存储器自测试动态分组方法及装置与流程

本发明涉及芯片自测试，具体而言，涉及一种存储器自测试动态分组方法及装置。

背景技术：

1、存储器内建自测试（memory build-in-self test，mbist）是一种被广泛应用于集成电路领域的自测试技术，它能在产品制造和维护过程中提供高效、准确的测试和故障诊断能力。mbist自动分组技术是在mbist测试过程中用于将测试资源，如存储器划分为多个测试组，以提高测试效率和测试覆盖率。mbist自动分组技术在集成电路设计中起着重要的作用，其目标是提高测试并行性和效率，使得整体测试时间减少，同时满足设计规范的要求；且帮助设计工程师在保证有效的测试覆盖率和减少测试时间之间找到平衡。随着芯片复杂性的增加，mbist自动分组技术的发展也越来越重要，以应对设计和测试的挑战。

2、目前，mbist自动分组技术通常基于经典算法或启发式算法实现。这些方法利用图论、优化算法、模拟器等技术来对芯片的逻辑结构进行分析和建模，以找到最佳的分组方案。

3、然而，对于上述的分类方法，由于在分组完成后，便无法再改变分组方案，使得其具有局限性，从而无法较好地适应不同的应用场景的存储器测试需求。

技术实现思路

1、本发明解决的问题是如何实现存储器自测试分组的合理性及灵活性。

2、为解决上述问题，本发明提供了一种存储器自测试动态分组方法，该方法包括：

3、获取待测试资源中存储器当前周期的访问数据，所述待测试资源中包括至少一个存储器组，所述存储器组中包括至少一个存储器，所述存储器组与测试策略一一对应；

4、根据所述访问数据确定所述存储器的当前访问频次；

5、根据所述存储器的所述当前访问频次及历史访问频次更新所述存储器的分组。

6、可选地，本发明提供的存储器自测试动态分组方法，所述待测试资源中所述存储器组按照设置的访问频次区间划分。

7、可选地，本发明提供的存储器自测试动态分组方法，所述根据所述访问数据确定所述存储器的当前访问频次包括：

8、确定所述存储器在所述当前周期内的写使能次数及读使能次数的和值；

9、确定所述和值与周期的商值，作为所述存储器的所述当前访问频次。

10、可选地，本发明提供的存储器自测试动态分组方法，所述根据所述存储器的所述当前访问频次及历史访问频次更新所述存储器的分组包括：

11、根据所述存储器的当前访问频次及历史访问频次确定是否满足调组条件；

12、当满足所述调组条件时，确定所述存储器的目标存储器组；

13、将所述存储器分配至所述目标存储器组。

14、可选地，本发明提供的存储器自测试动态分组方法，所述调组条件包括所述存储器的所述当前访问频次及所述历史访问频次的比值、所述存储器的所述当前访问频次与所述待测试资源中所有存储器的当前访问频次的当前平均值及历史访问频次的历史平均值的大小关系，以及所述存储器当前所在存储器组中各存储器的访问频次。

15、可选地，本发明提供的存储器自测试动态分组方法，所述调组条件包括第一调组条件及第二调组条件，所述第一调组条件表示所述存储器向高访问频次的存储器组调配时需要满足的条件，所述第二调组条件表示所述存储器向低访问频次的存储器组调配时需要满足的条件。

16、可选地，本发明提供的存储器自测试动态分组方法，所述根据所述存储器的当前访问频次及历史访问频次确定是否满足调组条件包括：

17、若所述存储器的历史访问频次为所在存储器组中的最高访问频次，则当所述存储器的当前访问频次与历史访问频次的比值大于设置的第一阈值时，表示所述存储器满足第一调组条件；

18、或者所述存储器的历史频次小于所述历史平均值，且所述存储器的当前访问频次大于所述当前平均值，表示所述存储器满足第一调组条件；

19、若所述待测试存储器的访问频次的历史访问频次不是所在存储器组的最高访问频次，则当所述存储器的所述当前访问频次大于当前所在存储器组内所有存储器的历史访问频次，表示所述存储器满足第一调组条件。

20、可选地，本发明提供的存储器自测试动态分组方法，所述根据所述存储器的当前访问频次及历史访问频次确定是否满足调组条件包括：

21、若所述存储器的历史访问频次为所在存储器组中的最低访问频次，则当所述存储器的历史访问频次与当前访问频次的比值大于设置的第二阈值时，表示所述存储器满足第二调组条件；

22、或者所述存储器的历史频次大于所述历史平均值，且所述存储器的当前访问频次小于所述当前平均值，表示所述存储器满足第二调组条件；

23、若所述待测试存储器的访问频次的历史访问频次不是所在存储器组的最低访问频次，则当所述存储器的所述当前访问频次低于当前所在存储器组内所有存储器的历史访问频次，表示所述存储器满足第二调组条件。

