对存储器进行读写覆盖测试的方法及计算设备与流程

本发明涉及芯片验证与测试，具体涉及一种对存储器进行读写覆盖测试的方法及计算设备。

背景技术：

1、随着科技的快速发展，芯片已大量应用于生活中的方方面面，芯片的设计、验证、制造、测试每一环节都需要高成本的投入。因此，芯片流片的成功率就显得特别重要，为了提高芯片流片的成功率，一般会在芯片验证与测试方面加大投入，一方面是基于eda的验证用例需要覆盖的多，一方面是基于emulator、fpga等验证测试平台增加底层软件的测试项与测试力度。在芯片的验证与测试中，对于存储器的读写覆盖测试是比较重要的测试项，一般一个soc芯片上会有多种存储器，相对应的，也会有多个对存储器进行读写的主设备。

2、为此，需要一种技术方案，能够对存储器的覆盖测试流程进行加速，对于非cpu的主设备进行读写覆盖测试时，测试点覆盖更加全面，同时节约验证与测试的时间。

技术实现思路

1、本发明旨在提供一种对存储器进行读写覆盖测试的方法及计算设备，能够优化存储器的读写覆盖测试技术，节约验证与测试时间。

2、根据本发明的一方面，提供一种对存储器进行读写覆盖测试的方法，所述包括：

3、执行第一操作，将所述存储器的存储空间等分为n个存储单元，n为大于2的整数；

4、执行第二操作，将第一数据填充至第一存储单元，从而初始化所述第一存储单元；

5、执行第三操作，以第二存储单元至第n-1存储单元依次作为搬运中继，将所述第一存储单元的数据搬运至第n存储单元，从而所述n个存储单元均预期填充以所述第一数据；

6、执行第四操作，对比所述第一存储单元和所述第n存储单元的数据，从而确定所述搬运操作的正确性。

7、根据一些实施例，所述方法用于验证系统单晶片芯片，所述系统单晶片芯片包括中央处理器和主设备，所述主设备具有主动发起存储器读写请求的功能，其中：

8、所述存储器为验证平台的物理存储器；

9、所述中央处理器用于执行第一操作、执行第二操作及执行第四操作；

10、所述主设备用于执行第三操作。

11、根据一些实施例，所述系统单晶片芯片实现为寄存器传输级代码综合的位流、或利用集成电路的门阵列实现的逻辑。

12、根据一些实施例，所述主设备包括远程直接内存访问控制器。

13、根据一些实施例，所述远程直接内存访问控制器包括宏定义存储器、宏定义控制器、宏定义解析引擎，其中：

14、所述宏定义控制器根据触发指令从所述宏定义存储器中读取宏定义，所述宏定义用于指示执行第三操作；

15、所述宏定义控制器根据所述宏定义中的同步配置检查目标地址的状态，并在所述目标地址的状态满足指定条件时，将所述宏定义发送给所述宏定义解析引擎。

16、根据一些实施例，所述目标地址包括用于第三操作的所述n个存储单元的读地址和写地址，所述目标地址的状态满足指定条件包括：

17、所述读地址的状态为可读时，从所述读地址读取数据；

18、所述写地址的状态为可写时，向所述写地址写入数据。

19、根据一些实施例，所述方法用于中央处理器和/或所述主设备的读写匹配验证；和/或

20、所述方法用于所述中央处理器和/或所述主设备之间的地址映射验证。

21、根据一些实施例，所述方法用于所述存储器的生产测试，测试设备的中央处理器用于执行第一操作、执行第二操作、执行第三操作及执行第四操作。

22、根据一些实施例，还包括：生成随机数；

23、将所述随机数作为所述第一数据。

24、根据本发明的另一方面，提供一种计算设备，包括：

25、处理器；以及

26、存储器，存储有计算机程序，当所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如上任一项所述的方法。

27、根据本发明的另一方面，提供一种非瞬时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机可读指令，当所述指令被处理器执行时，使得所述处理器执行如上任一项所述的方法。

28、根据本发明的实施例，去掉了现有soc芯片验证技术方案中的cpu多次比较存储器各个存储单元数据的操作，大大缩短了整个验证与测试的时间；同时，本发明的方法中确保存储器的各个中间存储单元都被读写覆盖，测试更加全面。

29、本发明提出的一种优化的存储器读写覆盖测试的方法，能减少芯片验证与测试的时间，进而减少了芯片设计开发迭代过程中的时间，从而减少芯片研发的时间，优化芯片的验证与测试，可以提高芯片设计和制造的可靠性和稳定性，从而降低风险。

30、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本发明。

技术特征：

1.一种对存储器进行读写覆盖测试的方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法用于验证系统单晶片芯片，所述系统单晶片芯片包括中央处理器和主设备，所述主设备具有主动发起存储器读写请求的功能，其中：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述系统单晶片芯片实现为寄存器传输级代码综合的位流、或利用集成电路的门阵列实现的逻辑。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述主设备包括远程直接内存访问控制器。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述远程直接内存访问控制器包括宏定义存储器、宏定义控制器、宏定义解析引擎，其中：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述目标地址包括用于第三操作的所述n个存储单元的读地址和写地址，所述目标地址的状态满足指定条件包括：

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法用于所述存储器的生产测试，测试设备的中央处理器用于执行第一操作、执行第二操作、执行第三操作及执行第四操作。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

10.一种计算设备，其特征在于，包括：

技术总结本发明提供一种用于存储器进行读写覆盖测试的方法和计算设备，所述方法包括：执行第一操作，将所述存储器的存储空间等分为N个存储单元，N为大于2的整数；执行第二操作，将第一数据填充至第一存储单元，从而初始化所述第一存储单元；执行第三操作，以第二存储单元至第N‑1存储单元依次作为搬运中继，将所述第一存储单元的数据搬运至第N存储单元，从而所述N个存储单元均预期填充以所述第一数据；执行第四操作，对比所述第一存储单元和所述第N存储单元的数据，从而确定所述搬运操作的正确性。根据发明的技术方案，能够在芯片验证环境中实现对存储器的读写全覆盖。技术研发人员：伍永情,蔡权雄,牛昕宇受保护的技术使用者：深圳鲲云信息科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/17