扫描补正方法、扫描设备及芯片与流程

本发明涉及扫描领域，具体涉及一种扫描补正方法、扫描设备及芯片。

背景技术：

1、现有的扫描设备，有一些采用的是接触式扫描，例如采用cis(contact imagesensor，接触式图像传感器)进行扫描，其由多个触点式感光元件组成，并采用这些触点式感光元件(例如光电传感器)进行感光，并将接收到的光信号转换为电信号。

2、具体地，在一些情况中，cis由光源阵列(light source)、微自聚焦棒状透镜阵列(rod lens array)、光电传感器阵列(cmos image sensor array)及其电路板、ic(integrated circuit)芯片、保护玻璃、接口、外壳等部分组成。当cis工作时，光源阵列发出的光线直射到待扫描物体表面，从其表面反射回的光线经微自聚焦棒状透镜阵列聚焦，成像在ic芯片上，被转化为电荷存储起来。

3、cis将接收到的光信号转换为电信号后，输出电信号至转换模块，例如afe(activefront end，模拟前端电路的缩写，是模拟信号传感器和数字信号处理器4之间的连接点)模块，进而转换模块将电信号转换成数字信号并输出。通常来说，该数字信号即是像素值，也就是，cis中光电传感器阵列的任一光电传感器扫描待扫描物体一次得到一个对应的像素值，则像素值是反映待扫描物体被当前光电传感器所扫描的区域的亮度。

4、由于光电传感器阵列中每一光电传感器的制造工艺会存在误差，即使每一光电传感器接收到的光信号的光强一样，其转化得到的电信号也不一样，进而导致由此得到的像素值也不一样，最终导致扫描得到的图像会出现斑点、有瑕疵，质量低下。

技术实现思路

1、为补正上述扫描偏差，本发明实施例提供一种扫描补正方法、扫描设备及芯片。

2、本发明实施例提供的扫描补正方法，应用于扫描设备中，所述扫描补正方法包括：对第一待扫描物体进行扫描，得到第一扫描数据；根据所述第一扫描数据，得到补正系数；对第二待扫描物体进行扫描，得到第二扫描数据；根据所述补正系数对所述第二扫描数据进行补正；其中，所述第一待扫描物体为专门用于扫描补正的待扫描物体，所述第二待扫描物体为所述扫描设备根据用户需求而扫描的待扫描物体。

3、本发明实施例提供的扫描设备，包括扫描模块、控制模块，其中，所述扫描模块用于对第一待扫描物体进行扫描，得到第一扫描数据，并输出所述第一扫描数据；所述控制模块用于接收所述第一扫描数据，并根据所述第一扫描数据，得到补正系数；所述扫描模块还用于对第二待扫描物体进行扫描，得到第二扫描数据，并输出所述第二扫描数据；所述控制模块还用于接收所述第二扫描数据，并根据所述补正系数对所述第二扫描数据进行补正；其中，所述第一待扫描物体为专门用于扫描补正的待扫描物体，所述第二待扫描物体为所述扫描设备根据用户需求而扫描的待扫描物体。

4、本发明实施例还提供一种扫描补正方法，该扫描补正方法应用于芯片中，所述芯片应用于扫描设备中，所述扫描设备包括扫描模块，所述扫描补正方法包括：接收来自所述扫描模块的第一扫描数据，根据所述第一扫描数据，得到补正系数；接收来自所述扫描模块的第二扫描数据，根据所述补正系数对所述第二扫描数据进行补正；其中，所述第一扫描数据为所述扫描模块对第一待扫描物体进行扫描后得到，所述第二扫描数据为所述扫描模块对第二待扫描物体进行扫描后得到，所述第一待扫描物体为专门用于扫描补正的待扫描物体，所述第二待扫描物体为所述扫描设备根据用户需求而扫描的待扫描物体。

5、本发明实施例提供的芯片，包括处理模块和第二存储模块，所述第二存储模块中存储有程序指令，所述程序指令用于供所述处理模块调用后执行包括但不限于本发明实施例提供的应用于芯片中的所述扫描补正方法。

6、在本发明实施例提供的扫描补正方法、扫描设备及芯片中，第一待扫描物体为专门用于扫描补正的待扫描物体，对第一待扫描物体进行扫描得到第一扫描数据，基于该第一扫描数据分析扫描模块的扫描偏差，进而基于此得到补正系数。而第二待扫描物体为扫描设备根据用户需求而扫描的待扫描物体，也即，第二待扫描物体可以是用户放置于扫描设备中并希望被扫描的待扫描物体，由于原始状态(即不作任何处理的状态)下扫描模块对第二待扫描物体扫描会出现扫描偏差，因而需要通过补正系数补正对第二待扫描物体进行扫描后得到的第二扫描数据，从而得到有关于第二待扫描物体更准确的扫描结果。