24、可选地，本发明提供的存储器自测试动态分组方法，所述确定所述存储器的目标存储器组包括：

25、根据所述存储器的当前访问频次及测试功率，确定所述测试资源中的存储器组中满足约束条件的目标存储器组。

26、可选地，本发明提供的存储器自测试动态分组方法，所述约束条件至少包括：

27、所述存储器的当前访问频次位于所述目标存储器组的访问频次上限及访问频次下限之间；

28、所述目标存储器组中的所有存储器的测试功耗与所述存储器的测试功耗之和，小于设置的测试功耗阈值。

29、第二方面，本发明提供一种存储器自测试动态分组装置，包括：

30、获取模块，用于获取待测试资源中存储器当前周期的访问数据，所述待测试资源中包括至少一个存储器组，所述存储器组中包括至少一个存储器，所述存储器组与测试策略一一对应；

31、计算模块，用于根据所述访问数据确定所述存储器的当前访问频次；

32、更新模块，用于根据所述存储器的所述当前访问频次及历史访问频次更新所述存储器的分组。

33、可以理解，本发明提供的存储器自测试动态分组方法及装置，通过收集测试资源中各存储器的访问数据，进而根据收集到的访问数据确定待测试存储器当前周期的访问频次，最后根据待测试存储器的访问频次，进行存储器分组的更新，实现存储器资源在自测试过程中的动态的自动分组。即本发明通过以测试资源中各待测试存储器的访问频次为依据，完善了相关技术中对存储器自测试过程中存储器的分组的局限性，有效避免了自测试时只能按照固定测试方案对所有存储器组进行测试，进而在以访问频次为依据进行动态分组的基础上，提供合理的待测试存储器的分组方案，最终提高了存储器的测试效率及灵活性，节省了测试时间。

技术特征：

1.一种存储器自测试动态分组方法，其特征在于，所述存储器自测试动态分组方法包括：

2.根据权利要求1所述的存储器自测试动态分组方法，其特征在于，所述待测试资源中所述存储器组按照设置的访问频次区间划分。

3.根据权利要求2所述的存储器自测试动态分组方法，其特征在于，所述根据所述访问数据确定所述存储器的当前访问频次包括：

4.根据权利要求1-3任一项所述的存储器自测试动态分组方法，其特征在于，所述根据所述存储器的所述当前访问频次及历史访问频次更新所述存储器的分组包括：

5.根据权利要求4所述的存储器自测试动态分组方法，其特征在于，所述调组条件包括所述存储器的所述当前访问频次及所述历史访问频次的比值、所述存储器的所述当前访问频次与所述待测试资源中所有存储器的当前访问频次的当前平均值及历史访问频次的历史平均值的大小关系，以及所述存储器当前所在存储器组中各存储器的访问频次。

6.根据权利要求5所述的存储器自测试动态分组方法，其特征在于，所述调组条件包括第一调组条件及第二调组条件，所述第一调组条件表示所述存储器向高访问频次的存储器组调配时需要满足的条件，所述第二调组条件表示所述存储器向低访问频次的存储器组调配时需要满足的条件。

7.根据权利要求6所述的存储器自测试动态分组方法，其特征在于，所述根据所述存储器的当前访问频次及历史访问频次确定是否满足调组条件包括：

8.根据权利要求6所述的存储器自测试动态分组方法，其特征在于，所述根据所述存储器的当前访问频次及历史访问频次确定是否满足调组条件包括：

9.根据权利要求4所述的存储器自测试动态分组方法，其特征在于，所述确定所述存储器的目标存储器组包括：

10.一种存储器自测试动态分组装置，其特征在于，包括：

技术总结本发明公开了一种存储器自测试动态分组方法及装置，该方法包括：获取待测试资源中存储器当前周期的访问数据，该待测试资源中包括至少一个存储器组，该存储器组中包括至少一个存储器，该存储器组与测试策略一一对应；根据该访问数据确定该存储器的当前访问频次；根据该存储器的该当前访问频次及历史访问频次更新该存储器的分组。本发明通过以测试资源中各待测试存储器的访问频次为依据，完善了相关技术中对存储器自测试过程中存储器的分组的局限性，有效避免了测试只能按照固定测试方案对所有存储器进行，进而在以访问频次为依据进行动态分组的基础上，提供合理的待测试存储器的分组方案，最终提高了存储器的测试效率及灵活性，节省了测试时间。技术研发人员：张靖卓,叶靖受保护的技术使用者：中科鉴芯（北京）科技有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/5/10