一种存储芯片简易测试装置的制作方法

本技术属于芯片测试，具体为一种存储芯片简易测试装置。

背景技术：

1、存储芯片是通过内部的存储颗粒对数据进行保存的，通常这类产品都是在正常温度环境下使用的，然而在某些特殊情况下，这些产品的使用会接触到高温或低温环境，而在高温或低温的环境下工作会对芯片的存储功能造成严重的影响，所以有必要针对存储芯片在高温或低温环境下的性能进行测试，而现有的测试装置大多体型庞大，不便于移动，且操作复杂，不便于芯片的快速测试，并且目前测试装置升温或降温速度慢，一次测试的芯片数量较少，造成芯片测试工作效率低下。

技术实现思路

1、为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种存储芯片简易测试装置，解决了芯片测试装置不便于移动，操作复杂且测试效率低的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种存储芯片简易测试装置，包括测试柜，所述测试柜前方连接有柜门，所述柜门上固定连接有把手，所述测试柜上方固定连接有制温箱，所述制温箱两侧固定连接有多个通风管，所述测试柜内部固定连接有固定板，所述固定板上连接有隔板，所述测试柜内部固定连接有罩壳，所述测试柜内部安装有升降装置，所述测试柜下方连接有万向轮，所述测试柜下方固定连接有支撑柱，所述测试柜下方固定连接有限位板，所述支撑柱上套有弹簧，所述支撑柱下方连接有橡胶套，所述橡胶套上固定连接有踩踏板，所述踩踏板两侧固定连接有固定块，所述固定块上连接有u形板，所述限位板上开设有限位孔，所述罩壳上开设有通风口，所述罩壳内安装有风扇。

3、作为本实用新型的进一步方案：所述升降装置包括底座，所述底座上开设有滑槽，所述底座上固定连接有液压器，所述滑槽内滑动连接有连接杆，所述连接杆上转动连接有外连接板，所述外连接板上交叉连接有内连接板，所述底座通过外连接板与内连接板连接有升降台。

4、作为本实用新型的进一步方案：所述升降台上固定连接有测试器，所述测试器上固定连接有测试台，所述测试台两侧固定连接有橡胶块，所述测试台上方安装有芯片安装板，所述芯片安装板上安装有芯片主体。

5、作为本实用新型的进一步方案：所述u形板一端通过固定销转动连接在固定块上，所述u形板另一端能卡入限位孔中，所述隔板两侧固定连接有t形条，所述固定板上开设有卡槽，所述t形条滑动连接在卡槽内。

6、作为本实用新型的进一步方案：所述测试器通过螺栓固定连接在升降台上，所述测试器上设置有多个用于数据传输的传输杆，所述测试台上安装多个芯片安装板，且芯片安装板上设置有用于安装芯片主体引脚的插孔。

7、作为本实用新型的进一步方案：所述弹簧一端与测试柜的底面固定连接，所述弹簧远离测试柜的一端与橡胶套固定连接，所述橡胶套滑动连接在支撑柱上。

8、与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

9、1、该存储芯片简易测试装置，通过设置制温箱，制温箱能够制造热风和冷风，再通过制温箱两侧连接的多个通风管将热风或冷风送入至测试柜内，通过安装隔板能够将测试柜分为两个部分，并且隔板上方空间较小，再通过安装在测试柜内部的风扇能够将从通风管内吹出的风快速的充满隔板上方空间，从而加快该测试装置的升温或降温速度，提高芯片主体测试效率。

10、2、该存储芯片简易测试装置，通过设置升降装置，在芯片测试时通过液压器推动连接杆在滑槽内移动，从而抬升升降台的高度，将安装在测试台上的芯片主体移动到隔板上方，在测试台上升时固定在测试台两侧的橡胶块能够起到限位的作用，且在测试台触碰到隔板时还能够起到缓冲的作用，从而保护测试台，通过将测试器上设置的多个传输杆伸入至测试台内能够更加准确的测试芯片主体的性能，而通过芯片安装板上的插孔能够快速的安装芯片主体，从而简化测试操作，提高工作效率。

