存储器装置、测试方法和半导体装置与流程

在此描述的各种示例实施例涉及存储器装置，并且更具体地，涉及存储器装置和在存储器装置中执行的测试方法。

背景技术：

1、可在各种测试模式下执行测试操作，以检查存储器装置是否按预期(例如，基于设计者的期望)操作。例如，在开发存储器装置的处理中，可对晶片状态下的存储器装置执行测试操作，并且可对已经完成封装处理的存储器装置执行测试操作。

2、通常，可通过将外部测试装置电连接到包括在存储器装置中的专用测试垫(或称为焊盘，pad)，来配置用于晶片状态下的存储器装置的测试环境。专用测试垫可对应于特定测试模式。也就是说，外部测试装置可通过专用测试垫请求存储器装置执行特定测试模式，并且存储器装置可响应于请求执行特定测试模式。

3、然而，在完成封装处理的存储器装置的情况下，专用测试垫不暴露于外部。例如，专用测试垫通过封装处理被绝缘材料覆盖，并且不暴露于外部。因此，外部测试装置不能连接到专用测试垫，并且因此存储器装置不能执行与专用测试垫对应的特定测试模式。

技术实现思路

1、各种示例实施例提供了即使当专用测试垫不暴露于存储器装置的外部时，也能够在与专用测试垫对应的测试模式下执行测试操作的存储器装置。

2、根据一些示例实施例，一种存储器装置包括：测试模式检测器电路，被配置为：基于通过多个引脚中的至少一个引脚接收到的至少一个测试模式进入信号，来确定所述存储器装置是否已经进入测试模式，并且生成测试模式检测信号；以及测试垫连接电路，基于测试模式检测信号将所述多个引脚中的第一引脚电连接到所述存储器装置的专用测试垫，使得施加到第一引脚的信号被发送到专用测试垫。

3、可选地或附加地，根据一些示例实施例，一种在存储器装置中执行的测试方法包括：通过多个引脚中的至少一个引脚从外部测试装置接收至少一个测试模式进入信号；通过基于所述至少一个测试模式进入信号确定存储器装置是否已经进入测试模式，来生成测试模式检测信号；基于测试模式检测信号将存储器装置的专用测试垫电连接到所述多个引脚之中的第一引脚；以及基于通过第一引脚从外部测试装置发送到专用测试垫的测试模式执行信号来执行与测试模式信号对应的测试操作。

4、可选地或附加地，根据一些示例实施例，一种半导体装置包括：处理电路系统，被配置为执行机器可读指令，所述机器可读指令在由处理电路系统执行时，使存储器装置基于通过存储器装置的多个引脚中的至少一个从外部测试装置接收到的至少一个测试模式进入信号来确定所述半导体装置是否已经进入测试模式，以及响应于确定存储器装置已经进入所述测试模式，将与所述测试模式对应的多个专用测试垫分别电连接到所述多个引脚之中的对应引脚。所述多个专用测试垫被绝缘层覆盖，并且不暴露于存储器装置的外部。

技术特征：

1.一种用于通过多个引脚从外部装置接收信号的存储器装置，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，在专用测试垫与第一引脚电连接之后，通过第一引脚施加的测试模式执行信号被发送到专用测试垫，并且与所述测试模式对应的测试操作被执行。

3.根据权利要求2所述的存储器装置，还包括：

4.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，所述多个引脚中的所述至少一个引脚是第一引脚。

5.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，所述多个引脚中的所述至少一个引脚是被配置为接收所述存储器装置的控制信号的控制引脚，并且不同于第一引脚。

6.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，

7.根据权利要求1至6中的任一项所述的存储器装置，其中，

8.根据权利要求3所述的存储器装置，其中，

9.根据权利要求3所述的存储器装置，其中，测试模式标志生成器电路被配置为在与所述测试模式对应的测试操作被执行的同时启用所述标志，并且测试模式标志生成器电路被配置为在测试操作完成时禁用所述标志。

10.根据权利要求2所述的存储器装置，其中，使用在传送到专用测试垫的测试模式执行信号的切换的时段期间并且在与所述测试模式对应的测试操作被执行时通过所述多个引脚之中的数据输入/输出引脚接收到的数据的图案，来替换与所述多个引脚之中的除了第一引脚之外的剩余引脚对应的控制信号。

11.根据权利要求10所述的存储器装置，还包括：

12.一种在通过多个引脚从外部测试装置接收信号的存储器装置中执行的测试方法，包括：

13.根据权利要求12所述的测试方法，还包括：

14.根据权利要求12所述的测试方法，其中，所述多个引脚包括被配置为从外部测试装置接收控制信号的至少一个控制引脚和被配置为从外部测试装置接收数据的至少一个数据输入/输出引脚。

15.根据权利要求12所述的测试方法，其中，所述多个引脚之中的所述至少一个引脚是第一引脚。

16.根据权利要求14所述的测试方法，其中，

17.根据权利要求12至16中的任一项所述的测试方法，其中，生成测试模式检测信号的步骤包括：基于所述至少一个测试模式进入信号的切换次数是否等于数量n来生成测试模式检测信号，其中，n是大于或等于一的自然数。

18.根据权利要求14所述的测试方法，其中，使用在传送到专用测试垫的测试模式执行信号的切换的时段期间并且在与所述测试模式对应的测试操作被执行时通过所述多个引脚之中的数据输入/输出引脚接收到的数据的图案，来替换与所述至少一个控制引脚之中的除了第一引脚之外的剩余引脚对应的控制信号。

19.一种用于通过多个引脚从外部测试装置接收信号并且执行测试的半导体装置，包括：

20.根据权利要求19所述的半导体装置，其中，在所述多个专用测试垫与对应引脚电连接之后，基于通过对应引脚从外部测试装置发送到所述多个专用测试垫中的每个的测试模式执行信号，来执行与所述测试模式对应的测试操作。

技术总结提供了存储器装置、测试方法和半导体装置。所述存储器装置包括：测试模式检测器电路，基于通过多个引脚中的至少一个引脚接收到的至少一个测试模式进入信号，来确定所述存储器装置是否已经进入测试模式并且生成测试模式检测信号；以及测试垫连接电路，将所述多个引脚中的第一引脚电连接到测试模式的专用测试垫，使得施加到第一引脚的信号基于测试模式检测信号而被发送到专用测试垫。技术研发人员：徐昌煜,尹翔镛,郑基镐受保护的技术使用者：三星电子株式会社技术研发日：技术公布日：2024/5/9