一种存储设备的IO性能测试方法

本发明涉及存储设备性能测试，特别是涉及一种存储设备的io性能测试方法。

背景技术：

1、在信息化时代的发展下，存储技术为满足日益丰富的数据的存储需求不断更新发展，具有高性能、高容量和高传输效率的存储设备是主要的技术成品之一。

2、io性能(数据读写能力)是衡量存储设备的重要指标之一，对于长时间服务在重要岗位的存储设备，需要定时对存储设备进行io性能的测试，从而确保存储设备能够满足数据传输工作的需求，目前的存储设备的io性能测试是通过小型数据块对存储设备的数据读写延时进行测试，但是由于存储设备在进行数据读写时会受到网络环境波动、操作系统的响应速率等干扰因素的影响，导致测试的延时指标数据存在误差大的风险，导致测量结果精准性低、可靠性不足，因此需要一种能够减少存储设备延时指标测量误差的测量方法。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种存储设备的io性能测试方法，其通过设置不同的测试分区模拟存储设备的工作环境，通过目标数据检测测试每个分区的响应时间，通过比较每个测试分区之间的差值评估存储设备的io性能，通过缓存传输的方式减少干扰因素造成的测量误差，从而提高对存储设备io性能测试的准确性和可靠性。

2、本发明提供了一种存储设备的io性能测试方法，所述io性能测试方法包括：

3、s100：获取存储设备的历史存储数据，基于所述历史存储数据建立测试数据库；

4、s110：获取存储设备的历史使用数据，基于所述历史使用数据在所述存储设备内划分若干个测试分区；

5、s120：在所述测试数据库中提取测试数据集，在所述测试数据库中随机抽取测试数据集，在所述测试数据集中随机选取数据，并对选取的数据进行标记，得到目标数据；

6、s130：将所述测试数据集依次输入若干个所述测试分区，记录每个测试分区内目标检测数据的读写响应时间，得到分区测试数据；

7、所述存储设备将所述测试数据集缓存预设时间后输出；

8、获取目标数据输入存储设备的读取时刻，获取所述存储设备输出目标数据的写入时刻；

9、结合所述读取时刻、写入时刻以及预设时间，得到所述目标数据的读写响应时间；

10、所述目标数据的读写响应时间计算公式为：

11、tr＝(to-ti)-ts；

12、其中：tr为目标数据的读写响应时间，to是目标数据的写入时刻，ti是目标数据的读取时刻，ts为预设时间；

13、s140：取任意两个分区测试数据进行差值比较，根据差值比较结果计算误差时间；

14、s150：将误差时间与预设的时差阈值进行比较，根据比较结果对存储设备的io性能进行等级评定。

15、在可选的实施例，所述获取存储设备的历史使用数据，基于所述历史使用数据在所述存储设备内划分若干个测试分区包括：

16、根据存储设备的历史使用数据提取存储设备的数据存储量变化情况以及读写频率情况；

17、根据所述数据存储量变化情况和所述读写频率情况在所述存储设备内划分若干个测试分区。

18、在可选的实施例，所述根据所述数据存储量变化情况和所述读写频率情况在所述存储设备内划分若干个测试分区包括：

19、任意两个测试分区的数据存储量不相同，和/或任意两个测试分区的读写频率不相同。

20、在可选的实施例，所述在所述测试数据集中随机选取数据，并对选取的数据进行标记，得到目标数据包括：

21、在选取的数据前插入第一标记符，在选取的数据后插入第二标记符。

22、在可选的实施例，所述获取目标数据输入存储设备的读取时刻，获取所述存储设备输出目标数据的写入时刻包括：

23、读取所述目标测试数据的第一标记符和第二标记符，根据第一标记符和所述第二标记符的读取顺序，标记所述目标测试数据的读取时刻和写入时刻。

24、在可选的实施例，所述取任意两个分区测试数据进行差值比较，根据差值比较结果计算误差时间包括：

25、通过穷举法对若干个分区测试数据进行两两差值计算，从而得到误差时间数据集。

26、在可选的实施例，所述将误差时间与预设的时差阈值进行比较，根据比较结果对存储设备的io性能进行等级评定包括：

27、将误差时间数据集中的误差时间依次与预设的时差阈值进行比较，判断误差时间是否大于所述时差阈值，若是，则为不及格，若否，则为及格；

