一种用于储存芯片的测试治具的制作方法

本技术属于芯片质检，具体为一种用于储存芯片的测试治具。

背景技术：

1、储存芯片是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用，因此，无论是系统芯片还是储存芯片，都是通过在单一芯片中嵌入软件，实现多功能和高性能，以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。储存芯片在生产的过程中，常需要对芯片样品进行检测，芯片测试治具是一种用于芯片检测过程中，对芯片进行放置固定，以便后续进行检测的辅助装置，传统的芯片测试治具在使用的过程中，一般需要先对芯片进行装载，并且在装载完成后在进行检测，从而在对芯片检测和对芯片装载不能同时进行，使装载和检测时间间隔较大。

技术实现思路

1、为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种用于储存芯片的测试治具，解决了传统的芯片测试治具在使用的过程中，一般需要先对芯片进行装载，并且在装载完成后在进行检测，从而在检测的时候不便于继续对芯片的装载，降低检测的效率的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于储存芯片的测试治具，包括测试治具主体，所述测试治具主体上连接有支撑架，且支撑架的一侧连接有存储箱，所述存储箱下开设有滑槽，且滑槽内设置有第二滑块，所述第二滑块下连接有弧形挡板，且弧形挡板的正面转动连接有伸缩杆一，所述伸缩杆一内转动连接有销轴，且销轴的两端均连接有耳板，所述伸缩杆一上转动连接有夹板，且夹板与存储箱滑动连接。

3、作为本实用新型的进一步方案：所述测试治具主体的正面连接有控制面板，所述测试治具主体的正面转动连接有传动轴，且传动轴的正面连接有手柄，所述传动轴的背面连接有锥齿轮一，所述第二滑块的形状为t形。

4、作为本实用新型的进一步方案：所述锥齿轮一上啮合有锥齿轮二，且锥齿轮二内连接有螺纹套筒，所述螺纹套筒下连接有轴承，且轴承下与测试治具主体内相连接，所述螺纹套筒内连接有螺纹杆，且螺纹杆上连接有方形支撑杆，所述方形支撑杆上连接有第一滑块，所述方形支撑杆外连接有套筒二，且套筒二的形状为方形，所述套筒二外与测试治具主体相连。

5、作为本实用新型的进一步方案：所述测试治具主体内连接有电机，且电机上连接有伸缩杆二，所述伸缩杆二上连接有芯片测试圆盘，所述伸缩杆二外连接有套筒一，且套筒一外与测试治具主体相连。

6、作为本实用新型的进一步方案：所述芯片测试圆盘下开设有环形滑轨，且环形滑轨内与第一滑块滑动连接，所述芯片测试圆盘上开设有测试卡槽。

7、作为本实用新型的进一步方案：所述耳板的背面与存储箱的正面连接，且耳板沿伸缩杆一的中心对称设置。

8、作为本实用新型的进一步方案：所述伸缩杆二通过套筒一与测试治具主体连接，且伸缩杆二与套筒一套接。

9、与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

10、1、该用于储存芯片的测试治具，通过设置芯片测试圆盘、环形滑轨、支撑架、存储箱、滑槽、第二滑块和弧形挡板，通过芯片测试圆盘的上升推动弧形挡板水平移动，使得待检测芯片落入测试卡槽内，并启动电机带动芯片测试圆盘转动，使得芯片检测和装载连续进行，使装载和检测的间断时间减少，节约了检测时间。

11、2、该用于储存芯片的测试治具，通过设置弧形挡板、伸缩杆一、销轴、耳板和夹板，通过弧形挡板推动伸缩杆一绕销轴转动，使夹板水平移动，使夹板与待检测芯片贴合，增大夹板和待检测芯片之间的摩擦力，并对剩余的待检测芯片施加压力，从而达到了控制待检测芯片下落数量，达到控制单个芯片在单个测试卡槽的装载。

