一种基于电容和电阻的按键检测电路和按键检测方法与流程

本申请涉及按键检测，具体而言，涉及一种基于电容和电阻的按键检测电路和按键检测方法。

背景技术：

1、在相关技术中，芯片在进行按键输入设计时，通常会将一个按键对应一个芯片引脚。如图1所示，当一个按键对应一个芯片引脚时，为了对按键的按键状态进行检测，检测电路会对对应的芯片引脚施加一个弱电流上拉，若按键处于未按下状态，对应的芯片引脚会被拉至电源电压，若按键处于按下状态，对应的芯片引脚会被按键对应的电阻拉至地，通过检测芯片引脚在施加弱电流上拉时的电压，即可检测该芯片引脚对应按键的按键状态。

2、虽然相关技术中的检测电路能够对按键的按键状态进行检测，但是当芯片需要与较多按键连接时，会相应的增加较多的芯片引脚，大量的芯片引脚会增加芯片成本。

技术实现思路

1、本申请实施例至少提供一种基于电容和电阻的按键检测电路和按键检测方法，通过上述电路，能够在实现多个按键的按键状态的准确检测的前提下，使得多个按键能够共用一个芯片引脚，从而避免了额外增加的芯片引脚带来的成本。

2、第一方面，本申请提供了一种基于电容和电阻的按键检测电路，包括第一待检测按键、第二待检测按键、第一电阻、第一电容、按键测试芯片和控制器；

3、第一待检测按键和第一电阻串联组成第一待检测基本单元，第二待检测按键和所述第一电容串联组成第二待检测基本单元；

4、按键测试芯片包括第一芯片引脚，第一待检测基本单元和第二待检测基本单元分别与第一芯片引脚连接；

5、按键测试芯片包括复位模块、电流控制模块和比较锁存模块，复位模块与第一芯片引脚连接，电流控制模块与第一芯片引脚连接，比较锁存模块与第一芯片引脚连接，复位模块用于将第一芯片引脚复位至电源电压，电流控制模块用于对第一芯片引脚放电至地，所述比较锁存模块用于将在第一时间从所述第一芯片引脚获取的第一时间电压分别与第一参考电压和第二参考电压进行比较，以及将在第二时间从所述第一芯片引脚获取的第二时间电压分别与第一参考电压和第二参考电压进行比较，生成并锁存比较锁存结果，第一时间和第二时间为第一芯片引脚放电至地过程中的不同时间，第一参考电压和第二参考电压不同；

6、控制器用于控制复位模块将第一芯片引脚复位至电源电压，控制电流控制模块对第一芯片引脚放电，在第一时间控制比较锁存模块进行比较并在第二时间控制比较锁存模块进行比较，以便生成并锁存比较锁存结果，获取比较锁存结果，并根据比较锁存结果确定第一待检测按键和第二待检测按键分别对应的按键状态。

