一种轮换式交替访问3DNAND存储器可靠性并行测试方法与流程

本发明涉及一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，属于存储器可靠性测试。

背景技术：

1、随着科技的不断发展，存储器在各种电子产品中的应用越来越广泛，其可靠性问题也日益受到关注。在实践中，为了测试存储器的可靠性，通常需要进行长时间的疲劳试验，以模拟实际应用中的各种情况。这种方法不仅耗时，而且需要大量的人力物力资源。

技术实现思路

1、本发明解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种轮换式交替访问3dnand存储器可靠性并行测试方法，缩短测试时间，提高测试效率和灵活性。

2、本发明的技术解决方案是：一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，包括：

3、利用并行处理fpga向多个待测的3d nand发送命令信号，获取所有待测的3d nand在接收到读命令信号后产生的运行数据；

4、按预设优先级，对所有待测的3d nand的运行数据实施轮换式交替访问算法，实现对所有存储器的并行均匀访问，得出多种不同场景下的芯片功能和性能特性。

5、进一步地，所述利用并行处理fpga向多个待测的3d nand发送命令信号包括：将多个3d nand的命令信号同时发送给并行处理fpga，通过并行处理fpga并行地处理命令信号，并从每个3d nand中获取相应的读数据。

6、进一步地，预先定义优先级，按预设的优先级对所有待测的3d nand的运行数据实施轮换式交替访问算法。

7、进一步地，对多块待测的nand flash的访问强度通过读、写命令的频率、地址范围或数据量大小进行调整。

8、进一步地，所述实施轮换式交替访问算法包括：

9、初始时刻，定义表示轮询的间隔时间的时间变量t和表示当前访问的存储器位置的指针变量p；

10、在测试开始时，将时间变量t和指针变量p初始化为0；

11、根据指针变量p将所有待测的3d nand存储器分为两组，每组中包含所有指针变量p对应位置上的存储器；在每个时间变量t时间间隔内，依次对两组中的存储器进行读和写操作；同时更新指针变量p和时间变量t的值，使指针变量p加一，时间变量t减一；如果指针变量p超出存储器总数，则将其置为0；直至遍历所有位置和3d nand存储器，实现对所有3dnand存储器的并行均匀访问。

12、进一步地，所述多个待测的3d nand为同一类型的芯片或不同类型的芯片。

13、进一步地，所述并行处理fpga通过与3d nand之间的通信接口进行连接和通信。

14、进一步地，所述命令信号包括对芯片的擦除、编程、读取、数据保持。

15、一种计算机可读存储介质，所述的计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述的计算机程序被处理器执行时实现所述一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法的步骤。

16、一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述的处理器执行所述的计算机程序时实现所述一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法的步骤。

17、本发明与现有技术相比的优点在于：

18、(1)本发明通过并行处理多个3d nand的可靠性测试，显著缩短了测试时间；

19、(2)本发明通过预设的轮换式交替访问算法，实现了对多块nand flash的高效控制和访问；

20、(3)本发明通过预设的优先级和轮询算法，提高了测试的灵活性和效率；

21、(4)本发明在一次试验中可以得出多种不同场景下的芯片特性，降低了试验成本。

技术特征：

1.一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，其特征在于，所述利用并行处理fpga向多个待测的3d nand发送命令信号包括：将多个3dnand的命令信号同时发送给并行处理fpga，通过并行处理fpga并行地处理命令信号，并从每个3d nand中获取相应的读数据。

3.根据权利要求1所述的一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，其特征在于，预先定义优先级，按预设的优先级对所有待测的3dnand的运行数据实施轮换式交替访问算法。

4.根据权利要求1所述的一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，其特征在于，对多块待测的nand flash的访问强度通过读、写命令的频率、地址范围或数据量大小进行调整。

5.根据权利要求1所述的一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，其特征在于，所述实施轮换式交替访问算法包括：

6.根据权利要求1所述的一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，其特征在于，所述多个待测的3d nand为同一类型的芯片或不同类型的芯片。

7.根据权利要求1所述的一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，其特征在于，所述并行处理fpga通过与3d nand之间的通信接口进行连接和通信。

8.根据权利要求1所述的一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试方法，其特征在于，所述命令信号包括对芯片的擦除、编程、读取、数据保持。

9.一种计算机可读存储介质，所述的计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述的计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1～权利要求8任一所述方法的步骤。

10.一种轮换式交替访问3d nand存储器可靠性并行测试设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于：所述的处理器执行所述的计算机程序时实现如权利要求1～权利要求8任一所述方法的步骤。

技术总结在实际开展存储器可靠性试验时，为了减少测试时间及成本，本发明提出一种基于高性能FPGA的3D NAND可靠性并行测试方法，利用FPGA并行处理能力，同时向多个3D NAND发送读、写等命令信号，并获取3D NAND在接收到读命令信号后产生的数据；同时内置轮换式交替访问算法，通过在控制程序中预先定义优先级，实现对指定的某一块或多块3D NAND存储器进行控制，以预置的轮询算法进行并行访问，可以对多块NAND Flash以不同的强度进行访问，进而可以在一次试验中，在较少的试验时间内，得出多种不同场景下的芯片特性，提高测试灵活性。本发明可实现并行处理多个3D NAND的可靠性测试，缩短测试时间，提高测试效率和灵活性。技术研发人员：郑雪松,王亚男,莫日根,王博,吉俐,杨智博,张雷浩,王文炎,梅博受保护的技术使用者：中国空间技术研究院技术研发日：技术公布日：2024/4/8