一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法与流程

本发明涉及芯片测试，具体涉及一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法。

背景技术：

1、随着电子科技的日益进步，个人计算机、工作站、智能设备、监控设备等设备变得尤为普遍，这些设备中使用了各种存储芯片、控制芯片、逻辑芯片，因此芯片测试设备变得尤为重要。芯片测试需要电源板供电，数字测试板进行直流参数测试、功能测试等，电源芯片、专用测试芯片都会存在误差，所以需要对测量单元进行校准，对于校准数据的存储，现有技术方案一般分为以下两种：

2、（1）所有校准数据存在ews中，校准数据的存储以及调用根据板卡slot号，如果交叉板卡使用，需要重新校准，浪费时间，或者需要根据实际交叉情况对调校准数据，这种情况又容易出现错误；

3、（2）所有校准数据存储在板内存储器件如flash等，由于memory测试设备通道众多，校准数据量大，需要大容量的flash存储设备进行存储，并且调用时读取耗费时间；

4、本发明提出了一种校准数据存储以及调用方法，可以用有限的存储空间提高存储精度，增加校准数据存储以及使用的灵活性。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，解决以下技术问题：

2、如何用有限的存储空间提高存储精度，增加校准数据存储以及使用的灵活性。

3、本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

4、一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，基于通道板、eeprom存储通道板、校准数据存储器件、第一可编程逻辑器件、第二可编程逻辑器件、专用测试芯片和ews，包括以下步骤：

5、对通道板进行调试，生成通道板的专属id写入到eeprom中；

6、对通道板内部adc进行两点法校准，adc选择输入gnd_ref信号，计算出偏移参数；adc选择输入3v_ref信号，计算出增益参数；将偏移参数和增益参数存储并对adc进行校准；

7、通过校准后的adc对专用测试芯片进行dc校准，将校准数据分别存储在ews和通道板内校准数据存储器件；

8、测试时，首先读取每个slot对应的通道板卡id，ews根据slot与id的对应关系，调用ews内的校准数据，计算后得出下发的值通过lan口下发到通道板内的interface，interface经过aurora转接发给第二可编程逻辑器件；第二可编程逻辑器件将控制数据依次分发至专用测试芯片；

9、测试中，第二可编程逻辑器件根据当前测试项目和专用测试芯片温度从校准数据存储器件读取校准数据，计算代入到专用测试芯片；

10、第一可编程逻辑器件生成测试向量进行测试。

11、作为本发明进一步的方案：利用adc对芯片进行dc校准的具体过程为：

12、选择相应器件，设置fvmv模式，串行控制开关闭合，其余通道串行控制开关打开，选择adc相应通道；

13、选择控制精密负载继电器，选择r0开路；

14、设置施压期望值ve0，adc的cal端口采集施加出的实际值va0；

15、设置施压期望值ve1，adc的cal端口采集施加出的实际值va1；

16、根据ve0、va0、ve1、va1计算该通道施加电压的增益参数和偏移参数，对adc通道进行校准；将校准所得结果发送至ews上位机进行计算，计算后存储。

17、作为本发明进一步的方案：所述eeprom存储通道板id共64bit，该64bit数据在通道板首次调试时生成，由board_type、year、month、day、hour、8bit随机数组成；

18、所述校准数据存储器件和ews共同用于存储校准数据，所述ews还用于上位机控制；

19、所述可编程逻辑器件用于校准和调取使用存储数据。

20、作为本发明进一步的方案：所述ews将不同通道板的校准数据根据通道板的专属id号分别存储，测试时，ews根据通道板id号调取对应校准数据，将增益参数和偏移参数代入计算生成实际下发至通道板的值。

21、作为本发明进一步的方案：所述校准数据存储器件用于存储特定测试项目和特定测试温度下的校准数据，进行实时读取并且迭代计算。

22、作为本发明进一步的方案：计算专用测试芯片内部daccode的过程为：

23、对内部dac施加测试电压，提取输出电压的增益参数对应的存储数据值m，以及偏移参数的存储数据c，获取当前型号dac输出电压的增益参数区间[u,v]，偏移参数区间[x，y]，参数区间内的每个参数值均对应一个具体的存储数据值，通过存储数据值m和c计算出dac输出电压的增益参数gain和实际偏移参数offset，公式为：

24、m=((gain-u)/0.1)0xffff；

25、c=((offset-x)/0.1)0xffff；

26、其中0xffff表示32bit数据，通过32bit数据存储m和c的小数部分；

27、获取内部dac所需的输出电压vout，通过公式vout=gain×vset+offset计算需要设置的输入电压值vset；并通过公式：

28、vset=(daccode/16384-1)(vref-vdgs)+vdgs；

29、计算出所要设置的daccode，vref表示参考电压，vdgs表示专用测试芯片的gnd电压。

30、本发明的有益效果：

31、本发明根据板卡id存储、调用数据，交换板卡调试时，不需重新校准，也不用根据交叉情况人为调换数据，软件根据板卡id自动调取数据，增加了数据使用的灵活性；在存储校准数据时，截去公共部分，只存储差异部分数据，可以减少存储数据位数，减少ews以及板内存储所需内存；同样的校准精度，所需存储空间更少，存储以及调用的时间更少；可以用有限的存储空间提高存储精度，增加校准数据存储以及使用的灵活性。

技术特征：

1.一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，其特征在于，基于通道板、eeprom存储通道板、校准数据存储器件、第一可编程逻辑器件、第二可编程逻辑器件、专用测试芯片和ews，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，其特征在于，利用adc对芯片进行dc校准的具体过程为：

3.根据权利要求1所述的一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，其特征在于，所述eeprom存储通道板id共64bit，该64bit数据在通道板首次调试时生成，由board_type、year、month、day、hour、8bit随机数组成；

4.根据权利要求3所述的一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，其特征在于，所述ews将不同通道板的校准数据根据通道板的专属id号分别存储，测试时，ews根据通道板id号调取对应校准数据，将增益参数和偏移参数代入计算生成实际下发至通道板的值。

5.根据权利要求3所述的一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，其特征在于，所述校准数据存储器件用于存储特定测试项目和特定测试温度下的校准数据，进行实时读取并且迭代计算。

6.根据权利要求1所述的一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，其特征在于，计算专用测试芯片内部daccode的过程为：

技术总结本发明公开了一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，属于芯片测试技术领域，具体包括：调试通道板，生成专属ID并写入EEPROM；选择对应信号，计算偏移和增益参数，存储并校准ADC；对专用测试芯片进行DC校准，将数据存储在EWS和通道板内；测试时，读取每个SLOT的通道板卡ID，根据SLOT与ID的关系调用EWS内校准数据，计算下发值至通道板内；第二可编程逻辑器件将控制数据分发至专用测试芯片；测试中，第二可编程逻辑器件根据当前测试项目和温度从校准数据存储器件读取校准数据，代入专用测试芯片；第一可编程逻辑器件生成测试向量进行测试；本发明用有限的存储空间提高了存储精度。技术研发人员：宋秀良,钱黄生,刘金海,薛如军,徐茂强受保护的技术使用者：悦芯科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/2/29