12、3、该用于储存芯片的测试治具，通过设置传动轴、手柄、锥齿轮一、锥齿轮二、螺纹套筒、螺纹杆、方形支撑杆、第一滑块、芯片测试圆盘、环形滑轨、电机和伸缩杆二，通过启动电机带动伸缩杆二转动，使得芯片测试圆盘转动，同时转动手柄，使芯片测试圆盘上升，从而达到在芯片测试圆盘在转动时，同时芯片测试圆盘也可进行竖直方向的移动，使转动和竖直方向移动互不干扰。

技术特征：

1.一种用于储存芯片的测试治具，包括测试治具主体(1)，其特征在于：所述测试治具主体(1)上连接有支撑架(13)，且支撑架(13)的一侧连接有存储箱(14)，所述存储箱(14)下开设有滑槽(15)，且滑槽(15)内设置有第二滑块(16)，所述第二滑块(16)下连接有弧形挡板(17)，且弧形挡板(17)的正面转动连接有伸缩杆一(18)，所述伸缩杆一(18)内转动连接有销轴(19)，且销轴(19)的两端均连接有耳板(20)，所述伸缩杆一(18)上转动连接有夹板(21)，且夹板(21)与存储箱(14)滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述测试治具主体(1)的正面连接有控制面板(2)，所述测试治具主体(1)的正面转动连接有传动轴(3)，且传动轴(3)的正面连接有手柄(4)，所述传动轴(3)的背面连接有锥齿轮一(5)，所述第二滑块(16)的形状为t形。

3.根据权利要求2所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述锥齿轮一(5)上啮合有锥齿轮二(6)，且锥齿轮二(6)内连接有螺纹套筒(7)，所述螺纹套筒(7)下连接有轴承(27)，且轴承(27)下与测试治具主体(1)内相连接，所述螺纹套筒(7)内连接有螺纹杆(8)，且螺纹杆(8)上连接有方形支撑杆(9)，所述方形支撑杆(9)上连接有第一滑块(10)，所述方形支撑杆(9)外连接有套筒二(26)，且套筒二(26)的形状为方形，所述套筒二(26)外与测试治具主体(1)相连。

4.根据权利要求3所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述测试治具主体(1)内连接有电机(22)，且电机(22)上连接有伸缩杆二(23)，所述伸缩杆二(23)上连接有芯片测试圆盘(11)，所述伸缩杆二(23)外连接有套筒一(25)，且套筒一(25)外与测试治具主体(1)相连。

5.根据权利要求4所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述芯片测试圆盘(11)下开设有环形滑轨(12)，且环形滑轨(12)内与第一滑块(10)滑动连接，所述芯片测试圆盘(11)上开设有测试卡槽(24)。

6.根据权利要求1所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述耳板(20)的背面与存储箱(14)的正面连接，且耳板(20)沿伸缩杆一(18)的中心对称设置。

7.根据权利要求4所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述伸缩杆二(23)通过套筒一(25)与测试治具主体(1)连接，且伸缩杆二(23)与套筒一(25)套接。

技术总结本技术公开了一种用于储存芯片的测试治具，属于芯片质检技术领域，其包括测试治具主体，所述测试治具主体上连接有支撑架，且支撑架的一侧连接有存储箱，所述存储箱下开设有滑槽，且滑槽内设置有第二滑块，所述第二滑块下连接有弧形挡板，且弧形挡板的正面转动连接有伸缩杆一，所述伸缩杆一内转动连接有销轴。该用于储存芯片的测试治具，通过设置芯片测试圆盘、环形滑轨、支撑架、存储箱、滑槽、第二滑块和弧形挡板，通过芯片测试圆盘的上升推动弧形挡板水平移动，使得待检测芯片落入测试卡槽内，并启动电机带动芯片测试圆盘转动，使得芯片检测和装载连续进行，使装载和检测的间断时间减少，节约了检测时间。技术研发人员：欧阳木洲受保护的技术使用者：深圳市陆和神州科技有限公司技术研发日：20231115技术公布日：2024/5/12