技术特征：

1.一种扫描补正方法，应用于扫描设备中，其特征在于，所述扫描补正方法包括：

2.根据权利要求1所述的扫描补正方法，其特征在于，所述对第一待扫描物体进行扫描，得到第一扫描数据，包括：

3.根据权利要求2所述扫描补正方法，其特征在于，所述根据所述第一扫描数据，得到补正系数，包括：根据所述第一扫描数据，分别得到所述第一数据矩阵中每一列数据前第一数量个数值最大的第一最大值和/或前第二数量个数值最小的第一最小值；

4.根据权利要求3所述扫描补正方法，其特征在于，所述根据所述第一扫描数据，分别得到所述第一数据矩阵中每一列数据前第一数量个数值最大的第一最大值和/或前第二数量个数值最小的第一最小值，包括：

5.根据权利要求4所述扫描补正方法，其特征在于，所述根据当前获得到的第一扫描数据组更新第一存储数据，包括：将当前获得到的第一扫描数据组存储，并作为所述第一存储数据的增添数据；

6.根据权利要求4所述扫描补正方法，其特征在于，所述第一存储数据包括根据所述第一数量及所述第一扫描数据组组成的第一最大值数据矩阵和/或根据所述第二数量及所述第一扫描数据组组成的第一最小值数据矩阵，所述第一最大值数据矩阵和/或所述第一最小值数据矩阵中的每一数据的初始值为各自对应的预设值；

7.一种扫描设备，其特征在于，所述扫描设备包括：

8.根据权利要求7所述的扫描设备，其特征在于，所述扫描模块包括至少一单元传感器，所述扫描模块用于对第一待扫描物体中的第一目标区域进行扫描，以获得第一扫描数据组；

9.根据权利要求8所述的扫描设备，其特征在于，所述控制模块包括：

10.根据权利要求9所述的扫描设备，其特征在于，所述控制模块还包括存储模块，所述存储模块存储有第一存储数据；

11.根据权利要求10所述的扫描设备，其特征在于，所述处理模块根据所述接收模块当前接收到的第一扫描数据组更新所述存储模块中的所述第一存储数据，包括：所述处理模块将所述接收模块当前接收到的第一扫描数据组存储至所述存储模块中，并作为所述第一存储数据的增添数据；

12.根据权利要求10所述的扫描设备，其特征在于，所述第一存储数据包括根据所述第一数量及所述第一扫描数据组组成的第一最大值数据矩阵和/或根据所述第二数量及所述第一扫描数据组组成的第一最小值数据矩阵，所述第一最大值数据矩阵和/或所述第一最小值数据矩阵中的每一数据的初始值为各自对应的预设值；

13.一种扫描补正方法，应用于芯片中，所述芯片应用于扫描设备中，其特征在于，所述扫描设备包括扫描模块，所述扫描补正方法包括：

14.根据权利要求13所述的扫描补正方法，其特征在于，所述接收来自所述扫描模块的第一扫描数据，包括：

15.根据权利要求14所述的扫描补正方法，其特征在于，所述根据所述第一扫描数据，得到补正系数，包括：

16.根据权利要求15所述的扫描补正方法，其特征在于，所述根据所述第一扫描数据，分别得到所述第一数据矩阵中每一列数据前第一数量个数值最大的第一最大值和/或前第二数量个数值最小的第一最小值，包括：

17.根据权利要求16所述的扫描补正方法，其特征在于，所述根据当前获得到的第一扫描数据组更新第一存储数据，包括：将当前获得到的第一扫描数据组存储，并作为所述第一存储数据的增添数据；

18.根据权利要求16所述的扫描补正方法，其特征在于，所述第一存储数据包括根据所述第一数量及所述第一扫描数据组组成的第一最大值数据矩阵和/或根据所述第二数量及所述第一扫描数据组组成的第一最小值数据矩阵，所述第一最大值数据矩阵和/或所述第一最小值数据矩阵中的每一数据的初始值为各自对应的预设值；

19.一种芯片，应用于扫描设备中，其特征在于，所述芯片包括处理器和存储器，所述存储器中存储有程序指令，所述程序指令用于供所述处理器调用后执行包括但不限于如权利要求13-18任一项所述的扫描补正方法。

技术总结本发明涉及扫描领域，具体涉及一种扫描补正方法、扫描设备及芯片。在本发明实施例提供的扫描补正方法、扫描设备及芯片中，第一待扫描物体为专门用于扫描补正的待扫描物体，对第一待扫描物体进行扫描得到第一扫描数据，基于该第一扫描数据分析扫描模块的扫描偏差，进而基于此得到补正系数。而第二待扫描物体为扫描设备根据用户需求而扫描的待扫描物体，也即，第二待扫描物体可以是用户放置于扫描设备中并希望被扫描的待扫描物体，由于原始状态(即不作任何处理的状态)下扫描模块对第二待扫描物体扫描会出现扫描偏差，因而需要通过补正系数补正对第二待扫描物体进行扫描后得到的第二扫描数据，从而得到有关于第二待扫描物体更准确的扫描结果。技术研发人员：刘镇洲,华中受保护的技术使用者：广州众诺微电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/25