7、第二方面，本申请还提供了一种基于按键检测电路的按键检测方法，包括：

8、控制复位模块将第一芯片引脚复位至电源电压；

9、控制电流控制模块对第一芯片引脚放电；

10、在第一时间控制比较锁存模块进行比较并在第二时间控制比较锁存模块进行比较，以便生成并锁存比较锁存结果；

11、获取比较锁存结果，并根据比较锁存结果确定第一待检测按键和第二待检测按键分别对应的按键状态。

12、综上所述，本申请提供了一种基于电容和电阻的按键检测电路和按键检测方法，该电路包括第一待检测按键、第二待检测按键、第一电阻、第一电容、按键测试芯片和控制器；第一待检测按键和第一电阻串联组成第一待检测基本单元，第二待检测按键和第一电容串联组成第二待检测基本单元；按键测试芯片包括第一芯片引脚，第一待检测基本单元和第二待检测基本单元分别与第一芯片引脚连接；按键测试芯片包括复位模块、电流控制模块和比较锁存模块，复位模块与第一芯片引脚连接，电流控制模块与第一芯片引脚连接，比较锁存模块与第一芯片引脚连接，复位模块用于将第一芯片引脚复位至电源电压，电流控制模块用于对第一芯片引脚放电至地，比较锁存模块用于将在第一时间从第一芯片引脚获取的第一时间电压分别与第一参考电压和第二参考电压进行比较，以及将在第二时间从第一芯片引脚获取的第二时间电压分别与第一参考电压和第二参考电压进行比较，生成并锁存比较锁存结果，第一时间和第二时间为第一芯片引脚放电至地过程中的不同时间，第一参考电压和第二参考电压不同；控制器用于控制复位模块将第一芯片引脚复位至电源电压，控制电流控制模块对第一芯片引脚放电，在第一时间控制比较锁存模块进行比较并在第二时间控制比较锁存模块进行比较，以便生成并锁存比较锁存结果，获取比较锁存结果，并根据比较锁存结果确定第一待检测按键和第二待检测按键分别对应的按键状态。在上述电路中，第一待检测按键和第二待检测按键能够均与按键测试芯片的一个芯片引脚连接，通过电容的充放电特性能够对第一待检测按键和第二待检测按键的按键状态均进行检测。也就是说，通过上述电路能够在实现多个按键的按键状态的准确检测的前提下，使得多个按键能够共用一个芯片引脚，从而避免了额外增加的芯片引脚带来的成本。

13、本申请的其他优点将结合以下的说明和附图进行更详细的解说。

14、应当理解，上述说明仅是本申请技术方案的概述，以便能够总体了解本申请的技术手段，进而依照说明书的内容予以实施。为了让本申请的上述和其它目的、特征及优点能够更明显易懂，以下特举例说明本申请的具体实施方式。

技术特征：

1.一种基于电容和电阻的按键检测电路，其特征在于，所述电路包括第一待检测按键、第二待检测按键、第一电阻、第一电容、按键测试芯片和控制器；

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述比较锁存模块包括第一比较锁存器和第二比较锁存器，所述第一比较锁存器用于将在第一时间从所述第一芯片引脚获取的第一时间电压与所述第一参考电压进行比较，以及将在第二时间从所述第一芯片引脚获取的第二时间电压与所述第一参考电压进行比较，所述第二比较锁存器用于将在第一时间从所述第一芯片引脚获取的第一时间电压与所述第二参考电压进行比较，以及将在第二时间从所述第一芯片引脚获取的第二时间电压与所述第二参考电压进行比较，所述第一比较锁存器两次比较和所述第二比较锁存器两次比较后生成并锁存比较锁存结果。

3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述比较锁存模块包括单个比较锁存器，所述单个比较锁存器用于将在第一时间从所述第一芯片引脚获取的第一时间电压分别与所述第一参考电压和所述第二参考电压进行比较，以及将在第二时间从所述第一芯片引脚获取的第二时间电压分别与所述第一参考电压和所述第二参考电压进行比较，所述单个比较锁存器四次比较后生成并锁存比较锁存结果。

4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述第一待检测按键的一端连接电源，所述第一待检测按键的另一端与所述第一电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端与所述第一芯片引脚连接；

5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述第一电阻的一端连接至电源，所述第一电阻的另一端与所述第一待检测按键的一端连接，所述第一待检测按键的另一端与所述第一芯片引脚连接；

6.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述第一参考电压和所述第二参考电压满足下述公式：

7.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述第一时间和所述第二时间之间的间隔时长不小于所述第一电容的充放电所需时长。

8.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电路包括第三待检测按键、第四待检测按键、第五待检测按键、第六待检测按键、第二电阻、第三电阻、第二电容、第三电容、鼠标芯片和控制器：

9.一种基于权利要求1-8任一所述的按键检测电路的按键检测方法，其特征在于，所述方法包括：

技术总结本申请提供了一种基于电容和电阻的按键检测电路和按键检测方法，该电路包括第一待检测按键、第二待检测按键、第一电阻、第一电容、按键测试芯片和控制器，按键测试芯片中包括复位模块、电流控制模块和比较锁存模块。在上述电路中，第一待检测按键和第二待检测按键能够均与按键测试芯片的一个芯片引脚连接，通过电容的充放电特性能够对第一待检测按键和第二待检测按键的按键状态均进行检测。也就是说，通过上述电路能够在实现多个按键的按键状态的准确检测的前提下，使得多个按键能够共用一个芯片引脚，从而避免了额外增加的芯片引脚带来的成本。技术研发人员：黄福军,李志谦,杨磊受保护的技术使用者：天津希格玛微电子技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/29