11、3、该存储芯片简易测试装置，通过设置安装在测试柜底部的限位块与万向轮，当需要移动该测试装置时，拨动u形板将其从限位孔中移出，从而弹簧回弹将踩踏板连同与其连接的橡胶套向上拉动，再将u形板回正卡入限位孔中，从而固定住踩踏板，之后推动该测试装置移动至测试位置，当该测试装置移动到测试位置时，拨动u形板并同时向下踩动踩踏板，使得橡胶套下移直至触碰到地面，再将u形板回正卡入限位孔中，从而防止弹簧回弹，通过橡胶套能够避免该测试装置再测试时发生移动。

技术特征：

1.一种存储芯片简易测试装置，包括测试柜(1)，其特征在于：所述测试柜(1)前方连接有柜门(2)，所述柜门(2)上固定连接有把手(3)，所述测试柜(1)上方固定连接有制温箱(4)，所述制温箱(4)两侧固定连接有多个通风管(5)，所述测试柜(1)内部固定连接有固定板(6)，所述固定板(6)上连接有隔板(7)，所述测试柜(1)内部固定连接有罩壳(9)，所述测试柜(1)内部安装有升降装置(8)，所述测试柜(1)下方连接有万向轮(12)；

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片简易测试装置，其特征在于：所述升降装置(8)包括底座(801)，所述底座(801)上开设有滑槽(803)，所述底座(801)上固定连接有液压器(807)，所述滑槽(803)内滑动连接有连接杆(804)，所述连接杆(804)上转动连接有外连接板(805)，所述外连接板(805)上交叉连接有内连接板(806)，所述底座(801)通过外连接板(805)与内连接板(806)连接有升降台(802)。

3.根据权利要求2所述的一种存储芯片简易测试装置，其特征在于：所述升降台(802)上固定连接有测试器(23)，所述测试器(23)上固定连接有测试台(24)，所述测试台(24)两侧固定连接有橡胶块(25)，所述测试台(24)上方安装有芯片安装板(26)，所述芯片安装板(26)上安装有芯片主体(27)。

4.根据权利要求1所述的一种存储芯片简易测试装置，其特征在于：所述u形板(18)一端通过固定销转动连接在固定块(17)上，所述u形板(18)另一端能卡入限位孔(20)中，所述隔板(7)两侧固定连接有t形条(21)，所述固定板(6)上开设有卡槽(22)，所述t形条(21)滑动连接在卡槽(22)内。

5.根据权利要求3所述的一种存储芯片简易测试装置，其特征在于：所述测试器(23)通过螺栓固定连接在升降台(802)上，所述测试器(23)上设置有多个用于数据传输的传输杆(28)，所述测试台(24)上安装多个芯片安装板(26)，且芯片安装板(26)上设置有用于安装芯片主体(27)引脚的插孔(29)。

6.根据权利要求1所述的一种存储芯片简易测试装置，其特征在于：所述弹簧(15)一端与测试柜(1)的底面固定连接，所述弹簧(15)远离测试柜(1)的一端与橡胶套(16)固定连接，所述橡胶套(16)滑动连接在支撑柱(13)上。

技术总结本技术公开了一种存储芯片简易测试装置，属于芯片测试技术领域，其包括测试柜，所述测试柜前方连接有柜门，所述柜门上固定连接有把手，所述测试柜上方固定连接有制温箱，所述制温箱两侧固定连接有多个通风管，所述测试柜内部固定连接有固定板，所述固定板上连接有隔板，所述测试柜内部固定连接有罩壳，所述测试柜内部安装有升降装置，所述测试柜下方连接有万向轮，所述测试柜下方固定连接有支撑柱，所述罩壳上开设有通风口，所述罩壳内安装有风扇。该存储芯片简易测试装置，通过风扇和制温箱的制造高温或低温气流，使得测试柜内部温度能够快速的改变，从而能够快速的测试存储芯片在极温下的工作性能。技术研发人员：欧阳木洲受保护的技术使用者：深圳市陆和神州科技有限公司技术研发日：20230915技术公布日：2024/4/17