存储器容量测试方法、装置、存储介质及电子设备与流程

本技术涉及电子，尤其涉及一种存储器容量测试方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术：

1、存储器芯片生产出来之后需要对其进行测试，例如测试存储器读取功能是否正常、测试存储器引脚是否正确、测试存储器的存储容量是否正确。对存储器进行测试时，需要通过与存储器向适配的测试设备来进行，成本较高。

技术实现思路

1、本技术提供一种存储器容量测试方法、装置、存储介质及电子设备，能够降低存储器的测试成本。

2、第一方面，本技术提供一种存储器容量测试方法，包括：获取存储器的标称容量以及存储数据的多个地址位，通过单片机程序向所述多个地址位中的目标地址位写入预设数据；读取所述目标地址位存储的数据，通过对比所述预设数据与所述存储的数据，测试所述存储器的存储容量，在所述存储器的所述存储容量与所述标称容量一致时，确定所述存储器测试通过。

3、在一种示例性实施方式中，所述通过单片机程序向所述多个地址位中的目标地址位写入预设数据，包括：根据所述存储器的总线协议，确定所述存储器对应的单片机程序；通过所述单片机程序向所述多个地址位中的所述目标地址位写入预设数据。

4、在一种示例性实施方式中，所述目标地址位包括所述存储器的每个所述地址位，所述通过对比所述预设数据与所述存储的数据，测试所述存储器的存储容量，包括：分别验证每个所述地址位写入的所述预设数据与所述存储的数据是否一致；若每个所述地址位的所述预设数据与所述存储的数据均一致，则确定所述存储器的存储容量为所述标称容量。

5、在一种示例性实施方式中，所述目标地址位包括所述存储器的半地址位，所述通过单片机程序向所述多个地址位中的目标地址位写入预设数据之前，还包括：向所述存储器的首地址位写入第一数据，所述第一数据与所述预设数据不同；所述通过对比所述预设数据与所述存储的数据，测试所述存储器的存储容量，包括：读取所述首地址位存储的数据，对比所述首地址位写入的所述第一数据与所述首地址位存储的数据，并对比所述半地址位写入的所述预设数据与所述半地址位存储的数据；若所述第一数据与所述首地址位存储的数据相同，并且所述预设数据与所述半地址位存储的数据相同，则确定所述存储器的存储容量为标称容量。

6、在一种示例性实施方式中，所述目标地址位包括所述存储器的每个页地址，所述向所述多个地址位中的目标地址位写入预设数据，包括：按照每个所述页地址的顺序，连续向所述存储器的每个所述页地址写入预设数据；所述通过对比所述预设数据与所述存储的数据，测试所述存储器的存储容量，包括：分别验证每个所述页地址内写入的所述预设数据与所述存储的数据是否一致；若每个所述页地址的所述预设数据与所述存储的数据均一致，则确定所述存储器的存储容量为所述标称容量。

7、在一种示例性实施方式中，所述向所述多个地址位中的目标地址位写入预设数据，包括：将所述存储器的末尾地址加1，得到目标地址位；向所述存储器的首地址位写入第一数据之后，再向所述目标地址位写入预设数据，并且所述第一数据与所述预设数据不同；所述通过对比所述预设数据与所述存储的数据，测试所述存储器的存储容量，包括：读取所述首地址位存储的数据，若所述首地址位存储的数据为所述预设数据，则确定所述存储器的存储容量为标称容量。

8、在一种示例性实施方式中，所述存储器的总线协议为集成电路总线协议或串行外设接口协议。

9、根据本实施例提供的存储器容量测试方法，在测试存储器容量时，通过单片机程序向存储器的目标地址位中写入预设数据，通过该目标地址位存储的数据与预设数据的对比，来验证存储器的存储容量是否与标称容量一致，无需额外的测试设备，可以降低对存储器进行测试的成本。

10、第二方面，本技术提供一种存储器容量测试装置，包括：

11、数据写入模块，用于获取存储器的标称容量以及存储数据的多个地址位，通过单片机程序向所述多个地址位中的目标地址位写入预设数据；数据验证模块，用于读取所述目标地址位存储的数据，通过对比所述预设数据与所述存储的数据，测试所述存储器的存储容量，在所述存储器的所述存储容量与所述标称容量一致时，确定所述存储器测试通过。

12、在一种示例性实施方式中，数据写入模块包括：单片机程序获取模块，用于根据所述存储器的总线协议，确定所述存储器对应的单片机程序；程序执行模块，用于通过所述单片机程序向所述多个地址位中的所述目标地址位写入预设数据。

13、在一种示例性实施方式中，所述目标地址位包括所述存储器的每个所述地址位，所述数据验证模块具体用于：分别验证每个所述地址位写入的所述预设数据与所述存储的数据是否一致；若每个所述地址位的所述预设数据与所述存储的数据均一致，则确定所述存储器的存储容量为所述标称容量。

14、在一种示例性实施方式中，所述目标地址位包括所述存储器的半地址位，所述存储器容量测试装置还包括首地址写入模块，用于向所述存储器的首地址位写入第一数据，所述第一数据与所述预设数据不同；基于前述，所述数据验证模块具体用于读取所述首地址位存储的数据，对比所述首地址位写入的所述第一数据与所述首地址位存储的数据，并对比所述半地址位写入的所述预设数据与所述半地址位存储的数据；若所述第一数据与所述首地址位存储的数据相同，并且所述预设数据与所述半地址位存储的数据相同，则确定所述存储器的存储容量为标称容量。

15、在一种示例性实施方式中，所述目标地址位包括所述存储器的每个页地址，所述数据写入模块具体用于按照每个所述页地址的顺序，连续向所述存储器的每个所述页地址写入预设数据；基于前述，所述数据验证模块具体用于分别验证每个所述页地址内写入的所述预设数据与所述存储的数据是否一致；若每个所述页地址的所述预设数据与所述存储的数据均一致，则确定所述存储器的存储容量为所述标称容量。

16、在一种示例性实施方式中，所述数据写入模块具体将所述存储器的末尾地址加1，得到目标地址位；向所述存储器的首地址位写入第一数据之后，再向所述目标地址位写入预设数据，并且所述第一数据与所述预设数据不同；基于前述，所述数据验证模块具体用于读取所述首地址位存储的数据，若所述首地址位存储的数据为所述预设数据，则确定所述存储器的存储容量为标称容量。

17、在一种示例性实施方式中，所述存储器的总线协议为集成电路总线协议或串行外设接口协议。

18、第三方面，本技术提供一种电子设备，该电子设备包括存储器、一个或多个处理器。其中，该存储器中存储有一个或多个计算机程序，计算机程序包括指令，当该指令被处理器执行时，可使得电子设备执行如第一方面中的存储器容量测试方法。

19、第四方面，本技术提供一种计算机可读介质，该计算机可读介质中存储有指令，当该指令在电子设备上运行时，使得电子设备执行如第一方面中的存储器容量测试方法。

20、第五方面，本技术提供一种计算机程序产品，当该计算机程序产品在电子设备上运行时，使得该电子设备执行如第一方面所述的存储器容量测试方法。

21、可以理解地，上述提供的存储器容量测试装置、电子设备、计算机可读介质、计算机程序产品所能达到的有益效果，可参考第一方面中的有益效果，此处不再赘述。