28、计算误差时间数据集的误差时间及格率，根据所述误差时间及格率评定所述存储设备的io性能等级。

29、本发明还提供了一种存储设备的io性能测试装置，所述测试装置用于执行所述io性能测试方法，所述测试装置包括：

30、数据库建立模块：获取存储设备的历史存储数据，基于所述历史存储数据建立测试数据库；

31、测试分区划分模块：获取存储设备的历史使用数据，基于所述历史使用数据在所述存储设备内划分若干个测试分区；

32、测试数据模块：在所述测试数据库中提取测试数据集，在所述测试数据库中随机抽取测试数据集，在所述测试数据集中随机选取数据，并对选取的数据进行标记，得到目标数据；

33、分区测试模块：将所述测试数据集依次输入若干个所述测试分区，记录每个测试分区内目标检测数据的读写响应时间，得到分区测试数据；

34、所述存储设备将所述测试数据集缓存预设时间后输出；

35、获取目标数据输入存储设备的读取时刻，获取所述存储设备输出目标数据的写入时刻；

36、结合所述读取时刻、写入时刻以及预设时间，得到所述目标数据的读写响应时间；

37、所述目标数据的读写响应时间计算公式为：

38、tr＝(to-ti)-ts；

39、其中：tr为目标数据的读写响应时间，to是目标数据的写入时刻，ti是目标数据的读取时刻，ts为预设时间；

40、差值比较模块：取任意两个分区测试数据进行差值比较，根据差值比较结果计算误差时间；

41、等级评定模块：将误差时间与预设的时差阈值进行比较，根据比较结果对存储设备的io性能进行等级评定。

42、本发明的有益效果是：通过分区的方式模拟存储设备的不同工作环境，在不同测试分区下进行目标检测数据的跟踪记录，从而确定不同测试分区下之间的读写时间差，通过分析不同测试分区的读写响应时间差对存储设备的io性能进行评估，通过缓存传输的方式减少干扰因素造成的测量误差，提高存储设备的io性能评估的可靠性和准确性。

技术特征：

1.一种存储设备的io性能测试方法，其特征在于，所述io性能测试方法包括：

2.根据权利要求1所述的存储设备的io性能测试方法，其特征在于，所述获取存储设备的历史使用数据，基于所述历史使用数据在所述存储设备内划分若干个测试分区包括：

3.根据权利要求2所述的存储设备的io性能测试方法，其特征在于，所述根据所述数据存储量变化情况和所述读写频率情况在所述存储设备内划分若干个测试分区包括：

4.根据权利要求1所述的存储设备的io性能测试方法，其特征在于，所述在所述测试数据集中随机选取数据，并对选取的数据进行标记，得到目标数据包括：

5.根据权利要求4所述的存储设备的io性能测试方法，其特征在于，所述获取目标数据输入存储设备的读取时刻，获取所述存储设备输出目标数据的写入时刻包括：

6.根据权利要求1所述的存储设备的io性能测试方法，其特征在于，所述取任意两个分区测试数据进行差值比较，根据差值比较结果计算误差时间包括：

7.根据权利要求6所述的存储设备的io性能测试方法，其特征在于，所述将误差时间与预设的时差阈值进行比较，根据比较结果对存储设备的io性能进行等级评定包括：

8.一种存储设备的io性能测试装置，其特征在于，所述测试装置用于执行权利要求1至7任一所述的io性能测试方法，所述测试装置包括：

技术总结本发明公开了一种存储设备的IO性能测试方法，涉及存储设备性能测试领域，IO性能测试方法包括：获取存储设备的历史存储数据，基于历史存储数据建立测试数据库；获取存储设备的历史使用数据并在存储设备内划分若干个测试分区；在测试数据库中提取测试数据集并标记目标检测数据；将测试数据集依次输入若干个测试分区，记录每个测试分区内目标检测数据的读写响应时间，得到分区测试数据；取任意两个分区测试数据进行差值比较，根据差值比较结果计算误差时间；将误差时间与预设的时差阈值进行比较，根据比较结果进行等级评定。其通过比较每个测试分区之间的差值评估存储设备的IO性能，减少测量误差，从而提高测试的准确性和可靠性。技术研发人员：李华泰,黄定昌,卢来受保护的技术使用者：湛江科技学院技术研发日：技术公布日：2024/3/12