一种用于集成电路测试机中测试向量的替换方法及系统与流程

本发明涉及测试，具体为一种用于集成电路测试机中测试向量的替换方法及系统。

背景技术：

1、在集成电路(ic)生产中，集成电路测试机是确保ic品质的关键设备，集成电路测试机通过应用测试向量到ic管脚，检测其功能和性能的完整性，测试向量是一系列逻辑1和逻辑0的数据，用于每个时钟周期的测试或操作，然而，随着ic集成度的增加，测试向量的复杂度也在不断增长，这对集成电路测试机的存储和处理能力提出了更高的要求，现有技术中，一种常见的方法是将重复的测试向量压缩成一行，以节省存储空间和减少加载时间，但这种方法在测试向量中的某一位或多位需要变化时就变得不再适用，在这种情况下，必须编写和存储更复杂的测试向量，这不仅增加了存储空间的消耗，也延长了向量的加载和编写时间，这些限制导致了集成电路测试效率的降低和成本的增加，目前现有技术或专利中已经提到了测试向量的存储方法，但是方法过于局限，现有技术对向量进行循环或重复的指令，但是该指令仅限于重复行或循环行的向量不能改变，如果其中某一位需要变化时该种方法便不再适用。

2、针对现有技术的不足，本发明将测试向量和替换数据a存储到ddr中，优化存储结构，提高数据访问速度，通过载入通道配置信息和替换长度信息，构建替换数据有效率评估模型，这种动态替换策略允许系统根据实际情况灵活调整，从而更有效地处理复杂的测试向量，将有效的替换数据a进行预处理以获取替换数据b，并将其存储到ram中，减少了对存储空间的需求，并提高了数据处理的速度，对测试向量操作码进行译码，然后读取ram中的替换数据b进行编码并替换对应通道，这种智能译码与编码过程进一步提高了测试向量处理的效率和灵活性，本发明将预先存入ddr中的测试向量中需要替换的向量数据替换成外部输入的替换数据，一方面可以极大的减少测试向量的存储空间，另一方面可以减少测试向量的编写数量，减少测试向量编写时间，提高工作效率。

技术实现思路

1、鉴于上述存在的问题，提出了本发明。

2、因此，本发明解决的技术问题是：现有的测试向量存储方法存在效率低，灵活性低，复杂度高，以及如何进行高效的测试向量存储和处理的问题。

3、为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种用于集成电路测试机中测试向量的替换方法，包括将测试向量和替换数据a存储到ddr中，载入通道配置信息和替换长度信息，构建替换数据有效率评估模型，分析替换数据有效情况；将有效的替换数据a进行预处理获取替换数据b，并将替换数据b存储到ram中；对测试向量操作码进行译码，读取ram中的替换数据b进行编码并替换对应通道。

4、作为本发明所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法的一种优选方案，其中：所述将测试向量和替换数据a存储到ddr中包括将测试向量存储到ddr，测试向量的编码方式为低128比特为编码向量数据，每个通道的编码向量数据为4比特，共32个通道，组成128比特的向量数据；4比特二进制值0000和0001分别表示输出低电平和高电平，1011表示通道需要替换，向量编码表示执行对应功能包括向量替换或输出高低电平；高128比特为操作码，外部输入数据替换开始信号和外部输入数据替换使能信号，通过1比特的形式包含在操作码中，高电平表示信号有效，低电平表示信号无效；将替换数据a存储到ddr中。

5、作为本发明所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法的一种优选方案，其中：所述载入通道配置信息和替换长度信息包括替换通道配置信号和替换长度信号通过上位机软件直接下发；替换通道配置信息包括通道带宽、通道类型、通道容量、通道访问模式以及通道优先级；替换长度信息包括数据块大小、数据压缩率以及数据分段信息。

6、作为本发明所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法的一种优选方案，其中：所述构建替换数据有效率评估模型包括通过构建替换数据有效率评估模型分析替换数据有效情况，构建替换数据有效率评估模型表示为：

