底部施加推力，使活动导电触头顶端与闪存芯片的针脚紧密接触，保障闪存芯片连接测试效果；通过排线将电路板与测试主板连接在一起，使电路板与测试主板之间连接更加简便，以便根据闪存芯片类型的不同进行更换，更好的满足于不同类型闪存芯片测试所需。

12、本实用新型的其他优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本实用新型的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。

技术特征：

1.一种闪存芯片高效测试板，其特征在于：包括电路板(1)；所述电路板(1)顶部安装有测试座(2)，且测试座(2)内部安装有两组活动导电触头(3)，活动导电触头(3)数量与闪存芯片针脚数量相等；所述测试座(2)内部安装有两组弹性导电件(4)，弹性导电件(4)数量与活动导电触头(3)数量相等，且弹性导电件(4)与活动导电触头(3)相连，弹性导电件(4)一端延伸至测试座(2)外部，并且弹性导电件(4)与电路板(1)相连；所述电路板(1)顶部安装有支撑架(5)，且测试座(2)一侧与支撑架(5)相接触，支撑架(5)顶部连接有活动竖杆(6)。

2.如权利要求1所述一种闪存芯片高效测试板，其特征在于：所述支撑架(5)顶部设有竖滑孔(501)，竖滑孔(501)内部设有限位凸块(5011)，活动竖杆(6)滑动贯穿于竖滑孔(501)内，活动竖杆(6)底部设有夹持架(601)，夹持架(601)位于测试座(2)正上方，活动竖杆(6)外部设有滑槽(602)，限位凸块(5011)滑动连接于滑槽(602)内。

3.如权利要求2所述一种闪存芯片高效测试板，其特征在于：所述活动竖杆(6)外部套装有弹簧(7)，弹簧(7)底端与夹持架(601)顶侧相接触，弹簧(7)顶端与支撑架(5)底侧相接触。

4.如权利要求1所述一种闪存芯片高效测试板，其特征在于：所述测试座(2)内部呈等距对称状开设有活动腔(201)，活动腔(201)底部与测试座(2)顶侧相连通，活动导电触头(3)滑动连接于活动腔(201)内，活动导电触头(3)顶端高于测试座(2)顶侧，活动导电触头(3)顶端呈圆滑状。

5.如权利要求4所述一种闪存芯片高效测试板，其特征在于：所述弹性导电件(4)位于活动腔(201)底部内，弹性导电件(4)顶部为弹性可伸缩状，活动导电触头(3)底部与弹性导电件(4)顶部相接触。

6.如权利要求1所述一种闪存芯片高效测试板，其特征在于：所述弹性导电件(4)一端通过焊接方式与电路板(1)内部线路相接，电路板(1)顶部设有插座(101)，插座(101)与电路板(1)内部线路相接，插座(101)通过排线与测试主板相连。

技术总结本技术提供一种闪存芯片高效测试板，涉及芯片测试技术领域，包括电路板；所述电路板顶部安装有测试座，且测试座内部安装有两组活动导电触头，活动导电触头数量与闪存芯片针脚数量相等；所述测试座内部安装有两组弹性导电件，弹性导电件数量与活动导电触头数量相等，且弹性导电件与活动导电触头相连，弹性导电件一端延伸至测试座外部，并且弹性导电件与电路板相连；所述电路板顶部安装有支撑架。本技术当闪存芯片的针脚与活动导电触头顶端接触时，活动导电触头受压力影响向下移动，弹性导电件顶部呈收缩蓄力状态，通过弹性导电件对活动导电触头底部施加推力，使活动导电触头顶端与闪存芯片的针脚紧密接触，保障闪存芯片连接测试效果。技术研发人员：王玉伟,孙丹归,郑双桥,邹小玲受保护的技术使用者：深圳市卓然电子有限公司技术研发日：20230803技术公布日：2024/2/6