一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统的制作方法

本发明涉及芯片测试，具体涉及一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统。

背景技术：

1、集成电路产业的发展关键的就是测试，集成电路测试贯穿在集成电路设计、芯片制造、封装及集成电路应用的全过程。测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。测试内容可以归纳为两大类：参数测试与功能测试。参数测试主要是直流参数测试，在dut管脚施加电压或电流测出具体的参数值；而功能测试就是逻辑测试，根据向量真值表，施加预定的激励，实现预期逻辑功能的一种测试。

2、从测试芯片的种类分，可以分为soc测试仪，模拟测试仪，存储器测试仪等。存储测试仪区别于普通的soc测试仪就是测试向量大，要存储的信息多。在存储芯片测试设备中，测试向量的产生和普通的soc测试设备产生的方法不一样，因为存储芯片测试需要大量的测试向量，测试向量的种类和深度都不一样但又遵循一定的规则。所以我们采用alpg（algorithmic pattern generator）的方法产地址和数据。aplg产生的地址是逻辑地址和实际的芯片的物理地址不是一一对应的，需要绕码功能，传统的扰码是单数据绕码，每次绕码都要设置转换的地址，从上位机经过层层的路径才能到达绕码模块，速度较慢。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，解决以下技术问题：

2、aplg产生的地址是逻辑地址和实际的芯片的物理地址不是一一对应的，需要绕码功能，传统的扰码是单数据绕码，每次绕码都要设置转换的地址，从上位机经过层层的路径才能到达绕码模块，速度较慢。

3、本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

4、一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，包括：

5、地址采集模块，用于以存储芯片的一端为原点建立正向直角坐标系，在存储芯片中生成若干个逻辑地址（x，y），所述逻辑地址包括x地址位和y地址位，所述逻辑地址的初始位为（0，0），获取存储芯片的地址匹配算法，所述地址匹配算法用于将逻辑地址（x，y）转换为存储芯片实际的物理地址（u，v）；

6、x地址绕码ram，用于预先存储所有x地址位逻辑地址对应的物理地址，并存储任一x地址位逻辑地址与对应物理地址的索引关系，将x地址位的逻辑地址根据顺序进行排序获得x1，x2，...xn，n为正整数；

7、y地址绕码ram，用于预先存储所有y地址位逻辑地址对应的物理地址，并存储任一y地址位逻辑地址与对应物理地址的索引关系，将y地址位的逻辑地址根据顺序进行排序获得y1，y2，...ym，m为正整数；

8、y地址突发模块，用于将首个x地址位和y地址位标记为初始突发地址，并根据绕码ram中获取初始突发地址的物理地址（u1，v1），设置突发长度n，n≤m，对y地址位进行突发，每次突发保持x地址位的物理地址u1不变，y地址位的物理地址则自动加1，在y地址绕码ram中获取对应的物理地址vi，依次生成新的物理地址（u1，vi），i∈2,...,n，直至i=n，则本轮突发停止；根据顺序从x地址绕码ram中采集下一个x地址位的物理地址和首个y地址位的物理地址生成(uj，v1)，作为下一轮的初始突发地址，继续进行下一轮突发，j表示突发轮数，j∈2,...,n，直至j=n，则存储芯片的全部突发结束。

9、作为本发明进一步的方案：所述y地址突发模块中，若n小于m，则下一轮突发保持x地址位的物理地址u1不变，y地址位的物理地址仍然自动加1，在y地址绕码ram中输出对应的物理地址vi，依次生成新的物理地址（u1，vi），直至i=n+m，则本轮突发结束，m≤m，m为本轮突发的次数。

10、作为本发明进一步的方案：所述地址采集模块中通过alpg方法生成存储芯片的逻辑地址。

11、作为本发明进一步的方案：x地址绕码ram和y地址绕码ram中预先存入存储芯片生产厂家提供的地址匹配算法。

12、作为本发明进一步的方案：在x地址绕码ram和y地址绕码ram中：

13、根据地址匹配算法预先计算所有逻辑地址对应的物理地址绕码数据，x地址位对应的物理地址绕码数据存储在x绕码ram中，y地址位对应的物理地址绕码数据存储在y绕码ram中，x绕码ram或y绕码ram中均存储有任一逻辑地址与对应物理地址的索引关系，x地址位或y地址位的逻辑地址自身作为索引，根据索引关系找到对应的逻辑地址进行输出。

14、作为本发明进一步的方案：所述x地址位和y地址位仅代表坐标位置，不同存储芯片逻辑地址对应的物理地址的数值不同。

15、本发明的有益效果：

16、（1）本发明在行x地址位确定的情况下，可以对列y地址为绕码进行突发读写，突发模块首先设置好突发长度，然后y的低位地址自动加1进行绕码，在本次突发结束后，假如y还没有达到最大的地址，那么继续突发，达到最大地址后，y变为初始值，然后x+1，继续y突发，这样做的好处是节省了外部的一系列操作，同时每次突发只改变y列的值，节省时间，提高了效率，同时，通过预先计算物理地址存储在绕码ram中，进一步提高了系统的灵活性和可靠性。

技术特征：

1.一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，其特征在于，所述y地址突发模块中，若n小于m，则下一轮突发保持x地址位的物理地址u1不变，y地址位的物理地址仍然自动加1，在y地址绕码ram中输出对应的物理地址vi，依次生成新的物理地址（u1，vi），直至i=n+m，则本轮突发结束，m≤m，m为本轮突发的次数。

3.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，其特征在于，所述地址采集模块中通过alpg方法生成存储芯片的逻辑地址。

4.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，其特征在于，x地址绕码ram和y地址绕码ram中预先存入存储芯片生产厂家提供的地址匹配算法。

5.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，其特征在于，在x地址绕码ram和y地址绕码ram中：

6.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，其特征在于，所述x地址位和y地址位仅代表坐标位置，不同存储芯片逻辑地址对应的物理地址的数值不同。

技术总结本发明公开了一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，属于芯片测试技术领域，具体包括：在存储芯片上建立一个坐标系，产生逻辑地址（x，y），使用地址匹配算法将逻辑地址转换为物理地址（u，v），预先存储所有X/Y地址位对应的物理地址，并存储索引关系；标记初始X和Y地址位为突发地址，并根据初始物理地址设置突发长度N，对Y地址位进行突发操作，保持X地址位的物理地址不变，Y地址位的物理地址自动加1，直到达到N轮次后停止；然后，获取下一个X地址位的物理地址和首个Y地址位的物理地址，作为下一轮的初始突发地址，重复突发操作；本发明实现了对存储芯片逻辑地址准确且快速的绕码。技术研发人员：钱黄生,崔荣薰,刘金海受保护的技术使用者：悦芯科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/2/29