存储器目标阈值电压的测试方法和测试装置与流程

本申请总体上涉及电子器件领域，并且更具体的，涉及一种存储器目标阈值电压的测试方法和测试装置。

背景技术：

1、业界存在各种类型的存储器装置，包括磁性硬盘、随机存取存储器、只读存储器、动态随机存取存储器、同步动态随机存取存储器、铁电随机存取存储器、磁性随机存取存储器、电阻式随机存取存储器、闪存存储器、相变存储器以及其他存储器装置。

2、存储器装置被广泛用于在诸如计算机、无线通信装置、相机、数字显示器等的各种电子装置中存储信息。信息通过对存储器装置的不同状态进行编程来存储。例如，二进制装置具有两种状态，通常由逻辑“1”或逻辑“0“表示。在其他系统中，可以存储多于两个状态。为了访问存储的信息，电子装置的组件可以读取或感测存储器装置中的存储状态。为了存储信息，电子装置的组件可以在存储器装置中写入或编程状态。

3、存储器不同的阈值电压状态可以代表不同的逻辑状态(例如“0“和”1“)，而如何提高存储器的目标阈值电压的精确性，是影响存储器操作的关键因素，因此如何取得精确的目标阈值电压是一重大课题。

技术实现思路

1、本申请的目的在于提供一种存储器目标阈值电压的测试方法和测试装置，旨在取得器件精确的目标阈值电压。

2、第一方面，本申请提供一种存储器目标阈值电压的测试方法，包括：

3、测试器件中各单元的阈值电压；

4、取得各所述阈值电压对应的单元数；

5、取得各所述阈值电压的累计占比；

6、计算所述累计占比为50％所对应的阈值电压，作为所述器件的目标阈值电压。

7、在一些实施例中，所述计算所述累计占比为50％所对应的阈值电压的步骤，包括：

8、取所述累计占比小于且最接近50％的所述阈值电压作为第一参考阈值电压，以及所述累计占比大于且最接近50％的所述阈值电压作为第二参考阈值电压；

9、对所述第一参考阈值电压和所述第二参考阈值电压进行线性拟合，得到累计占比为50％所对应的阈值电压作为目标阈值电压。

10、在一些实施例中，所述计算所述累计占比为50％所对应的阈值电压的步骤，包括：

11、取所述累计占比为50％所对应的阈值电压，作为所述器件的目标阈值电压。

12、在一些实施例中，所述测试器件中各单元的阈值电压的步骤，包括：

13、对所述单元施加测试电压；

14、记录所述单元在进入导通状态时的测试电压，并根据所述测试电压取得所述单元的阈值电压。

15、在一些实施例中，所述对各单元施加测试电压的步骤，包括：

16、设定测试起始电压和测试电压增量；

17、对所述单元由所述测试起始电压开始，从低至高逐步施加测试电压，相邻两步施加的所述测试电压的差值对应于所述测试电压增量。

18、在一些实施例中，所述根据所述测试电压取得所述单元的阈值电压的步骤，包括：

19、将所述单元进入导通状态时的测试电压作为所述单元的阈值电压。

20、在一些实施例中，所述记录所述单元在进入导通状态时的测试电压，并根据所述测试电压取得所述单元的阈值电压的步骤，包括：

21、记录所述单元进入导通状态时的测试电压，并依据所述单元的电气特性，取得一个小于该测试电压的电压作为所述阈值电压。

22、在一些实施例中，所述取得各所述阈值电压对应的所述单元数的累计占比的步骤，包括：

23、计算各所述阈值电压对应的所述单元数在总单元数中的占比；

24、统计小于或等于每个所述阈值电压的所述单元数的占比之和得到累计占比。

25、第二方面，本申请提供一种存储器目标阈值电压的测试装置，包括：

26、阈值电压测试模块，用于测试器件中各单元的阈值电压；

27、统计模块，用于取得各所述阈值电压对应的单元数，并取得各所述阈值电压的累计占比；

28、计算模块，用于计算所述累计占比为50％所对应的阈值电压，作为所述器件的目标阈值电压。

29、在一些实施例中，所述计算模块包括；

30、取出单元，用于取所述累计占比小于且最接近50％的所述阈值电压作为第一参考阈值电压，以及所述累计占比大于且最接近50％的所述阈值电压作为第二参考阈值电压；

31、拟合单元，用于对所述第一参考阈值电压和所述第二参考阈值电压进行线性拟合，得到累计占比为50％所对应的阈值电压作为目标阈值电压。

32、本申请提供一种存储器目标阈值电压的测试方法和测试装置，先测试器件中各单元的阈值电压，并取得各所述阈值电压对应的单元数，然后取得各所述阈值电压的累计占比，最后计算所述累计占比为50％所对应的阈值电压，作为所述器件的目标阈值电压。由于该测试方法是根据器件中各个单元的阈值电压得到累计占比50％所对应的阈值电压作为目标阈值电压，因此该目标阈值电压可以代表所有单元阈值电压的平均阈值电压，从而提高了测试器件目标阈值电压的精确性。

技术特征：

1.一种存储器目标阈值电压的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述计算所述累计占比为50％所对应的阈值电压的步骤，包括：

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述计算所述累计占比为50％所对应的阈值电压的步骤，包括：

4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试器件中各单元的阈值电压的步骤，包括：

5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述对各单元施加测试电压的步骤，包括：

6.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试电压取得所述单元的阈值电压的步骤，包括：

7.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述记录所述单元在进入导通状态时的测试电压，并根据所述测试电压取得所述单元的阈值电压的步骤，包括：

8.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述取得各所述阈值电压对应的所述单元数的累计占比的步骤，包括：

9.一种存储器目标阈值电压的测试装置，其特征在于，包括：

10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述计算模块包括；

技术总结本申请提供了一种存储器目标阈值电压的测试方法和测试装置，先测试器件中各单元的阈值电压，并取得各所述阈值电压对应的单元数，然后取得各所述阈值电压的累计占比，最后计算所述累计占比为50％所对应的阈值电压，作为所述器件的目标阈值电压。由于该测试方法是根据器件中各个单元的阈值电压得到累计占比50％所对应的阈值电压作为目标阈值电压，因此该目标阈值电压可以代表所有单元阈值电压的平均阈值电压，从而提高了测试器件目标阈值电压的精确性。技术研发人员：王雄,刘峻,杨海波,付志成,程阳受保护的技术使用者：新存科技（武汉）有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/7/29