基于光开关的自动倒换时间测量装置的制作方法

本技术涉及光通信，尤其涉及一种基于光开关的自动倒换时间测量装置。

背景技术：

1、光通信领域中，sdh及otn设备常常涉及到光路保护场景，相关标准要求保护倒换时间小于50毫秒。该指标是相关光通信设备重要的倒换指标，在各类测试场景中属于必测内容。测试光路倒换时间需要基于系统能够监测到信号失效或信号劣化的一个前提，当整个光路受故障影响才会产生倒换。

2、现有技术需要人工手动断光纤，通过断纤触发信号失效以实现业务发生倒换。其存在的问题比较明显，人工断纤的过程中光纤线路上光功率的衰耗取决于人为拔纤的速度。拔得越快，线路光功率可以很快从正常值减到最小，那么倒换时间也就越小；反之，由于拔纤速度的不确定性也造成了测试倒换时间结果的不确定性。测试倒换时间需要反复多次试验，人工断纤需要大量时间成本，并且多次拔插非常容易损坏光纤。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是提供一种基于光开关的自动倒换时间测量装置，提高工作效率，降低人工断纤引入的断纤时间不等、光纤损坏等不利因素。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种基于光开关的自动倒换时间测量装置，其特征在于，包括控制电路及光开关；所述控制电路包括芯片k1，其1脚连接电阻r1一端，电阻r1另一端连接vcc，芯片k1的2脚连接gnd，芯片k1的3脚连接gnd；熔断器f1一端连接电阻r1另一端，熔断器f1另一端连接usb连接器；电容c1一端连接r1一端，另一端连接gnd；轻触开关sw1的一侧连接gnd，轻触开关另一侧连接电容c1一端；电阻r2一端连接芯片k1的4脚，电阻r2另一端连接vcc；其中，芯片k1的4脚连接光开关，光开关的两端分别连接光纤。

3、与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：本实用新型使用光开光代替人工断纤测试，提高工作效率。降低人工断纤引入的断纤时间不等、光纤损坏等不利因素。

技术特征：

1.一种基于光开关的自动倒换时间测量装置，其特征在于，包括控制电路及光开关；

2.根据权利要求1所述的基于光开关的自动倒换时间测量装置，其特征在于，所述轻触开关为evqplha15开关。

3.根据权利要求1所述的基于光开关的自动倒换时间测量装置，其特征在于，芯片k1为g3vm-21ur10芯片。

技术总结本技术公开了一种基于光开关的自动倒换时间测量装置，包括控制电路及光开关；所述控制电路包括芯片K1，其1脚连接电阻R1一端，电阻R1另一端连接VCC，芯片K1的2脚连接GND，芯片K1的3脚连接GND；熔断器F1一端连接电阻R1另一端，熔断器F1另一端连接USB连接器；电容C1一端连接R1一端，另一端连接GND；轻触开关SW1的一侧连接GND，轻触开关另一侧连接电容C1一端；电阻R2一端连接芯片K1的4脚，电阻R2另一端连接VCC；其中，芯片K1的4脚连接光开关，光开关的两端分别连接光纤。本技术使用光开光代替人工断纤测试，提高工作效率。降低人工断纤引入的断纤时间不等、光纤损坏等不利因素。技术研发人员：马振雷,吴为东,田大伟受保护的技术使用者：上海辉电智能科技股份有限公司技术研发日：20231228技术公布日：2024/7/23