7、

8、其中，e表示替换数据的有效率评估值，srw为数据读写速度包括ddr和ram的速度，tproc为数据处理时间，rerr为数据传输和处理过程中的错误率，ucpu和uram分别表示cpu和ram的使用率，lqueue为处理队列长度，α、β、γ、δ、∈、ζ分别为权重系数，θ(copt,eenv)为优化算法函数；优化算法函数表示为：

9、θ(copt,eenv)＝κ·copt-λ·eenv

10、其中，copt为压缩率，eenv为环境因素影响程度，κ为压缩率调节系数，λ为环境因素影响程度调节系数；当e大于等于0.6时，替换数据有效，有效替换数据进行保留处理；当e小于0.6时，替换数据无效，无效替换数据进行等待有效化处理，数据有效后保留。

11、作为本发明所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法的一种优选方案，其中：所述将替换数据b存储到ram中包括将有效的替换数据a进行预处理获取替换数据b，并将替换数据b存储到ram中，从ddr读取替换数据a，基于通道配置信息和替换长度信息，将单个32比特替换数据a转化为32比特的替换数据b，将转化后的替换数据b存储到ram中，替换数据b的数量与替换长度一致，基于通道配置信息和替换长度信息确认替换数据b的值；预处理包括运行过程中，当检测到ram中替换数据b的个数低于ram容量的10％时，从ddr中读取替换数据a，生成并存储替换数据b。

12、作为本发明所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法的一种优选方案，其中：所述对测试向量操作码进行译码包括当ram读空时，将有效的替换数据a进行预处理获取替换数据b，并将替换数据b存储到ram中；当ram未读空时，进行等待处理；对测试向量中高128比特包含的操作码进行译码，基于替换数据有效率评估模型当外部输入数据替换使能信号数据有效时，从ram读取一个替换数据b；当外部输入数据替换使能信号数据无效时，将外部输入数据替换使能信号进行有效化处理，当数据有效时，从ram读取一个替换数据b。

13、作为本发明所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法的一种优选方案，其中：所述替换对应通道包括从ram读取一个替换数据b后，判断每个通道的4比特向量数据是否为指定的替换标识符，当通道的向量数据不等于1011时，结束操作；当通道的向量数据等于1011时，将替换数据b的对应通道位上的1比特二进制数值，编码成4比特二进制数值，替换通道原有的4比特向量数据，将32个通道的128比特向量数据译码，通过译码结果对通道的输入输出进行控制。

14、本发明的另外一个目的是提供一种用于集成电路测试机中测试向量的替换系统，其能通过将测试向量和替换数据a存储到ddr中，载入通道配置信息和替换长度信息，构建替换数据有效率评估模型，分析替换数据有效情况，解决了目前的测试向量存储含有灵活性低的问题。

15、作为本发明所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换系统的一种优选方案，其中：包括替换数据存储模块，替换数据预处理模块，通道替换模块；所述替换数据存储模块用于将测试向量和替换数据a存储到ddr中，载入通道配置信息和替换长度信息，构建替换数据有效率评估模型，分析替换数据有效情况；所述替换数据预处理模块用于将有效的替换数据a进行预处理获取替换数据b，并将替换数据b存储到ram中；所述通道替换模块用于对测试向量操作码进行译码，读取ram中的替换数据b进行编码并替换对应通道。

16、一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序是实现用于集成电路测试机中测试向量的替换方法的步骤。

17、一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现用于集成电路测试机中测试向量的替换方法的步骤。

18、本发明的有益效果：本发明提供的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法通过优化存储结构，提高了数据访问速度，使得测试向量的存储更加高效，通过替换数据有效率评估模型，提升了数据处理的可靠性；通过对有效的替换数据a进行预处理，生成替换数据b，并将其存储到ram中，使得替换数据更加适合测试需求，同时存储到ram中确保了快速访问，减少了对存储空间的需求，并提高了数据处理的速度，使得测试向量的替换更加迅速和高效；通过对测试向量操作码进行译码，读取ram中的替换数据b进行编码并替换对应通道，使得测试向量可以根据实际需求灵活替换，提高了测试的适应性和准确性，本发明在效率、灵活性以及准确性方面都取得更加良好的效果。