存储器的处理方法及处理装置、存储器与流程

本公开涉及但不限于半导体，尤其涉及一种存储器的处理方法及处理装置、存储器。

背景技术：

1、在对存储器进行封装之前，通常会通过封装前测试对存储器中存在故障的存储单元(即失效的存储单元)进行修复。然而，封装后的存储器中仍然可能存在失效的存储单元。相关技术中，可以通过封装后测试对封装后的存储器中的存储单元进行测试，并通过封装后修复对封装后的存储器中失效的存储单元进行修复。但是，相关技术中的封装后修复方案会对测试的每一存储器均执行修复操作，操作不灵活，且可能导致时间成本的浪费，使得修复成本较高。

技术实现思路

1、本公开提供了一种存储器的处理方法及处理装置、存储器，该存储器的处理方法可以提高对存储器进行修复的灵活性，并且可以减少不必要的修复操作，减少时间的浪费，降低修复成本。

2、本公开的技术方案是这样实现的：

3、本公开实施例提供了一种存储器的处理方法，包括：

4、对待测试的存储器中的存储单元进行测试；

5、获取所述存储器中设定的寄存器的使用状态信息；其中，所述寄存器用于存储在所述测试的过程中检测到的失效的存储单元对应的失效地址；

6、基于所述使用状态信息，对所述存储器中失效的存储单元进行修复。

7、本公开实施例提供了一种存储器，包括：至少一个存储单元、第一测试模块、寄存器、第一获取模块和第一修复模块；其中，

8、所述第一测试模块，用于：响应于接收到的测试指令，对所述至少一个存储单元进行测试，并在所述测试的过程中将检测到的失效的存储单元对应的失效地址存储至所述寄存器中；

9、所述第一获取模块，用于获取并输出所述寄存器的使用状态信息；

10、所述第一修复模块，用于响应于接收到的修复指令，对所述失效的存储单元进行修复，所述修复指令是基于所述使用状态信息确定的。

11、本公开实施例提供了一种存储器的处理装置，包括：

12、第二测试模块，用于对待测试的存储器中的存储单元进行测试；

13、第二获取模块，用于获取所述存储器中设定的寄存器的使用状态信息；其中，所述寄存器用于存储在所述测试的过程中检测到的失效的存储单元对应的失效地址；

14、第二修复模块，用于基于所述使用状态信息，对所述存储器中失效的存储单元进行修复。

15、本公开实施例中，对待测试的存储器中的存储单元进行测试；获取存储器中设定的寄存器的使用状态信息；其中，该寄存器用于存储在测试的过程中检测到的失效的存储单元对应的失效地址；基于该使用状态信息，对存储器中失效的存储单元进行修复。这样，可以提高对存储器进行修复的灵活性，并且，由于无需对测试的所有存储器均进行修复，从而可以减少不必要的修复操作，减少时间的浪费，降低修复成本。

技术特征：

1.一种存储器的处理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用状态信息表征所述寄存器的当前使用状态，所述当前使用状态包括以下之一：表征所述寄存器中未存储失效地址的第一状态；表征所述寄存器中已存储至少一个失效地址且所述寄存器未溢出的第二状态；表征所述寄存器溢出的第三状态。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述使用状态信息，对所述存储器中失效的存储单元进行修复，包括以下之一：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述存储器中设定的寄存器的使用状态信息，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述使用状态信息包括第一状态码和第二状态码，所述第一状态码用于表征所述寄存器中是否已存储失效地址，所述第二状态码用于表征所述寄存器是否溢出；所述寄存器的存储容量为k，所述数量包括n个二进制的计数位，k为正整数，n为k+1对应的二进制编码的位数，n个所述计数位分别与k+1对应的二进制编码中的每一编码位一一对应；

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一状态码为0的情况下表征寄存器中未存储失效地址，所述第一状态码为1的情况下表征寄存器中已存储至少一个失效地址；

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二状态码为0的情况下表征寄存器溢出，所述第二状态码为1的情况下表征寄存器未溢出；

8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

9.根据权利要求2至8中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述基于所述使用状态信息，确定所述存储器的测试结果，包括以下之一：

11.一种存储器，其特征在于，包括：至少一个存储单元、第一测试模块、寄存器、第一获取模块和第一修复模块；其中，

12.根据权利要求11所述的存储器，其特征在于，所述使用状态信息表征所述寄存器的当前使用状态，所述当前使用状态包括以下之一：表征所述寄存器中未存储失效地址的第一状态；表征所述寄存器中已存储至少一个失效地址且所述寄存器未溢出的第二状态；表征所述寄存器溢出的第三状态。

13.根据权利要求12所述的存储器，其特征在于，所述第一获取模块包括：

14.根据权利要求13所述的存储器，其特征在于，所述使用状态信息包括第一状态码和第二状态码，所述第一状态码用于表征所述寄存器中是否已存储失效地址，所述第二状态码用于表征所述寄存器是否溢出；所述寄存器的存储容量为k，所述数量包括n个二进制的计数位，k为正整数，n为k+1对应的二进制编码的位数，所述n个所述计数位分别与k+1对应的二进制编码中的每一编码位一一对应；

15.根据权利要求14所述的存储器，其特征在于，所述第一状态码为0的情况下表征寄存器中未存储失效地址，所述第一状态码为1的情况下表征寄存器中已存储至少一个失效地址；

16.根据权利要求14所述的存储器，其特征在于，所述第二状态码为0的情况下表征寄存器溢出，所述第二状态码为1的情况下表征寄存器未溢出；所述第二确定子模块包括至少一个反相器、以及与所述至少一个反相器连接的与非门；其中：

17.根据权利要求13至16中任一项所述的存储器，其特征在于，所述计数模块还用于：

18.一种存储器的处理装置，其特征在于，包括：

技术总结本公开实施例提供了一种存储器的处理方法及处理装置、存储器，该方法包括：对待测试的存储器中的存储单元进行测试；获取所述存储器中设定的寄存器的使用状态信息；其中，所述寄存器用于存储在所述测试的过程中检测到的失效的存储单元对应的失效地址；基于所述使用状态信息，对所述存储器中失效的存储单元进行修复。技术研发人员：吴钰焱受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/8